【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于应变片，具体涉及一种应变片电阻值批量化自动测量装置及方法。
技术介绍
1、电阻应变片的工作原理基于应变对电阻的影响，当外部施加的力或应变作用于电阻应变片时，金属敏感栅丝发生形变，从而引起电阻值的变化，进而反映物体所受到的应力或变形。传统的电阻应变片电阻值测量方法主要包括两种：一种以人工通过显微镜观测，使用探针手动接触栅丝两端的焊接点进行测量，或者利用欧姆表或其他电阻测量仪器，将测量探针连接至电阻应变片两端的焊接点进行测试。但是手动检测的方式准确性不稳定，重复性差。另一种是利用自动化探针台进行自动化检测。自动化探针台能够通过计算机控制探针的定位，实现精确接触，并自动完成电阻值的测量。但是，现有的自动化探针台通常需要复杂的机械结构和多轴控制系统，设备成本较高，且安装、调试过程繁琐。此外，自动化探针台能够实现精确的单次测试，但在大规模生产环境中，批量测试的效率仍然不高。每个器件都需要逐一定位和测试，虽然机械臂可以精确执行这一任务，但操作速度仍然相对较慢。
技术实现思路
1、本专利技...
【技术保护点】
1.一种应变片电阻值批量化自动测量装置，其特征在于，包括测量模板、测量电路以及微控制器，
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测量模板的第一层和第二层上分别设置有盲孔，所述测量模板上设置有贯通第一层和第二层的通孔；
3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，测量模板包括多种样式，用于匹配不同规格和形状的应变片阵列；各探针对在测量模板上可活动地设置，能够根据应变片阵列中应变片的排布方式进行排布。
4.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，所述测量模板的第一层的正面还设置有定位标记，所述定位标记用于定位应变片阵列中的各
【技术特征摘要】
1.一种应变片电阻值批量化自动测量装置，其特征在于，包括测量模板、测量电路以及微控制器，
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测量模板的第一层和第二层上分别设置有盲孔，所述测量模板上设置有贯通第一层和第二层的通孔；
3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，测量模板包括多种样式，用于匹配不同规格和形状的应变片阵列；各探针对在测量模板上可活动地设置，能够根据应变片阵列中应变片的排布方式进行排布。
4.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，所述测量模板的第一层的正面还设置有定位标记，所述定位标记用于定位应变片阵列中的各应变片。
5.根据权利要求1或2所述的装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：赵印明，黎永前，夏博文，王玲璐，张毅治，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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