一种卷材表面缺陷的检测方法和装置制造方法及图纸

技术编号:38382353 阅读:8 留言:0更新日期:2023-08-05 17:39
本发明专利技术公开了一种卷材表面缺陷的检测方法和装置,该方法包括:按预设采样频率对经过预设图像采集区域的卷材进行图像采集,并获取采集到的存在缺陷区域的当前缺陷图像;根据缺陷区域在当前缺陷图像中的位置确定与缺陷区域对应的缺陷坐标;若当前缺陷坐标和至少一个上次缺陷坐标之间满足预设同一缺陷判定条件,保存当前缺陷坐标;若已保存的缺陷坐标中存在目标集合,确定卷材上与目标集合对应的缺陷为周期性缺陷,其中,目标集合中包括达到第一预设数量的目标缺陷坐标,且各目标缺陷坐标之间满足预设同一缺陷判定条件,从而在保证准确性的基础上,实现了更加高效的对卷材中出现的周期性缺陷进行检测。期性缺陷进行检测。期性缺陷进行检测。

【技术实现步骤摘要】
一种卷材表面缺陷的检测方法和装置


[0001]本申请涉及材料表面检测领域,更具体地,涉及一种卷材表面缺陷的检测方法和装置。

技术介绍

[0002]卷材为如薄膜、布匹、纸张、金属板带箔等长尺寸连续的材料,在加工处理过程中,缺陷是不可避免的,比如在轧制过程中,铝板带箔表面的一层保护膜会被轧辊磨掉,并重新形成新的保护膜。这种过程与表面氧化腐蚀形成的腐蚀坑类似,因此轧制时容易产生表面缺陷。另外,由于轧辊与铝板带箔表面的摩擦力存在周期性变化,在轧制时如果不能很好地将该摩擦力转化成滑动摩擦,也容易产生周期性缺陷。
[0003]目前使用的表面缺陷检测设备都是由图像采集设备和图像处理部分两大部分组成,其中,在图像处理部分中,对于材料表面的缺陷检测方式有很多,但大多是基于非周期性的缺陷检测,而对于周期性缺陷,缺乏简单有效的检测方式。
[0004]因此,如何更加高效的对卷材中出现的周期性缺陷进行检测,是目前有待解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提出了一种卷材表面缺陷的检测方法和装置,用以更加高效的对卷材中出现的周期性缺陷进行检测。
[0006]一方面,提供一种卷材表面缺陷的检测方法,所述方法包括:按预设采样频率对经过预设图像采集区域的卷材进行图像采集,并获取采集到的存在缺陷区域的当前缺陷图像;根据所述缺陷区域在所述当前缺陷图像中的位置确定与所述缺陷区域对应的缺陷坐标;若当前缺陷坐标和至少一个上次缺陷坐标之间满足预设同一缺陷判定条件,保存所述当前缺陷坐标,其中,所述上次缺陷坐标为与上次缺陷区域对应的缺陷坐标,所述上次缺陷区域位于上一次采集到的缺陷图像中;若已保存的缺陷坐标中存在目标集合,确定所述卷材上与所述目标集合对应的缺陷为周期性缺陷,其中,所述目标集合中包括达到第一预设数量的目标缺陷坐标,且各所述目标缺陷坐标之间满足所述预设同一缺陷判定条件。
[0007]另一方面,提供一种卷材表面缺陷的检测装置,所述装置包括:采集模块,用于按预设采样频率对经过预设图像采集区域的卷材进行图像采集,并获取采集到的存在缺陷区域的当前缺陷图像;第一确定模块,用于根据所述缺陷区域在所述当前缺陷图像中的位置确定与所述缺陷区域对应的缺陷坐标;保存模块,用于若当前缺陷坐标和至少一个上次缺陷坐标之间满足预设同一缺陷判定条件,保存所述当前缺陷坐标,其中,所述上次缺陷坐标为与上次缺陷区域对应的缺陷坐标,所述上次缺陷区域位于上一次采集到的缺陷图像中;第二确定模块,用于若已保存的缺陷坐标中存在目标集合,确定所述卷材上与所述目标集合对应的缺陷为周期性缺陷,其中,所述目标集合中包括达到第一预设数量的目标缺陷坐标,且各所述目标缺陷坐标之间满足所述预设同一缺陷判定条件。
[0008]通过应用以上技术方案,按预设采样频率对经过预设图像采集区域的卷材进行图像采集,并获取采集到的存在缺陷区域的当前缺陷图像;根据所述缺陷区域在所述当前缺陷图像中的位置确定与所述缺陷区域对应的缺陷坐标;若当前缺陷坐标和至少一个上次缺陷坐标之间满足预设同一缺陷判定条件,保存所述当前缺陷坐标,其中,所述上次缺陷坐标为与上次缺陷区域对应的缺陷坐标,所述上次缺陷区域位于上一次采集到的缺陷图像中;若已保存的缺陷坐标中存在目标集合,确定所述卷材上与所述目标集合对应的缺陷为周期性缺陷,其中,所述目标集合中包括达到第一预设数量的目标缺陷坐标,且各所述目标缺陷坐标之间满足所述预设同一缺陷判定条件,从而在保证准确性的基础上,实现了更加高效的对卷材中出现的周期性缺陷进行检测。
附图说明
[0009]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0010]图1示出了本专利技术实施例提出的一种卷材表面缺陷的检测方法的流程示意图;图2示出了本专利技术实施例中将缺陷图像划分为九个子区域的示意图;图3示出了本专利技术实施例中确定每个子区域中缺陷坐标的数量的代码逻辑示意图;图4示出了本专利技术实施例提出的一种卷材表面缺陷的检测装置的结构示意图。
具体实施方式
[0011]下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
[0012]本申请可用于众多通用或专用的计算装置环境或配置中。例如:个人计算机、服务器计算机、手持设备或便携式设备、平板型设备、多处理器装置、包括以上任何装置或设备的分布式计算环境等等。
[0013]本申请可以在由计算机执行的计算机可执行指令的一般上下文中描述,例如程序模块。一般地,程序模块包括执行特定任务或实现特定抽象数据类型的例程、程序、对象、组件、数据结构等等。也可以在分布式计算环境中实践本申请,在这些分布式计算环境中,由通过通信网络而被连接的远程处理设备来执行任务。在分布式计算环境中,程序模块可以位于包括存储设备在内的本地和远程计算机存储介质中。
[0014]本申请实施例提供一种卷材表面缺陷的检测方法,如图1所示,该方法包括以下步骤:步骤S101,按预设采样频率对经过预设图像采集区域的卷材进行图像采集,并获取采集到的存在缺陷区域的当前缺陷图像。
[0015]本实施例中,可基于传送辊或传送带按预设传输方向对卷材进行传输,在传输过
程中,卷材会经过预设图像采集区域,预设图像采集区域的上方设置有图像采集设备,图像采集设备可包括CCD相机、滤色镜和LED光源。图像采集设备按预设采样频率对卷材进行图像采集,得到相应的图像,然后基于预设缺陷检测算法判断当前图像中是否存在缺陷区域,若存在,则将当前图像作为存在缺陷区域的当前缺陷图像。其中,基于预设缺陷检测算法判断当前图像中是否存在缺陷区域的具体过程为现有技术,在此不再赘述。
[0016]为了更加可靠的进行图像采集,在一些实施例中,在按预设采样频率对经过预设图像采集区域的卷材进行图像采集之前,所述方法还包括:连接预设相机并加载相机参数,所述相机参数包括所述预设相机的序列号、类型和配置文件。
[0017]步骤S102,根据所述缺陷区域在所述当前缺陷图像中的位置确定与所述缺陷区域对应的缺陷坐标。
[0018]本实施例中,当前缺陷图像存在一个或多个缺陷区域,不同的缺陷区域位于当前缺陷图像中的不同位置,根据缺陷区域在当前缺陷图像中的位置可确定相应的缺陷坐标。
[0019]可选的,缺陷区域在当前缺陷图像中的位置为缺陷区域的中心在当前缺陷图像中的位置,即缺陷坐标为缺陷区域的中心坐标。另外,本领域技术人员可根据需要灵活从当前缺陷图像的不同位置确定与各缺陷坐标对应的坐标原点,例如,当前缺陷图像为矩形时,将当前缺陷图像的一个角作为坐标原点。
[0020]步骤S10本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种卷材表面缺陷的检测方法,其特征在于,所述方法包括:按预设采样频率对经过预设图像采集区域的卷材进行图像采集,并获取采集到的存在缺陷区域的当前缺陷图像;根据所述缺陷区域在所述当前缺陷图像中的位置确定与所述缺陷区域对应的缺陷坐标;若当前缺陷坐标和至少一个上次缺陷坐标之间满足预设同一缺陷判定条件,保存所述当前缺陷坐标,其中,所述上次缺陷坐标为与上次缺陷区域对应的缺陷坐标,所述上次缺陷区域位于上一次采集到的缺陷图像中;若已保存的缺陷坐标中存在目标集合,确定所述卷材上与所述目标集合对应的缺陷为周期性缺陷,其中,所述目标集合中包括达到第一预设数量的目标缺陷坐标,且各所述目标缺陷坐标之间满足所述预设同一缺陷判定条件。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,预先设置基于容器引擎的第一容器和第二容器,所述保存所述当前缺陷坐标,包括:将所述当前缺陷坐标保存在所述第一容器;若所述第二容器中存在不连续坐标,从所述第二容器中删除所述不连续坐标,其中,所述不连续坐标与所述第一容器中各缺陷坐标之间均不满足所述预设同一缺陷判定条件;将所述第一容器中的各缺陷坐标存入所述第二容器,并清空所述第一容器。3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,在将所述第一容器中的各缺陷坐标存入所述第二容器之后,所述方法还包括:将所述第二容器中的各缺陷坐标按坐标值的大小进行排序;根据排序结果判断是否存在所述目标集合。4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设同一缺陷判定条件为:两个缺陷坐标之间的距离小于预设距离。5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在根据所述缺陷区域在所述当前缺陷图像中的位置确定与所述缺陷区域对应的缺陷坐标之后,所述方法还包括:按预设划分规则将所述当前缺陷图像划分为多个大小一致的子区域;若各所述子区域中存在目标子区域,确定所述卷材上与所述目标子区域对应的缺陷为密集型缺陷,其中,所述目标子区域中所述缺陷坐标的数量达到...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨牧李莉赵亮李建福张董陈建文孟宪金
申请(专利权)人:钛玛科北京工业科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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