一种LED晶粒外观检测装置制造方法及图纸

技术编号:38277414 阅读:10 留言:0更新日期:2023-07-27 10:28
本发明专利技术公开了一种LED晶粒外观检测装置,包括支架,支架的上表面固定连接防尘罩,防尘罩的内上表面固定连接有喷头,防尘罩的内上表面固定连接有密封器,密封器的内部滑动连接有活塞,密封器的圆周面设置有进气单向阀和排气单向阀,且进气单向阀的一端和喷头上表面之间固定连接有连接管,支架的内部转动连接有转杆,转杆的圆周面之间传动连接有运输带,本发明专利技术中,方便使用者进行安装LED晶粒并可以精准的将LED晶粒送至检测仪的下方从而可以自动进行检测,减轻了工作人员检测的工作强度从而可以提高工作人员对LED晶粒检测的效率,并且可以通过喷头对LED晶粒表面进行清理,从而避免LED晶粒表面含有灰尘从而影响检测结果。LED晶粒表面含有灰尘从而影响检测结果。LED晶粒表面含有灰尘从而影响检测结果。

【技术实现步骤摘要】
一种LED晶粒外观检测装置


[0001]本专利技术涉及检测设备
,具体涉及一种LED晶粒外观检测装置。

技术介绍

[0002]LED晶粒在晶片上创建后,必须检验是否有表明缺陷,例如裂缝、碎片和黑点,因为这些缺陷可能会对LED的质量和性能产生负面影响。因为这些类型的缺陷各有差异,并且可能出现在各种位置,所以使用基于规则的机器视觉无法进行高速检验。此外,由于不影响LED质量的正常畸变也会出现,所以系统务必忽略这些微小的缺陷。鉴于每天处理的LED晶粒的大小和数量,人工检查既不高效也不实用。
[0003]LED晶粒外观检测主要是LED晶粒外观完整性的检测,目前通常用全自动的外观检测设备进行外观质检,但是,现有技术中,LED晶粒外观检测设备存在以下问题:在对LED晶粒外观检测检测时,LED晶粒外观覆盖灰尘容易影响检测结果,并且在进行下料操作时,需要工作人员将合格和不合格的LED晶粒进行筛选放置,当需要LED晶粒较多时,容易造成工作人员疲惫的问题。

技术实现思路

[0004]为了克服上述的技术问题,本专利技术的目的在于提供一种LED晶粒外观检测装置来解决在对LED晶粒外观检测检测时,LED晶粒外观覆盖灰尘容易影响检测结果,并且在进行下料操作时,需要工作人员将合格和不合格的LED晶粒进行筛选放置,当需要LED晶粒较多时,容易造成工作人员疲惫的问题。
[0005]本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现:
[0006]一种LED晶粒外观检测装置,包括支架,所述支架的上表面固定连接防尘罩,所述防尘罩的内上表面固定连接有喷头,所述防尘罩的内上表面固定连接有密封器,所述密封器的内部滑动连接有活塞,所述密封器的圆周面设置有进气单向阀和排气单向阀,且进气单向阀的一端和喷头上表面之间固定连接有连接管,所述支架的内部转动连接有转杆,所述转杆的圆周面之间传动连接有运输带,所述运输带的上表面固定连接有多个放置架,所述放置架的内部滑动连接有移动板,所述移动板的一端设置有限位杆,所述移动板的上表面固定连接有顶杆,所述支架的上表面固定连接有限位板,所述限位板的内部设置有限位槽,所述防尘罩的内部外表面设置有传动机构,所述活塞通过传动机构驱动转杆间歇转动,所述防尘罩的一端设置有下料机构。
[0007]进一步在于:所述传动机构包括转动连接在防尘罩上表面的转盘,所述转盘的上表面转动连接有连杆,且连杆的另一端和活塞的一端转动连接,所述支架的一侧转动连接有驱动轮,所述转杆的一端固定连接有从动轮。
[0008]进一步在于:所述传动机构还包括固定连接在防尘罩的一侧的第一电机,所述第一电机的输出段和转盘的圆周面均固定连接有第一带轮,所述电机的另一输出端固定连接有蜗杆,所述防尘罩的一侧转动连接有蜗轮,且蜗轮和蜗杆相互啮合,所述蜗轮的转动端和
驱动轮的转动端均固定连接有第二带轮,且第二带轮之间、第一带轮之间通过皮带传动连接。
[0009]进一步在于:所述限位杆的两端分别在限位槽的内部滑动连接,且限位杆的尺寸和限位槽的尺寸相匹配,所述限位槽包括上升段、平行段和下降段。
[0010]进一步在于:所述放置板的内部设置有放置槽,所述移动板的上表面和放置架的内壁之间固定连接有弹簧。
[0011]进一步在于:所述下料机构包括固定连接在防尘罩一端的第二电机,所述第二电机的输出端固定连接有推板。
[0012]进一步在于:所述防尘罩的前面固定连接有控制器,所述防尘罩的内上表面固定连接有检测仪,所述第一电机、第二电机、检测仪均和控制器电性连接。
[0013]进一步在于:所述支架的上表面固定连接有挡板,所述挡板的一端和放置架的两侧均为倾斜设置,且倾斜角度相同,所述挡板的竖直段为弹性材料制成。
[0014]一种LED晶粒外观检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
[0015]S1:通过控制器驱动第一电机、第二电机、检测仪进行通电工作;
[0016]S2:将种LED晶粒对应放置槽定位放在放置架的内部;
[0017]S3:第一电机通过传动机构驱动驱动轮带动从动轮间歇转动将放置架送至喷头的下方,密封器通过连接管送入清洁气流对LED晶粒表面进行清理操作,清洁完成后,放置架运动至检测仪下进行检测操作,检测仪利用机器视觉来对LED晶粒的缺陷进行检测,机器视觉包括图像采集单元和图像处理单元,通过图像采集单元采集被测LED晶粒的图像,然后通过图像处理单元对图像进行处理,并最终得到LED晶粒的缺陷情况;
[0018]S4:检测仪进行分析LED晶粒表面是否发生损坏,当放置架运动出防尘罩的一端后,此时顶杆将LED晶粒顶出,当LED晶粒发生损坏后,第二电机转动将推板反转将LED晶粒推至一侧,当LED晶粒未损坏,第二电机带动推板正转来将LED晶粒推至相反一侧进行收集。
[0019]本专利技术的有益效果:
[0020]1、通过设置有防尘罩,密封器、驱动轮、从动轮和传动机构,可以间歇带动运输带来对LED晶粒进行运输操作,从而方便使用者进行安装LED晶粒并可以精准的将LED晶粒送至检测仪的下方从而可以自动进行检测,减轻了工作人员检测的工作强度从而可以提高工作人员对LED晶粒检测的效率,并且可以通过喷头对LED晶粒表面进行清理,从而避免LED晶粒表面含有灰尘从而影响检测结果。
[0021]2、通过设置有放置架和下料机构,在检测过程中,LED晶粒位于放置槽的内部进行定位来防止发生移动,当检测完成后,顶杆带动LED晶粒上升脱离放置槽的内部,并通过第二电机带动推板转动从而对合格的LED晶粒进行筛选,方便进行上料和下料操作并且可以自动将合格的LED晶粒进行筛选操作,提高了LED晶粒检测的效率。
附图说明
[0022]下面结合附图对本专利技术作进一步的说明。
[0023]图1是本专利技术的整体结构示意图;
[0024]图2是本专利技术的内部结构剖视图;
[0025]图3是本专利技术的放置架的结构剖视图;
[0026]图4是本专利技术图限位板的结构示意图;
[0027]图5是本专利技术传动机构的结构示意图。
[0028]图中:1、支架;2、转杆;3、运输带;4、放置架;5、放置槽;6、移动板;7、顶杆;8、限位杆;9、弹簧;10、滑槽;11、限位板;12、限位槽;121、上升段;122、平行段;123、下降段;13、第一电机;14、第一带轮;15、转盘;16、连杆;17、密封器;18、活塞;19、排气单向阀;20、连接管;21、喷头;22、蜗杆;23、进气单向阀、24、蜗轮;25、第二带轮;26、驱动轮;27、从动轮;28、第二电机;29、推板;30、挡板;31、控制器;32、检测仪;33、防尘罩。
具体实施方式
[0029]下面将结合本专利技术实施例,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本专利技术保护的范本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LED晶粒外观检测装置,其特征在于,包括支架(1),所述支架(1)的上表面固定连接防尘罩(33),所述防尘罩(33)的内上表面固定连接有喷头(21),所述防尘罩(33)的内上表面固定连接有密封器(17),所述密封器(17)的内部滑动连接有活塞(18),所述密封器(17)的圆周面设置有进气单向阀(23)和排气单向阀(19),且进气单向阀(23)的一端和喷头(21)上表面之间固定连接有连接管(20),所述支架(1)的内部转动连接有转杆(2),所述转杆(2)的圆周面之间传动连接有运输带(3),所述运输带(3)的上表面固定连接有多个放置架(4),所述放置架(4)的内部滑动连接有移动板(6),所述移动板(6)的一端设置有限位杆(8),所述移动板(6)的上表面固定连接有顶杆(7),所述支架(1)的上表面固定连接有限位板(11),所述限位板(11)的内部设置有限位槽(12),所述防尘罩(33)的内部外表面设置有传动机构,所述活塞(18)通过传动机构驱动转杆(2)间歇转动,所述防尘罩(33)的一端设置有下料机构。2.根据权利要求1所述的一种LED晶粒外观检测装置,其特征在于,所述传动机构包括转动连接在防尘罩(33)上表面的转盘(15),所述转盘(15)的上表面转动连接有连杆(16),且连杆(16)的另一端和活塞(18)的一端转动连接,所述支架(1)的一侧转动连接有驱动轮(26),所述转杆(2)的一端固定连接有从动轮(27)。3.根据权利要求2所述的一种LED晶粒外观检测装置,其特征在于,所述传动机构还包括固定连接在防尘罩(33)的一侧的第一电机(13),所述第一电机(13)的输出段和转盘(15)的圆周面均固定连接有第一带轮(14),所述电机的另一输出端固定连接有蜗杆(22)。4.根据权利要求3所述的一种LED晶粒外观检测装置,其特征在于,所述防尘罩(33)的一侧转动连接有蜗轮(24),且蜗轮(24)和蜗杆(22)相互啮合,所述蜗轮(24)的转动端和驱动轮(26)的转动端均固定连接有第二带轮(25),且第二带轮(25)之间、第一带轮(14)之间通过皮带传动连接。5.根据权利要求1所述的一种LED晶粒外观检测装置,其特征在于,所述限位杆(8)的两端分别在限位槽(12)的内部滑动连接,且限位杆(8)的尺寸和限位槽(12)的尺寸相匹配,所述限位槽(...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑道勤王侃马恺麟周福江封小宇
申请(专利权)人:重庆中科摇橹船信息科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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