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本发明公开了一种应变片电阻值批量化自动测量装置及方法，所述装置包括测量模板、测量电路以及微控制器，测量模板用于承载被测应变片阵列，将应变片阵列与测量电路连通，测量模板第一层的正面设置有阵列排布的探针对；测量模板第二层的正面设置有正极引线，测...该专利属于中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所授权不得商用。