晶体管自动化光学检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种晶体管自动化光学检测装置，包括上料部、转运部及检测部；上料部设置有供转运部夹持料管的上料工位，检测部分别从料管透明的第一表面、第二表面和第三表面检测料管内部晶体管的三个待检测面；转运部包括平移机构、旋转机构及夹持机构；夹持机构夹持位于上料工位的料管，平移机构带动夹持机构在上料部与检测部之间平移，旋转机构带动夹持机构在水平面与垂直面切换；平移机构与旋转机构相配合使料管的第一表面、第二表面和第三表面依次被送至检测部。通过平移机构与旋转机构相配合，使夹持机构夹持的料管的第一表面、第二表面和第三表面连续性地依次被送至检测部，从而节省了检测的准备时间，提高了工作效率。提高了工作效率。提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】
晶体管自动化光学检测装置


[0001]本技术涉及晶体管缺陷检测设备，具体地说是一种晶体管自动化光学检测装置。

技术介绍

[0002]自动光学检测(英文全称：Automated Optical Inspection，英文缩写为AOI)，是基于光学原理来对产品外观的常见缺陷进行检测的技术。AOI设备通过摄像头自动扫描产品，采集图像，将产品上待检测的区域与数据库中的合格参数进行比较，经过图像处理，检查出产品的缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示或标示出来，供维修人员修整。
[0003]利用AOI技术检测晶体管时，晶体管带引脚的一端的端面及正反两个表面都是需要检测缺陷的。现有技术中，会采用旋转夹持组件将晶体管夹持并依次旋转两次，将三个待检测面分别送至同一检测工位，完成晶体管的缺陷检测。这样虽然也能实现自动化光学检测，但是每次都需要先将检测完的晶体管送至下料工位后，才会继续抓取新的晶体管，存在工作效率低的问题。

技术实现思路

[0004]本技术针对现有的AOI设备工作效率低的问题，提供一种工作效率高的晶体管自动化光学检测装置。
[0005]本技术的技术方案如下：一种晶体管自动化光学检测装置，用于对晶体管的三个待检测面进行检测，该晶体管自动化光学检测装置包括上料部、转运部及检测部；其中：
[0006]上料部被配置为存储堆叠的多根料管，料管内并排装有待检测的晶体管，料管的第一表面、第二表面和第三表面均透明且分别与料管内晶体管的三个待检测面相对；
[0007]上料部设置有供转运部夹持料管的上料工位，检测部被配置为分别从料管透明的第一表面、第二表面和第三表面检测料管内部晶体管的三个待检测面；
[0008]转运部包括平移机构、旋转机构及夹持机构，夹持机构安装在旋转机构的活动端，旋转机构安装在平移机构的活动端；夹持机构被配置为夹持位于上料工位的料管，平移机构被配置为带动夹持机构在上料部与检测部之间平移，旋转机构被配置为带动夹持机构在水平面与垂直面切换；
[0009]平移机构与旋转机构相配合使料管的第一表面、第二表面和第三表面依次被送至检测部。
[0010]通过配置包括平移机构、旋转机构及夹持机构的转运部，平移机构与旋转机构相配合，使夹持机构夹持的料管的第一表面、第二表面和第三表面连续性地依次被送至检测部，从而节省了检测的准备时间，提高了工作效率。
[0011]可选地，检测部包括第一检测组件和第二检测组件，第一检测组件用于分别检测料管的第一表面和第三表面，第二检测组件用于检测料管的第二表面。
[0012]检测部包括两个检测组件，可使处于相同高度位置的料管的第一表面和第三表面由第一检测组件检测，使处于另一高度位置的料管的第二表面由第二检测组件检测，两个检测组件的位置在检测前可分别调整固定，在检测时不用重新调整，可节约检测时间。
[0013]可选地，料管的第一表面与第三表面相对，夹持机构包括背向安装在旋转机构活动端的第一夹持组件和第二夹持组件，第一夹持组件和第二夹持组件分别用于单独夹持一根料管；
[0014]第一夹持组件夹持的料管在被检测第三表面时，第二夹持组件从上料工位夹持另一根料管；
[0015]第二夹持组件夹持的料管在被检测第三表面时，第一夹持组件从上料工位夹持另一根料管。
[0016]夹持机构包括两个夹持组件，其中的一个夹持组件夹持的料管位于检测工位时，另一个夹持组件从上料工位夹持另一根料管，实现了两根料管的同步进给，提高了工作效率。
[0017]可选地，晶体管自动化光学检测装置还包括位于检测部后道的打标部，打标部被配置为在不合格晶体管对应的料管表面打上标记，打标部设置有用于接收检测后料管的转运工位；
[0018]第一夹持组件夹持的料管在被检测第一表面时，第二夹持组件夹持的料管处于转运工位；
[0019]第二夹持组件夹持的料管在被检测第一表面时，第一夹持组件夹持的料管处于转运工位。
[0020]通过配置打标部，可在不合格晶体管对应的料管表面打上标记，便于不合格晶体管的后续处理。
[0021]可选地，第一检测组件和第二检测组件间隔设置在平移机构的平移路径上方；
[0022]第一夹持组件夹持的料管平移至第一检测组件下方时，第一检测组件检测料管的第一表面或第三表面；
[0023]旋转机构用于带动第一夹持组件翻转90
°
，使料管的第二表面转动至第二检测组件的下方，第二检测组件用于检测料管的第二表面。
[0024]通过间隔设置第一检测组件和第二检测组件，使两个检测组件的位置分别与旋转前后的每个夹持组件的夹持位置相对应，便于检测部检测料管的相邻两个表面，即第一表面与第二表面或者第二表面与第三表面。
[0025]可选地，上料部包括规整组件、缓存组件和移载组件，其中，
[0026]缓存组件用于存放多根堆叠放置的料管；
[0027]移载组件用于从缓存组件取出料管并放入规整组件；
[0028]规整组件用于接收料管并使料管处于上料工位。
[0029]通过缓存组件暂存料管，可降低移载组件的等待时间，提高移载组件的移载效率；通过规整组件规整料管，使料管能精确地位于上料位置，可避免移载组件的转运误差，降低故障率。
[0030]可选地，规整组件设置有位于上料工位两侧的两个承载座，两个承载座沿着平移机构平移方向的第一侧设置有定位台阶，两个承载座沿着平移机构平移方向的第二侧设置
有可相对定位台阶移动的顶块；
[0031]规整组件还包括基准板、规整板及规整板驱动件，基准板与规整板分别位于两个承载座沿着垂直于平移机构平移方向的外侧，规整板安装在规整板驱动件上，规整板驱动件带动规整板相对于基准板移动。
[0032]通过定位台阶与基准板作为基准，通过顶块与规整板的移动来规整料管，使料管在水平面上定位，方便转运部准确地抓取。
[0033]可选地，打标部包括打标器组、打标器平移模组、料管运输线、托料组件及抬升组件；
[0034]抬升组件安装于料管运输线外，托料组件安装于料管运输线上方；料管运输线被配置为接收及输送从转运部传输来的料管，转运工位设置在料管运输线的进料端，抬升组件被配置为将料管从料管运输线抬升至托料组件，托料组件被配置为托住并定位料管；
[0035]打标器平移模组安装于托料组件上方；打标器组安装在打标器平移模组的活动端，打标器平移模组被配置为带动打标器组移动到托料组件上方；打标器组包括多个打标器及打标器升降件，打标器安装在打标器升降件的活动端，打标器升降件带动各自的打标器升降并在料管上打标。
[0036]通过抬升组件将料管从料管运输线抬升至托料组件，通过打标器平移模组将打标器组移动到托料组件上方，并由打标器升降件带动打标器升降而实现在料管上打标；打标时，料管不会偏移，可实现打标器的正常打标。
[0037]可选地，晶体管自动化光学检测装置还包括收料部，收料部安装在打标部的后道工本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，用于对晶体管的三个待检测面进行检测，所述晶体管自动化光学检测装置包括上料部、转运部及检测部；其中：所述上料部被配置为存储堆叠的多根料管，所述料管内并排装有待检测的晶体管，所述料管的第一表面、第二表面和第三表面均透明且分别与所述料管内晶体管的三个待检测面相对；所述上料部设置有供所述转运部夹持所述料管的上料工位，所述检测部被配置为分别从所述料管透明的第一表面、第二表面和第三表面检测所述料管内部晶体管的三个待检测面；所述转运部包括平移机构、旋转机构及夹持机构，所述夹持机构安装在所述旋转机构的活动端，所述旋转机构安装在所述平移机构的活动端；所述夹持机构被配置为夹持位于所述上料工位的所述料管，所述平移机构被配置为带动所述夹持机构在所述上料部与所述检测部之间平移，所述旋转机构被配置为带动所述夹持机构在水平面与垂直面切换；所述平移机构与所述旋转机构相配合使所述料管的第一表面、第二表面和第三表面依次被送至所述检测部。2.根据权利要求1所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述检测部包括第一检测组件和第二检测组件，所述第一检测组件用于分别检测所述料管的第一表面和第三表面，所述第二检测组件用于检测所述料管的第二表面。3.根据权利要求2所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述料管的第一表面与第三表面相对，所述夹持机构包括背向安装在所述旋转机构活动端的第一夹持组件和第二夹持组件，所述第一夹持组件和第二夹持组件分别用于单独夹持一根料管；所述第一夹持组件夹持的料管在被检测第三表面时，所述第二夹持组件从所述上料工位夹持另一根料管；所述第二夹持组件夹持的料管在被检测第三表面时，所述第一夹持组件从所述上料工位夹持另一根料管。4.根据权利要求3所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述晶体管自动化光学检测装置还包括位于所述检测部后道的打标部，所述打标部被配置为在不合格晶体管对应的料管表面打上标记，所述打标部设置有用于接收检测后所述料管的转运工位；所述第一夹持组件夹持的料管在被检测第一表面时，所述第二夹持组件夹持的料管处于所述转运工位；所述第二夹持组件夹持的料管在被检测第一表面时，所述第一夹持组件夹持的料管处于所述转运工位。5.根据权利要求3所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述第一检测组件和第二检测组件间隔设置在所述平移机构的平移路径上方；所述第一夹持组件夹持的所述料管平移至所述第一检测组件下方时，所述第一检测组件检测所述料管的第一表面或第三表面；所述旋转机构用于带动所述第一夹持组件翻转90
°
，使所述料管的第二表面转动至所述第二检测组件的下方，所述第二检测组件用于检测所述料管的第二表面。6.根据权利要求1所述的晶体管自动化光学检测装置，其特征在于，所述上料部包括规整组件、缓存组件和移载组件，其中，
所述缓存组件用于存放多根堆叠放置的所述料管；所述移载组件用于从所述缓存组件取出所述料...

【专利技术属性】
技术研发人员：任景辉，韩忠，
申请(专利权)人：无锡奥特维光学应用有限公司，
类型：新型
国别省市：