集成电路芯片分选系统及其集成电路芯片感应方法技术方案

本发明专利技术提供了一种集成电路芯片分选系统及其集成电路芯片感应方法，集成电路芯片分选系统包括进料装置、进料轨道、多工位检测装置与良品储存装置，良品储存装置一侧设有不良储存装置，多工位检测装置与进料轨道之间设有进给分料装置，多工位检测装置与良品储存装置和不良储存装置之间设有判断分料装置；进料轨道靠近分料装置一端依次设有红外感应装置与夹持机构；红外感应装置包括红外发射器与红外接收器，红外发射器与红外接收器呈相互倾斜设置，红外发射器发射的光在进料轨道上反射后进入红外接收器。采用红外发射器发射的光在进料轨道上反射后进入红外接收器，其解决了现有集成电路芯片分选系统中存在红外感应装置安装精度要求较高的技术问题。精度要求较高的技术问题。精度要求较高的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
集成电路芯片分选系统及其集成电路芯片感应方法


[0001]本专利技术涉及集成电路芯片检测
，尤其涉及集成电路芯片分选系统及其集成电路芯片感应方法。

技术介绍

[0002]在工厂芯片插板前通常需要对集成电路芯片进行测试，以防止集成电路芯片损坏造成电路板无法使用，因此出现集成电路芯片分选系统，用于集成电路芯片的测试，并且对检测好的集成电路芯片进行分选，即将良品放到一起储存，不良品放到一起储存。
[0003]具体如公开号为209577434U的中国专利文件于2019年11月5日公开的自动化IC测试分选设备，其中记载安装于机架的上料装置、测试装置和分选收料装置，机架包括垂直设置的第一安装板以及与第一安装板的底部连接且倾斜设置的第二安装板，IC料管装夹于上料装置，通过上料装置将IC料管内的未测试的IC芯片供给测试装置测试，测试完毕后通过分选收料装置分类并收纳于多个空料管内。本技术通过翻转夹持有IC料管的夹持机构，使其变为垂直状态，从而使IC料管内的IC芯片滑出至垂直料道，挡压机构控制IC芯片能够单个给测试装置上料，测试夹头夹取IC芯片并将其本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路芯片分选系统，其特征在于：包括自上而下设置的进料装置、进料轨道、多工位检测装置与良品储存装置，所述良品储存装置一侧设有不良储存装置，所述多工位检测装置与进料轨道之间设有进给分料装置，所述多工位检测装置与良品储存装置和不良储存装置之间设有判断分料装置；所述进料轨道靠近分料装置一端依次设有红外感应装置与夹持机构；所述红外感应装置包括红外发射器与红外接收器，所述红外发射器与红外接收器呈相互倾斜设置，所述红外发射器发射的光在进料轨道上反射后进入红外接收器。2.如权利要求1所述的集成电路芯片分选系统，其特征在于：所述进料轨道与进料装置之间设有机械手，所述进料装置包括平行设置的料管储存箱与废管储存箱以及设置在两者之间的进料传送气缸，所述料管储存箱与废管储存箱都竖直依次叠放料管。3.如权利要求2所述的集成电路芯片分选系统，其特征在于：所述料管储存箱与废管储存箱底部相互靠近一侧设有开口，废管储存箱底部靠近开口位置的侧壁上设有凸起，所述进料传送气缸上设有活动条，所述活动条靠近料管储存箱一侧设有进料凹槽，所述活动条靠近废管储存箱一侧设有传送推边，所述废管储存箱的开口底部设有推起气缸。4.如权利要求1所述的集成电路芯片分选系统，其特征在于：所述良品储存装置包括平行设置的空管储存箱与良品管储存箱以及设置在两者之间的良...

【专利技术属性】
技术研发人员：何纪法，史鲁军，
申请(专利权)人：绍兴宏邦电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：