一种IC封装测试工作台制造技术

本实用新型专利技术涉及IC封装技术领域，且公开了一种IC封装测试工作台，包括工作台本体，所述工作台本体顶部设置有龙门架，龙门架上通过液压机设置有液压杆，液压杆尾端设置有用于测试的测试器，所述工作台本体顶部两端均设置有用于吸尘的吸尘机构，吸尘机构内设置有吸尘箱、收集箱和气泵，所述收集箱设置于吸尘箱顶部一端，气泵的输入端通过管道与吸尘箱内壁相连接，所述吸尘箱外壁一端设置有吸尘板，且吸尘箱内设置有用于驱动的驱动部，吸尘箱上设置有受驱动部驱动的吸尘部。本实用新型专利技术，通过设置的驱动部和吸尘部，保持工作台本体上的清洁，避免工作台本体上的灰尘和杂质飘落至芯片上，对芯片的使用寿命产生影响。对芯片的使用寿命产生影响。对芯片的使用寿命产生影响。

【技术实现步骤摘要】
一种IC封装测试工作台


[0001]本技术涉及IC封装
，尤其涉及一种IC封装测试工作台。

技术介绍

[0002]IC封装指把硅片上的电路管脚，用导线接引到外部接头处，以便与其它器件连接，封装形式是指安装半导体集成电路芯片用的外壳，它不仅起着安装、固定、密封、保护芯片及增强电热性能等方面的作用，而且还通过芯片上的接点用导线连接到封装外壳的引脚上，这些引脚又通过印刷电路板上的导线与其他器件相连接，从而实现内部芯片与外部电路的连接。
[0003]现有的工作台在进行使用时，其上没有设置合适的吸尘设备，在对芯片进行测试时，工作台上的灰尘和杂质容易飘落至芯片上，对芯片的使用寿命产生影响。
[0004]为此，我们提出一种IC封装测试工作台。

技术实现思路

[0005]本技术主要是解决上述现有技术所存在的技术问题，提供一种IC封装测试工作台。
[0006]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案，一种IC封装测试工作台，包括工作台本体，所述工作台本体顶部设置有龙门架，龙门架上通过液压机设置有液压杆，液压杆尾端设置有用于测试的测试器，所述工作台本体顶部两端均设置有用于吸尘的吸尘机构，吸尘机构内设置有吸尘箱、收集箱和气泵，所述收集箱设置于吸尘箱顶部一端，气泵的输入端通过管道与吸尘箱内壁相连接，气泵的输出端通过管道与吸尘箱相连接，所述吸尘箱外壁一端设置有吸尘板，且吸尘箱内设置有用于驱动的驱动部，吸尘箱上设置有受驱动部驱动的吸尘部，吸尘箱内一端还设置有受驱动部驱动的转动部。
[0007]进一步，所述驱动部内设置有转动杆一和冲击扇叶，转动杆一两端分别转动连接于吸尘箱两侧内壁，冲击扇叶呈圆周排列在转动杆一外壁，且冲击扇叶位于气泵上输入端管道一侧，冲击扇叶外壁固定连接有主动齿轮。
[0008]进一步，所述吸尘部内设置有转动杆二、转动叶片、摩擦板和从动齿轮一。
[0009]进一步，所述转动杆二呈线性排列转动连接于吸尘箱内壁，且从动齿轮一固定连接于转动杆二外壁，多个从动齿轮一相互啮合，靠近主动齿轮处的从动齿轮一啮合于主动齿轮外壁。
[0010]进一步，所述转动叶片呈圆周排列在转动杆二外壁，且转动叶片为橡胶材质，吸尘箱内壁一端固定连接有多个呈线性排列的摩擦板，摩擦板靠近转动叶片一端设置有毛皮镀层，转动叶片转动时与摩擦板相接触。
[0011]进一步，所述转动部内设置有转动杆三、从动齿轮二和转动块，转动杆三转动连接于吸尘箱内壁，从动齿轮二设置于转动杆三外壁并且啮合于主动齿轮外壁，转动块设置于转动杆三外壁两端，转动块呈椭圆形。
[0012]进一步，所述吸尘箱两侧内壁均开设有限位滑槽，限位滑槽内壁滑动连接有限位滑块，吸尘板两端分别固定连接于两个限位滑块相对一侧外壁，且限位滑块一端设置有复位弹簧，复位弹簧另一端固定连接于限位滑槽一侧内壁。
[0013]有益效果
[0014]本技术提供了一种IC封装测试工作台。具备以下有益效果：
[0015](1)、该一种IC封装测试工作台，通过设置的驱动部和吸尘部，当需要对工作台本体上的灰尘和杂质进行清理时，此时开启气泵，气泵通过管道将灰尘通过吸尘板吸入吸尘箱内，并通过另一端的管道将吸入吸尘箱内的灰尘吸入收集箱内进行收集，并且气泵在冲击扇叶处产生吸力带动冲击扇叶进行转动，冲击扇叶转动即可通过其上的主动齿轮带动啮合主动齿轮上的从动齿轮一进行转动，从动齿轮一转动即可通过转动杆二带动转动叶片进行转动，转动叶片为橡胶材质，摩擦板靠近转动叶片一端设置有毛皮镀层，从而转动叶片转动时与摩擦板产生摩擦时即可产生静电，通过静电即可进一步对工作台本体上的灰尘和杂质进行吸引，进一步保持工作台本体上的清洁，避免工作台本体上的灰尘和杂质飘落至芯片上，对芯片的使用寿命产生影响。
[0016](2)、该一种IC封装测试工作台，通过设置的转动部，当主动齿轮转动时，即可通过啮合其上的从动齿轮二带动转动杆三进行转动，转动杆三转动即可带动其上的转动块同步进行转动，转动块转动至长轴处，即可对吸尘板挤压，带动吸尘板移动，而转动块转动至短轴处，即可在复位弹簧弹力作用下带动吸尘板和其上的限位滑块反向移动，继而带动吸尘板进行往复移动而抖动，通过吸尘板的抖动即可将堵塞在其上孔内的杂质进行抖落，避免杂质对其上的孔内堵塞，影响吸尘的风力通过的效率，进而影响吸尘效率。
附图说明
[0017]图1为本技术主视图；
[0018]图2为本技术吸尘机构处剖视图；
[0019]图3为本技术图2的A部分放大图。
[0020]图例说明：1、工作台本体；2、龙门架；3、液压杆；4、测试器；5、吸尘箱；6、收集箱；7、气泵；8、转动杆一；9、冲击扇叶；10、主动齿轮；11、转动杆二；12、转动叶片；13、摩擦板；14、从动齿轮一；15、转动杆三；16、从动齿轮二；17、转动块；18、吸尘板；19、限位滑槽；20、限位滑块；21、复位弹簧。
具体实施方式
[0021]实施例一：一种IC封装测试工作台，如图1
‑
2所示，包括工作台本体1，工作台本体1顶部设置有龙门架2，龙门架2上通过液压机设置有液压杆3，液压杆3尾端设置有用于测试的测试器4，工作台本体1顶部两端均设置有用于吸尘的吸尘机构，吸尘机构内设置有吸尘箱5、收集箱6和气泵7，收集箱6设置于吸尘箱5顶部一端，气泵7的输入端通过管道与吸尘箱5内壁相连接，气泵7的输出端通过管道与吸尘箱5相连接，吸尘箱5外壁一端设置有吸尘板18，且吸尘箱5内设置有用于驱动的驱动部，吸尘箱5上设置有受驱动部驱动的吸尘部，吸尘箱5内一端还设置有受驱动部驱动的转动部。
[0022]驱动部内设置有转动杆一8和冲击扇叶9，转动杆一8两端分别转动连接于吸尘箱5
两侧内壁，冲击扇叶9呈圆周排列在转动杆一8外壁，且冲击扇叶9位于气泵7上输入端管道一侧，冲击扇叶9外壁固定连接有主动齿轮10。
[0023]吸尘部内设置有转动杆二11、转动叶片12、摩擦板13和从动齿轮一14。
[0024]转动杆二11呈线性排列转动连接于吸尘箱5内壁，且从动齿轮一14固定连接于转动杆二11外壁，多个从动齿轮一14相互啮合，靠近主动齿轮10处的从动齿轮一14啮合于主动齿轮10外壁。
[0025]转动叶片12呈圆周排列在转动杆二11外壁，且转动叶片12为橡胶材质，吸尘箱5内壁一端固定连接有多个呈线性排列的摩擦板13，摩擦板13靠近转动叶片12一端设置有毛皮镀层，转动叶片12转动时与摩擦板13相接触。
[0026]通过设置的驱动部和吸尘部，当需要对工作台本体1上的灰尘和杂质进行清理时，此时开启气泵7，气泵7通过管道将灰尘通过吸尘板18吸入吸尘箱5内，并通过另一端的管道将吸入吸尘箱5内的灰尘吸入收集箱6内进行收集，并且气泵7在冲击扇叶9处产生吸力带动冲击扇叶9进行转动，冲击扇叶9转动即可通过其上的主动齿轮10带动啮合主动齿轮10上的从动齿轮一14进行转动，从动齿轮一14本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IC封装测试工作台，包括工作台本体(1)，其特征在于：所述工作台本体(1)顶部设置有龙门架(2)，龙门架(2)上通过液压机设置有液压杆(3)，液压杆(3)尾端设置有用于测试的测试器(4)，所述工作台本体(1)顶部两端均设置有用于吸尘的吸尘机构，吸尘机构内设置有吸尘箱(5)、收集箱(6)和气泵(7)，所述收集箱(6)设置于吸尘箱(5)顶部一端，气泵(7)的输入端通过管道与吸尘箱(5)内壁相连接，气泵(7)的输出端通过管道与吸尘箱(5)相连接，所述吸尘箱(5)外壁一端设置有吸尘板(18)，且吸尘箱(5)内设置有用于驱动的驱动部，吸尘箱(5)上设置有受驱动部驱动的吸尘部，吸尘箱(5)内一端还设置有受驱动部驱动的转动部。2.根据权利要求1所述的IC封装测试工作台，其特征在于：所述驱动部内设置有转动杆一(8)和冲击扇叶(9)，转动杆一(8)两端分别转动连接于吸尘箱(5)两侧内壁，冲击扇叶(9)呈圆周排列在转动杆一(8)外壁，且冲击扇叶(9)位于气泵(7)上输入端管道一侧，冲击扇叶(9)外壁固定连接有主动齿轮(10)。3.根据权利要求2所述的IC封装测试工作台，其特征在于：所述吸尘部内设置有转动杆二(11)、转动叶片(12)、摩擦板(13)和从动齿轮一(14)。4.根据权利要求3所述的IC封装测试工作台，其特征在于：所述转动杆二(11)...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪红亮，何丰，
申请(专利权)人：江苏立芯创元半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：