一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法技术方案

本发明专利技术涉及集成电路测试技术领域，特别涉及一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，包括信号驱动模块和自动测试系统；所述信号驱动模块通过接入所述自动测试系统产生的方波信号DDD，输出可调幅度的方波信号SIG，并作为输入信号分别接入到被测电路和所述自动测试系统的时间测量单元TMU的A通道TMU_CHA，被测电路的输出信号接入到所述时间测量单元TMU的B通道TMU_CHB，所述时间测量单元TMU根据A通道TMU_CHA和B通道TMU_CHB的输入信号计算出传输延迟时间。本发明专利技术通过设计信号驱动模块，增强交流输入信号驱动能力，提高方波信号斜率，可以减小传输延迟测试误差，提高传输延迟测试精度，简单易用。简单易用。简单易用。

【技术实现步骤摘要】
一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法


[0001]本专利技术涉及集成电路测试
，特别涉及一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法。

技术介绍

[0002]数模混合自动测试系统在测试直流参数和交流参数时需通过继电器切换到对应的直流资源与交流资源，传输延迟是关键的交流参数，在测试传输延迟时自动测试系统的信号发生单元提供方波信号至待测IC和时间测量单元TMU，由于继电器和TMU产生的寄生电容原因，信号发生单元的驱动能力有限，因此方波信号斜率会减小，从而导致在测试纳秒级传输延迟时会产生较大误差。

技术实现思路

[0003]本专利技术需要解决的技术问题是通过设计信号驱动模块，增强交流输入信号驱动能力，提高方波信号斜率，本方法可以提高传输延迟测试精度。
[0004]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，包括：信号驱动模块和自动测试系统；所述信号驱动模块通过接入所述自动测试系统产生的方波信号DDD，将其驱动能力增强，输出可调幅度的方波信号SIG，并作为输入信号分别接入到被测电路和所述自动测试系统的时间测量单元TMU的A通道TMU_CHA，被测电路的输出信号接入到所述时间测量单元TMU的B通道TMU_CHB，所述时间测量单元TMU根据A通道TMU_CHA和B通道TMU_CHB的输入信号计算出传输延迟时间。
[0005]优选的，所述信号驱动模块包括：驱动器U1、电阻RC1、电阻R11、电阻R12和电容C9；所述驱动器U1的脚1连接有所述电阻RC1，所述方波信号DDD经所述电阻RC1输入，所述驱动器U1的脚2和脚3共同接地GND，所述驱动器U1的脚4和脚5分别接入所述电阻R11和所述电阻R12后共同产生方波信号SIG，所述驱动器U1的脚6和脚7共同接入电源电压VDD、电容C9，所述电容C9的另一端接地GND，所述驱动器U1的脚8接地GND。
[0006]优选的，所述驱动器U1为高速低边MOSFET驱动器，最大负载能力可达10A。
[0007]优选的，所述被测电路为待测IC电路U2，所述待测IC电路U2的脚1作为输入信号输入，所述待测IC电路U2的脚2、脚5和脚6分别接地GND，所述待测IC电路U2的脚3接入电源电压VCC，所述待测IC电路U2的脚4作为输出信号输出。
[0008]优选的，还包括继电器K1和继电器K2；所述方波信号SIG经所述继电器K1的脚4输入，所述继电器K1的脚3与所述待测IC电路U2的脚1相连；所述待测IC电路U2的脚4与所述继电器K2的脚3相连，所述继电器K2的脚4与所述B通道TMU_CHB相连。
[0009]优选的，还包括如下：
[0010]当测试直流参数时，所述继电器K1和所述继电器K2保持断开状态，待测IC电路U2的输入脚和输出脚分别接入所述自动测试系统的直流源；
[0011]当测试传输延迟等交流参数时，所述继电器K1和所述继电器K2保持闭合状态，所
述方波信号SIG通过所述继电器K1接入所述待测IC电路U2的输入脚，所述待测IC电路U2的输出脚产生方波信号，并通过所述继电器K2接入到所述B通道TMU_CHB。
[0012]本专利技术与现有技术相比，具有以下有益效果：
[0013]1)本专利技术通过设计信号驱动模块，增强交流输入信号驱动能力，提高方波信号斜率，可以减小传输延迟测试误差，提高传输延迟测试精度，简单易用。
[0014]2)本专利技术设计的信号驱动模块使用时，只需将其输入端IN+接到自动测试系统的DDD信号通道，电源电压VDD接到自动测试系统的直流源，编写程序可控制输出方波信号SIG的幅度和频率。本专利技术的方法可以将输入信号的上升时间缩短约15纳秒，有效提高测试精度。
附图说明
[0015]图1为本专利技术的某款集成电路传输延迟的测试原理图。
[0016]图2为本专利技术的传输延迟的测试具体电路图。
[0017]图3为本专利技术的增加信号驱动模块前后的传输延迟波形示意图。
具体实施方式
[0018]以下结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本专利技术的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本专利技术实施例的目的。
[0019]如图1
‑
3所示，本专利技术实施例提供了一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，可用于测量精度要求较高的传输延迟。其中：
[0020]图1所示为传输延迟测试原理图，自动测试系统产生的DDD信号接入信号驱动模块，将信号能力增强，输入至被测电路和自动测试系统的时间测量单元作为起始信号START，被测电路的输出信号也接入到时间测量单元作为结束信号STOP，时间数字转换器TDC将START和STOP的差值显示出来，就是传输延迟的测试结果。
[0021]图2所示为传输延迟的测试具体电路图，U1为某高速低边MOSFET驱动器，最大负载能力可达10A，U2为待测电路，K1和K2为继电器。K1继电器用于切换待测电路的输入源，K2继电器用于切换待测电路输出信号的测试源。VDD为MOSFET驱动器的电源电压，通过电容C9(0.1uF)接到GND，VCC为待测电路的电源电压，VDD和VCC均由自动测试系统提供，DDD为自动测试系统产生的方波信号，作为U1的输入信号，中间串联0欧姆电阻RC1用于抑制噪声，U1的输出脚连接2欧姆电阻R11和R12，U1可产生与DDD相同频率，幅度与VDD相同的方波信号SIG，SIG信号同时接入继电器K1和时间测量单元的A通道TMU_CHA。当测试直流参数时，K1、K2继电器保持断开状态，待测电路的输入脚和输出脚分别接入自动测试系统的直流源。当测试传输延迟等交流参数时，闭合K1、K2继电器，SIG通过继电器K1接入待测电路U2的输入脚，待测电路U2的输出脚OUT产生方波信号，并通过继电器K2接入到时间测量单元的B通道TMU_CHB。自动测试系统的时间测量单元TMU根据A通道和B通道的输入信号计算出传输延迟时间。
[0022]图3所示为增加信号驱动模块前后的传输延迟波形，INPUT为待测IC的输入信号，OUTPUT为待测IC的输出信号，TD为传输延迟，无信号驱动模块的输入信号上升较缓，从而导
致测得的传输延迟TD较大，增加信号驱动模块后，输入信号的方波斜率明显提高，TD测试值变小，提高了测试精度，信号驱动模块可有效增强自动测试系统方波信号的驱动能力，提高输入信号方波斜率，使传输延迟测试测试更加准确。
[0023]此模块使用时只需将IN+接到自动测试系统的DDD通道，VDD接到自动测试系统的直流源，编写程序可控制输出方波的幅度和频率。本方法可以将输入信号的上升时间缩短约15纳秒，有效提高测试精度。
[0024]上述描述仅是对本专利技术较佳实施例的描述，并非对本专利技术范围的任何限定，本专利
的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰，均属于权利要求书的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，其特征在于，包括：信号驱动模块和自动测试系统；所述信号驱动模块通过接入所述自动测试系统产生的方波信号DDD，输出可调幅度的方波信号SIG，并作为输入信号分别接入到被测电路和所述自动测试系统的时间测量单元TMU的A通道TMU_CHA，被测电路的输出信号接入到所述时间测量单元TMU的B通道TMU_CHB，所述时间测量单元TMU根据A通道TMU_CHA和B通道TMU_CHB的输入信号计算出传输延迟时间。2.如权利要求1所述的一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，其特征在于，所述信号驱动模块包括：驱动器U1、电阻RC1、电阻R11、电阻R12和电容C9；所述驱动器U1的脚1连接有所述电阻RC1，所述方波信号DDD经所述电阻RC1输入，所述驱动器U1的脚2和脚3共同接地GND，所述驱动器U1的脚4和脚5分别接入所述电阻R11和所述电阻R12后共同产生方波信号SIG，所述驱动器U1的脚6和脚7共同接入电源电压VDD、电容C9，所述电容C9的另一端接地GND，所述驱动器U1的脚8接地GND。3.如权利要求2所述的一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，其特征在于，所述驱动器U1为高速低边MOSFET驱动器，最大负载能力达10A。4.如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：李灿，程法勇，王建超，郭晓宇，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十八研究所，
类型：发明
国别省市：