一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法技术方案

本发明专利技术涉及集成电路测试技术领域，特别涉及一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，包括信号驱动模块和自动测试系统；所述信号驱动模块通过接入所述自动测试系统产生的方波信号DDD，输出可调幅度的方波信号SIG，并作为输入信号分别接入到被测电路和所述自动测试系统的时间测量单元TMU的A通道TMU_CHA，被测电路的输出信号接入到所述时间测量单元TMU的B通道TMU_CHB，所述时间测量单元TMU根据A通道TMU_CHA和B通道TMU_CHB的输入信号计算出传输延迟时间。本发明专利技术通过设计信号驱动模块，增强交流输入信号驱动能力，提高方波信号斜率，可以减小传输延迟测试误差，提高传输延迟测试精度，简单易用。简单易用。简单易用。

【技术实现步骤摘要】
一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法


[0001]本专利技术涉及集成电路测试
，特别涉及一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法。

技术介绍

[0002]数模混合自动测试系统在测试直流参数和交流参数时需通过继电器切换到对应的直流资源与交流资源，传输延迟是关键的交流参数，在测试传输延迟时自动测试系统的信号发生单元提供方波信号至待测IC和时间测量单元TMU，由于继电器和TMU产生的寄生电容原因，信号发生单元的驱动能力有限，因此方波信号斜率会减小，从而导致在测试纳秒级传输延迟时会产生较大误差。

技术实现思路

[0003]本专利技术需要解决的技术问题是通过设计信号驱动模块，增强交流输入信号驱动能力，提高方波信号斜率，本方法可以提高传输延迟测试精度。
[0004]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，包括：信号驱动模块和自动测试系统；所述信号驱动模块通过接入所述自动测试系统产生的方波信号DDD，将其驱动能力增强，输出可调幅度的方波信号SIG，并作为输入信号分别接入到被测电路和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，其特征在于，包括：信号驱动模块和自动测试系统；所述信号驱动模块通过接入所述自动测试系统产生的方波信号DDD，输出可调幅度的方波信号SIG，并作为输入信号分别接入到被测电路和所述自动测试系统的时间测量单元TMU的A通道TMU_CHA，被测电路的输出信号接入到所述时间测量单元TMU的B通道TMU_CHB，所述时间测量单元TMU根据A通道TMU_CHA和B通道TMU_CHB的输入信号计算出传输延迟时间。2.如权利要求1所述的一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，其特征在于，所述信号驱动模块包括：驱动器U1、电阻RC1、电阻R11、电阻R12和电容C9；所述驱动器U1的脚1连接有所述电阻RC1，所述方波信号DDD经所述电阻RC1输入，所述驱动器U1的脚2和脚3共同接地GND，所述驱动器U1的脚4和脚5分别接入所述电阻R11和所述电阻R12后共同产生方波信号SIG，所述驱动器U1的脚6和脚7共同接入电源电压VDD、电容C9，所述电容C9的另一端接地GND，所述驱动器U1的脚8接地GND。3.如权利要求2所述的一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，其特征在于，所述驱动器U1为高速低边MOSFET驱动器，最大负载能力达10A。4.如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：李灿，程法勇，王建超，郭晓宇，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十八研究所，
类型：发明
国别省市：