一种光电差动式自动触发测头制造技术

本发明专利技术公开的一种光电差动式自动触发测头，属于几何量参数测量领域。本发明专利技术包括一级滑动机构、二级滑动机构、测力平衡单元、光电触发模块、测针单元。一级滑动机构由一级滑动台与四组交叉循环轴承组件组成；二级滑动机构由二级滑动台与三个V型轴承组件组成；测力平衡单元由弹力调节件、弹簧、滑动机构紧固组件组成。通过一级滑台机构和二级滑台机构带动测头相对于基准面发生相对移动，由于测头受到接触力作用，使测力平衡单元处于非“平衡”状态，使滑动机构发生相对位移变化，当光电触发模块偏移量达到设定阈值后，产生触发信号，配合完成被测工件的一维高度值的高精度锁存。本发明专利技术能够为几何量参数测量设备提供高精度、高重复性的瞄准信号。的瞄准信号。的瞄准信号。

【技术实现步骤摘要】
一种光电差动式自动触发测头


[0001]本专利技术属于几何量参数测量领域，具体涉及一种光电差动式自动触发测头。

技术介绍

[0002]我国装备制造特别是高端装备制造业，对零件的机械加工精度要求越来越高，同时也对加工零件的几何参数的测量提出了更高要求。测高仪作为几何量参数测量的通用仪器，主要用于测量工件一维尺寸，解决零部件高度方向的高精度测量问题。而高精度触发测头作为测高仪的关键组成部分，触发重复性指标的好坏直接决定测高仪的技术指标。触发测头的核心功能是要实现测端在接触被测工件时产生高精度触发瞄准信号，以实现测高仪对当前高度值的锁存，从而获得被测工件的高度方向的一维尺寸。
[0003]目前市面上现有的成熟的测长、测高类几何量测量仪器或装置的触发测头实现方案主要两类：
[0004]1)采用杠杆测头+人眼，手动瞄准的方式。此类应用主要针对低端型的测长、测高类几何量测量仪器的应用，最典型的应用垂直度检查仪、低端测高仪。通过人眼实时监测测量接触位移量的变化，来判断是否达到接触阈值力大小，从而实现测量。
[0005]2)采用测力(传本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光电差动式自动触发测头，其特征在于：主要包括一级滑动机构、二级滑动机构、测力平衡单元、光电触发模块和测针单元；所述一级滑动机构由一级滑动台(1)，以及固定在一级滑动台(1)上的四组交叉循环轴承组件组成；所述二级滑动机构由二级滑动台(2)，以及固定在二级滑动台(2)上的三个V型轴承组件组成；所述测力平衡单元由弹力调节件(3)、弹簧(4)和滑动机构紧固组件组成；弹簧一端固定在一级滑动台(1)上，另一端固定在二级滑动台(2)；弹力调节件(3)固定安装在连接二级滑动台(2)上，实现动态平衡的调节；所述滑动机构紧固组件由锁紧杆(5)、限位片(6)组成；限位片(6)一端固定在一级滑动台(1)上，另一端固定在二级滑动台(2)，锁紧杆(5)穿过限位片(6)上端槽孔，固定在二级滑动台(2)上；所述光电触发模块(7)由光栅传感器单元和光栅读数头单元组成；光栅传感器单元和光栅读数头分别与一级滑动台(1)和/或二级滑动台(2)固定连接；所述测针单元由测头安装座(8)、测针座(9)、测座锁紧旋钮(10)、测针(11)、测针锁紧旋钮(12)组成；测头安装座(8)固定安装在一级滑动台(1)上；测针座(9)固定在测头安装座(8)上，通过测座锁紧旋钮(10)实现对测针座(9)的锁紧；测针(11)固定安装在测针座(9)上，并通过测针锁紧旋钮(12)进行固定。2.如权利要求1所述的一种光电差动式自动触发测头，其特征在于：所述一级滑动机构由一级滑动台(1)与四组交叉循环轴承组件组成，四组交叉循环轴承分别固定在一级滑动台(1)的四个角上。3.如权利要求2所述的一种光电差动式自动触发测头，其特征在于：所述一级滑动台(1)通过四组交叉循环轴承支撑在滑动导轨上，并沿导轨的垂直方向运动。4.如权利要求1所述的一种光电差动式自动触发测头，其特征在于：...

【专利技术属性】
技术研发人员：李昆，何学军，崔派，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：