DRAM中门控脉冲信号的校正方法和装置制造方法及图纸

本申请提供一种DRAM中门控脉冲信号的校正方法和装置，属于存储器技术领域，所述方法包括：基于DRAM的时钟周期确定最大相位偏移量，并基于最大相位偏移量确定相位调节步长；基于相位调节步长对初始门控脉冲信号进行相位调节以得到第一和第二门控脉冲信号集合；分别基于第一和第二门控脉冲信号集合中的门控脉冲信号对当前校正节点对应的数据选通信号进行采样以得到第一和第二采样值序列；基于第一和第二采样值序列确定门控脉冲信号的相位校正值，对初始门控脉冲信号进行校正以得到目标门控脉冲信号，并将目标门控脉冲信号作为当前校正节点对应的门控脉冲信号，能在不影响DRAM工作的情况下进行校正，提高DRAM的工作效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
DRAM中门控脉冲信号的校正方法和装置


[0001]本申请涉及存储器
，尤其涉及一种DRAM中门控脉冲信号的校正方法和装置。

技术介绍

[0002]在对动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)颗粒的内存进行读操作时，存储控制器需要基于存储单元生成的数据选通信号(Bidirectional data strobe，DQS)对内存中的数据进行读取。为了确保读取数据的准确性，需获取准确的DQS有效信号。
[0003]针对该问题，现有技术会通过存储控制器输出一个和DQS有效信号等长的门控脉冲信号(即DQS gating信号)以对存储单元输出的DQS信号进行门控操作得到门控DQS信号(即gated DQS信号)，并基于gatedDQS信号进行数据读取。为了确保gatedDQS信号为准确的DQS有效信号，需要预先对DQSgating信号进行训练。DQSgating信号的训练过程为：对DRAM颗粒的内存进行多次读操作，每次读操作对应的DQS gating信号的相位不同，将最终读取的数据与预期数据进行比对以确定读操作是否正确，并将读操作正确时对应的DQSgating信号的相位作为后续读操作的门控脉冲信号相位。
[0004]采用上述方式能够最大限度保证对DRAM颗粒中的数据进行准确读取。然而DRAM在实际工作过程中，tdqsck参数会在设计规范规定的范围内随着温度电压的变化而动态变化，即DQS信号的相位会动态变化，因此DQS gating信号的相位需要重新训练以确保获取准确的DQS有效信号。然而由于DQS gating信号的训练过程耗时较长，且需要暂停对DRAM的正常访问，因此，频繁的DQS gating信号训练将导致DRAM的工作效率严重降低。

技术实现思路

[0005]本申请提供一种DRAM中门控脉冲信号的校正方法和装置，以用于解决现有门控脉冲信号的校正方式降低DRAM的工作效率的问题。
[0006]本申请提供一种DRAM中门控脉冲信号的校正方法，所述方法包括：
[0007]基于DRAM的时钟周期确定最大相位偏移量，并基于所述最大相位偏移量确定相位调节步长；
[0008]基于所述相位调节步长对初始门控脉冲信号进行相位调节以得到第一门控脉冲信号集合和第二门控脉冲信号集合；所述初始门控脉冲信号为上一校正节点对应的门控脉冲信号；
[0009]分别基于所述第一门控脉冲信号集合和所述第二门控脉冲信号集合中的门控脉冲信号对当前校正节点对应的数据选通信号进行采样以得到第一采样值序列和第二采样值序列；
[0010]基于所述第一采样值序列和第二采样值序列确定门控脉冲信号的相位校正值，基于所述相位校正值对所述初始门控脉冲信号进行校正以得到目标门控脉冲信号，并将所述
目标门控脉冲信号作为当前校正节点对应的门控脉冲信号。
[0011]根据本申请提供的一种DRAM中门控脉冲信号的校正方法，所述最大相位偏移量为DRAM的时钟周期的一半对应的相位偏移量，相应的，所述相位调节步长为所述最大相位偏移量与预设的相位调节档位数的商。
[0012]根据本申请提供的一种DRAM中门控脉冲信号的校正方法，所述基于所述相位调节步长对初始门控脉冲信号进行相位调节以得到第一门控脉冲信号集合和第二门控脉冲信号集合，具体包括：
[0013]基于所述相位调节步长将初始门控脉冲信号向左偏移N次以得到第一门控脉冲信号集合，并基于所述相位调节步长将初始门控脉冲信号向右偏移N次以得到第二门控脉冲信号集合；其中，N为所述预设的相位调节档位数。
[0014]根据本申请提供的一种DRAM中门控脉冲信号的校正方法，所述第一门控脉冲信号集合中包括N次向左偏移对应的N个门控脉冲信号，所述第二门控脉冲信号集合中包括N次向右偏移对应的N个门控脉冲信号。
[0015]根据本申请提供的一种DRAM中门控脉冲信号的校正方法，所述分别基于所述第一门控脉冲信号集合和所述第二门控脉冲信号集合中的门控脉冲信号对当前校正节点对应的数据选通信号进行采样以得到第一采样值序列和第二采样值序列，具体包括：
[0016]基于所述第一门控脉冲信号集合中的N个门控脉冲信号的上升沿分别对当前校正节点对应的数据选通信号进行采样以得到对应的第一采样值集合，并基于所述第一采样值集合中各采样值对应的门控脉冲信号相对于初始门控脉冲信号的相位偏移量，对所述第一采样值集合中的各采样值进行排序以得到第一采样值序列；
[0017]基于所述第二门控脉冲信号集合中的N个门控脉冲信号的上升沿分别对当前校正节点对应的数据选通信号进行采样以得到对应的第二采样值集合，并基于所述第二采样值集合中各采样值对应的门控脉冲信号相对于初始门控脉冲信号的相位偏移量，对所述第二采样值集合中的各采样值进行排序以得到第二采样值序列。
[0018]根据本申请提供的一种DRAM中门控脉冲信号的校正方法，所述基于所述第一采样值序列和第二采样值序列确定门控脉冲信号的相位校正值，具体包括：
[0019]基于所述第一采样值序列和第二采样值序列确定所述初始门控脉冲信号的当前相位偏移方向和相位偏移量；
[0020]基于所述初始门控脉冲信号的当前相位偏移方向和相位偏移量确定门控脉冲信号的相位校正值。
[0021]根据本申请提供的一种DRAM中门控脉冲信号的校正方法，所述基于所述第一采样值序列和第二采样值序列确定所述初始门控脉冲信号的当前相位偏移方向和相位偏移量，具体包括：
[0022]在所述第一采样值序列中的采样值均为0，第二采样值序列中的采样值均为1的情况下，判断所述初始门控脉冲信号无偏移；
[0023]在所述第一采样值序列和第二采样值序列中的采样值均包括0和1的情况下，基于所述第一采样值序列和第二采样值序列中0和1的位置及数量确定所述初始门控脉冲信号的当前相位偏移方向和相位偏移量。
[0024]本申请还提供一种DRAM中门控脉冲信号的校正装置，所述装置包括：
[0025]第一确定模块，用于基于DRAM的时钟周期确定最大相位偏移量，并基于所述最大相位偏移量确定相位调节步长；
[0026]门控脉冲信号集合生成模块，用于基于所述相位调节步长对初始门控脉冲信号进行相位调节以得到第一门控脉冲信号集合和第二门控脉冲信号集合；所述初始门控脉冲信号为上一校正节点对应的门控脉冲信号；
[0027]采样值序列生成模块，用于分别基于所述第一门控脉冲信号集合和所述第二门控脉冲信号集合中的门控脉冲信号对当前校正节点对应的数据选通信号进行采样以得到第一采样值序列和第二采样值序列；
[0028]信号校正模块，用于基于所述第一采样值序列和第二采样值序列确定门控脉冲信号的相位校正值，基于所述相位校正值对所述初始门控脉冲信号进行校正以得到目标门控脉冲信号，并将所述目标门控脉冲信号作为当前校正节点对应的门控脉冲信号。
[0029]本申请还提供一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种DRAM中门控脉冲信号的校正方法，其特征在于，所述方法包括：基于DRAM的时钟周期确定最大相位偏移量，并基于所述最大相位偏移量确定相位调节步长；基于所述相位调节步长对初始门控脉冲信号进行相位调节以得到第一门控脉冲信号集合和第二门控脉冲信号集合；所述初始门控脉冲信号为上一校正节点对应的门控脉冲信号；分别基于所述第一门控脉冲信号集合和所述第二门控脉冲信号集合中的门控脉冲信号对当前校正节点对应的数据选通信号进行采样以得到第一采样值序列和第二采样值序列；基于所述第一采样值序列和第二采样值序列确定门控脉冲信号的相位校正值，基于所述相位校正值对所述初始门控脉冲信号进行校正以得到目标门控脉冲信号，并将所述目标门控脉冲信号作为当前校正节点对应的门控脉冲信号。2.根据权利要求1所述的DRAM中门控脉冲信号的校正方法，其特征在于，所述最大相位偏移量为DRAM的时钟周期的一半对应的相位偏移量，相应的，所述相位调节步长为所述最大相位偏移量与预设的相位调节档位数的商。3.根据权利要求2所述的DRAM中门控脉冲信号的校正方法，其特征在于，所述基于所述相位调节步长对初始门控脉冲信号进行相位调节以得到第一门控脉冲信号集合和第二门控脉冲信号集合，具体包括：基于所述相位调节步长将初始门控脉冲信号向左偏移N次以得到第一门控脉冲信号集合，并基于所述相位调节步长将初始门控脉冲信号向右偏移N次以得到第二门控脉冲信号集合；其中，N为所述预设的相位调节档位数。4.根据权利要求3所述的DRAM中门控脉冲信号的校正方法，其特征在于，所述第一门控脉冲信号集合中包括N次向左偏移对应的N个门控脉冲信号，所述第二门控脉冲信号集合中包括N次向右偏移对应的N个门控脉冲信号。5.根据权利要求4所述的DRAM中门控脉冲信号的校正方法，其特征在于，所述分别基于所述第一门控脉冲信号集合和所述第二门控脉冲信号集合中的门控脉冲信号对当前校正节点对应的数据选通信号进行采样以得到第一采样值序列和第二采样值序列，具体包括：基于所述第一门控脉冲信号集合中的N个门控脉冲信号的上升沿分别对当前校正节点对应的数据选通信号进行采样以得到对应的第一采样值集合，并基于所述第一采样值集合中各采样值对应的门控脉冲信号相对于初始门控脉冲信号的相位偏移量，对所述第一采样值集合中的各采样值进行排序以得到第一采样值序列；基于所述第二门控脉冲信号集合中的N个门控脉冲信号的上升沿分别对当前校正节点对应的数据选通信号进行采样以得到对应的第二采样值集合，并基...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱阔，王晓阳，
申请(专利权)人：上海奎芯集成电路设计有限公司，
类型：发明
国别省市：