一种测试装置及其接线防呆方法和测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种测试装置及其接线防呆方法和测试方法，通过第i有源测试线路处的反馈信号与第i防呆元件相关，来确定第i有源测试线路与第i有源测试端匹配相连；及通过第i测试芯片输出的无源测试信号，判断出第i无源测试线路执行相关测试时，确定第i无源测试线路与第i无源测试端匹配相连，进而实现了测试板与测试机的接线防呆检测，节约了测试成本，提高了测试效率，避免了失效待测器件被误判为良好器件的情况出现。器件的情况出现。器件的情况出现。

【技术实现步骤摘要】
一种测试装置及其接线防呆方法和测试方法


[0001]本专利技术涉及接线防呆相关
，更为具体地说，涉及一种测试装置及其接线防呆方法和测试方法。

技术介绍

[0002]在半导体芯片的ATE(Automatic Test Equipment，自动测试设备)量产测试中，对于一些需要人为操作接线的测试机平台来说，需要人为接线使测试机和测试板之间正确的连接起来，但是人为接线就存在误接的可能性，一旦测试线被误接，极有可能造成误测混料的风险，而使失效芯片被当成良好的芯片流向客户，因此需要一种工位检测的防呆技术来杜绝这种情况的发生。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术提供了一种测试装置及其接线防呆方法和测试方法，有效解决现有技术存在的技术问题，实现了测试板与测试机的接线防呆检测，节约了测试成本，提高了测试效率，避免了失效待测器件被误判为良好器件的情况出现。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供的技术方案如下：
[0005]一种测试装置，包括：
[0006]测试机，所述测试机包括第一有源测试线路至第N本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试装置，其特征在于，包括：测试机，所述测试机包括第一有源测试线路至第N有源测试线路，及第一无源测试线路至第N无源测试线路，N为大于或等于2的整数；第一测试板至第N测试板，第i测试板包括与第i有源测试线路接线匹配的第i有源测试端，及与第i无源测试线路接线匹配的第i无源测试端，所述第i有源测试端与所述第i无源测试端均与第i测试芯片电连接，且所述第i有源测试端与第i防呆元件相连，i为大于或等于1且小于或等于N的整数。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述第i防呆元件为第i防呆电阻，所述第i有源测试端与第i防呆电阻的第一端电连接，所述第i防呆电阻的第二端与接地端电连接，其中，第一防呆电阻至第N防呆电阻的阻值均不相同。3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，第一测试芯片至第N测试芯片为相互独立的测试芯片。4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，第一测试芯片至第N测试芯片复用为同一测试芯片。5.一种测试装置的接线防呆方法，其特征在于，应用于权利要求1
‑
4任意一项所述的测试装置，接线防呆方法包括：将所述第i测试板的第i有源测试端与所述测试机的有源测试线路相连，及将所述第i测试板的第i无源测试端与所述测试机的无源测试线路相连；所述测试机控制所述第i有源测试线路输出防呆信号至与其相连的测试板的有源测试端；判断所述第i有源测试线路处的反馈信号是否为所述第i防呆元件根据所述防呆信号生成，若是，则确定所述第i有源测试端与所述第i有源测试线路匹配相连，并进入下一步骤；若否，则将所述第i有源测试端与所述测试机的有源测试线路重新相连，直至确定所述第i有源测试线路处的反馈信号为所述防呆元件根据所述防呆信号生成，并进入下一步骤；所述测试机控制所述第i有源测试线路为所述第i测试芯片供电，且控制其余有源测试线路停止为与其相连的测试芯片供电；所述第i测试芯片输出无源测试信号至所述第i无源测试端；判断所述第i无源测试线路是否根据所述无源测试信号执行相关测试，若是，则确定所述第i无源测试端与所述第i无源测试线路匹配相连；若否，则将所述第i无源测试端与所述测试机的无源测试线路重新相连，直至确定所述第i无源测试线路根据所述无源测试信号执行相关测...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈立志，李成建，袁誉，沈峰，朱逸杰，
申请(专利权)人：上海艾为电子技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：