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本发明涉及集成电路测试技术领域，特别涉及一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，包括信号驱动模块和自动测试系统；所述信号驱动模块通过接入所述自动测试系统产生的方波信号DDD，输出可调幅度的方波信号SIG，并作为输入信号分别接入到被测电路...
该专利属于中国电子科技集团公司第五十八研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第五十八研究所授权不得商用。

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