一种圆柱轴线高度测量仪及其测量方法技术

本发明专利技术公开了本发明专利技术一种圆柱轴线高度测量仪及其测量方法，由指针、转轴、滑块、锁紧螺丝和刻度尺构成，指针具有二叉结构、转轴孔和指示标记，转轴将指针连接在具有刻度标记的滑块上，滑块可以在具有高度刻度的刻度尺上滑动，锁紧螺丝可以将滑块锁紧在刻度尺上，刻度尺安装在底座上。使用本发明专利技术时，松开锁紧螺丝，移动滑块，使指针的二叉结构贴紧圆柱表面，当指针的指示标记与滑块的刻度标记重合时，拧紧锁紧螺丝，此时圆柱轴线与转轴轴线在同一水平面上，从刻度尺上读取的数值即是圆柱轴线高度。本发明专利技术可以快速、直观、准确地测量圆柱轴线高度。本发明专利技术结构简单，生产成本低，便于加工和携带。携带。携带。

【技术实现步骤摘要】
一种圆柱轴线高度测量仪及其测量方法


[0001]本专利技术属于工程测量
，具体涉及一种圆柱轴线高度测量仪及其测量方法。

技术介绍

[0002]测量圆柱轴线的高度时，如果使用直尺、卷尺等进行测量，存在难以直观判断圆柱轴线位置、测量精度不高等问题，如果使用游标卡尺、高度尺等进行测量，存在换算烦琐、测量量程不够等问题。目前公开的高度测量仪的结构一般比较复杂，不能直观显示圆柱体轴线高度位置，而且不便于加工和携带。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供一种圆柱轴线高度测量仪及其测量方法，以解决现有技术中缺少圆柱轴线高度测量的仪器的问题。
[0004]为达到上述目的，本专利技术采用以下技术方案予以实现：
[0005]一种圆柱轴线高度测量仪，包括竖直方向设置的刻度尺，刻度尺上标注有刻度，刻度尺上套装有滑块，滑块上设置有刻度标记，刻度标记为水平方向的直线；滑块通过锁紧螺丝固定在刻度尺上，滑块上通过转轴转动连接有指针；
[0006]所述指针分为测量部分和指示部分，指示部分的外端设置有尖端，指示部分的内端和测量部分一体连接，测量部分的外端设置有开叉结构，开叉结构为三角形的豁口。
[0007]本专利技术的进一步改进在于：
[0008]优选的，所述刻度尺设置在底座上，刻度尺垂直于底座。
[0009]优选的，所述滑块的一个侧边开设有豁口。
[0010]优选的，所述滑块的一个侧边上开设有第一孔洞，转轴固定插入在第一孔洞中，指针套装在转轴上。
[0011]优选的，指针上开设有转轴孔，转轴孔套装在转轴上。
[0012]优选的，转轴孔的中心线、开叉结构的中心线和测量部分的中心线为同一条直线。
[0013]优选的，滑块上开设有第二孔洞，锁紧螺丝插入在第二孔洞中。
[0014]一种上述的圆柱轴线高度测量仪的测量方法，松开锁紧螺丝，将开叉结构贴紧圆柱表面，在刻度尺上移动滑块，随着滑块的移动，指针也在上下移动，如果指示部分的尖端和滑块的刻度标记重合，说明圆柱轴线与转轴轴线在同一水平面上，拧紧锁紧螺丝，此时从刻度尺上读取的数值为圆柱轴线的高度。
[0015]与现有技术相比，本专利技术具有以下有益效果：
[0016]本专利技术公开了本专利技术一种圆柱轴线高度测量仪，由指针、转轴、滑块、锁紧螺丝和刻度尺构成，指针具有二叉结构、转轴孔和指示标记，转轴将指针连接在具有刻度标记的滑块上，滑块可以在具有高度刻度的刻度尺上滑动，锁紧螺丝可以将滑块锁紧在刻度尺上，刻度尺安装在底座上。使用本专利技术时，松开锁紧螺丝，移动滑块，使指针的二叉结构贴紧圆柱
表面，当指针的指示标记与滑块的刻度标记重合时，拧紧锁紧螺丝，此时圆柱轴线与转轴轴线在同一水平面上，从刻度尺上读取的数值即是圆柱轴线高度。本专利技术可以快速、直观、准确地测量圆柱轴线高度。本专利技术结构简单，生产成本低，便于加工和携带。
[0017]本专利技术还公开了一种圆柱轴线高度测量仪的测量方法，该测量方法只需将圆柱体放置在刻度尺旁，移动滑块，通过尖端和刻度标记的对齐即可得出圆柱体轴线的高度，测量过程简单，易于实现，且精度较高。
附图说明
[0018]图1为总体结构示意图。
[0019]图2为指针示意图。
[0020]图3为滑块示意图。
[0021]图4为使用时刻度标记和尖端重合时的示意图；(a)图为结构示意图；(b)图为I部分细节放大图；
[0022]图5为使用时刻度标记和尖端不重合时的示意图；(a)图为结构示意图；(b)图为II部分细节放大图；
[0023]其中，1
‑
指针，2
‑
转轴，3
‑
滑块，4
‑
锁紧螺丝，5
‑
刻度尺，6
‑
底座；1
‑1‑
测量部分；1
‑2‑
指示部分；1
‑1‑1‑
开叉结构；1
‑1‑2‑
转轴孔；3
‑1‑
第一孔洞；3
‑1‑
第二孔洞；3
‑3‑
刻度标记；3
‑4‑
豁口。
具体实施方式
[0024]下面结合附图对本专利技术做进一步详细描述：
[0025]在本专利技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性；此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0026]本专利技术公开了一种圆柱轴线高度测量仪，参见图1，该高度测量仪由指针1、转轴2、滑块3、锁紧螺丝4、刻度尺5和底座6构成。
[0027]刻度尺5垂直于底座6，刻度尺5上标注有刻度，刻度尺5的截面为矩形或方形。
[0028]刻度尺5上套装有滑块3。参见图3，滑块3为环状滑块，滑块3的一个边上开设有豁口，方便滑块3能够沿着刻度尺5的长度方向上下移动。滑块3的一个侧边上开设有第一孔洞3
‑
1，转轴2插入在第一孔洞3
‑
1中，滑块3通过第一孔洞3
‑
1和指针1转动连接，开设有第一孔洞3
‑
1的侧边上设置有刻度标记3
‑
3，刻度标记3
‑
3为一个直线，代表水平方向。滑块3的另一个侧边上开设有第二孔洞3
‑
2，第二孔洞3
‑
2贯穿滑块3的侧边，当滑块3确定在刻度尺5的位置时，锁紧螺丝4穿过第二孔洞3
‑
2，使得锁紧螺丝4的端部能够抵住刻度尺5，固定滑块3在刻度尺5的高度位置。
[0029]参见图1，指针1和滑块3通过转轴2转动连接。参见图2，指针1为一体成型的结构，指针2为片状结构，指针1分为测量部分1
‑
1和指示部分1
‑
2，指示部分1
‑
2为三角形，指示部分1
‑
2的尖端朝外，指示部分1
‑
2中尖端的对边和一体连接有测量部分1
‑
1。测量部分1
‑
1一端和指示部分1
‑
2一体连接，测量部分1
‑
1的另一端为设置有开叉结构1
‑1‑
1，开叉结构1
‑1‑
1为三角形的豁口，测量部分1
‑...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种圆柱轴线高度测量仪，其特征在于，包括竖直方向设置的刻度尺(5)，刻度尺(5)上标注有刻度，刻度尺(5)上套装有滑块(3)，滑块(3)上设置有刻度标记(3
‑
3)，刻度标记(3
‑
3)为水平方向的直线；滑块(3)通过锁紧螺丝(4)固定在刻度尺(5)上，滑块(3)上通过转轴(2)转动连接有指针(1)；所述指针(1)分为测量部分(1
‑
1)和指示部分(1
‑
2)，指示部分(1
‑
2)的外端设置有尖端，指示部分(1
‑
2)的内端和测量部分(1
‑
1)一体连接，测量部分(1
‑
1)的外端设置有开叉结构(1
‑1‑
1)，开叉结构(1
‑1‑
1)为三角形的豁口。2.根据权利要求1所述的一种圆柱轴线高度测量仪，其特征在于，所述刻度尺(5)设置在底座(6)上，刻度尺(5)垂直于底座(6)。3.根据权利要求1所述的一种圆柱轴线高度测量仪，其特征在于，所述滑块(3)的一个侧边开设有豁口(3
‑
4)。4.根据权利要求1所述的一种圆柱轴线高度测量仪，其特征在于，所述滑块(3)的一个侧边上开设有第一孔洞(3
‑
1...

【专利技术属性】
技术研发人员：方璐，吴金云，陈文辉，王晓冬，游占华，王成龙，于国华，王秀琴，马成祥，卜凡伟，李晓，陈军利，高世博，刘旭，赵强先，
申请(专利权)人：中国石油集团测井有限公司，
类型：发明
国别省市：