一种芯片测试光源标定装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种芯片测试光源标定装置，包括光源主体、治具主体和数据读取组件，光源主体上阵列设置四个光源口，光源口内设置光源，治具主体侧边凹设抽槽，数据读取组件抽拉设置在抽槽内，治具主体的上表面凹设与抽槽连通的通光孔，光源主体的下表面、治具主体的上表面为相互配合的平面，利用数据读取组件对进行光源数据采集。本实用新型专利技术通过治具主体与光源主体配合，使得不同光源能够在同一环境下进行标定，因此，其状态是不受光源主体的应用环境影响的。光源应用到芯片测试中，光源的状态将不会随着应用环境变化而变化，其标准始终是一致的，保证了芯片测试环境的一致性与标准化。化。化。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试光源标定装置


[0001]本技术涉及CMOS图像传感芯片测试光源领域，特别涉及一种芯片测试光源标定装置。

技术介绍

[0002]现有芯片(图像传感器)测试时，都需要在测试环境中增加光源，用以模拟芯片在白光、暗光、彩光环境下的工作状态。当前测试环境对于光源的标准没有一致的标准，其测试标准主要来自于芯片测试后的检测数据的判断，通过数据来调整光源，以实现光源可以调整到芯片测试所需的要求。该状态下的光源会随着搭建环境的差异而产生不同的差异性，也导致光源的状态完全来自于测试结果这一判断，因此会导致，一旦硬件环境变化，在这一基础上调试的光源标准将是一个错误的标准，虽然测试可以使用，但和标准环境的差异是切实存在的，而且不能及时的被发现。

技术实现思路

[0003]针对以上现有技术存在的缺陷，本技术的主要目的在于克服现有技术的不足之处，公开了一种芯片测试光源标定装置，包括光源主体、治具主体和数据读取组件，所述光源主体上阵列设置四个光源口，所述光源口内设置光源，所述治具主体侧边凹设抽槽，所述数据读取组件抽拉设置在所述抽槽内，所述治具主体的上表面凹设与所述抽槽连通的通光孔，所述光源主体的下表面、所述治具主体的上表面为相互配合的平面，利用所述数据读取组件对进行光源数据采集。
[0004]进一步地，所述光源主体为长方体，所述治具主体的上表面凸设方形定位框。
[0005]进一步地，所述数据读取组件包括抽拉块和照度计，所述抽拉块上凹设装配槽，所述照度计的采光球设置在所述装配槽内。
[0006]进一步地，所述抽拉块上设置把手。
[0007]进一步地，所述通光孔呈倒锥台形结构。
[0008]本技术取得的有益效果：
[0009]本技术通过治具主体与光源主体配合，使得不同光源能够在同一环境下进行标定，因此，其状态是不受光源主体的应用环境影响的。光源应用到芯片测试中，光源的状态将不会随着应用环境变化而变化，其标准始终是一致的，保证了芯片测试环境的一致性与标准化。将光源主体设置为长方体，并且在治具主体上设置定位框，巧妙的将光源主体的顶角与定位框的顶角重合，使得光源与通光孔对齐，以快速的以相同的硬件环境来标定光源。
附图说明
[0010]图1为本技术的一种芯片测试光源标定装置的结构示意图；
[0011]图2为光源主体的结构示意图；
[0012]附图标记如下：
[0013]1、光源主体，2、治具主体，3、数据读取组件，11、光源口，21、抽槽，22、通光孔，23、定位框，31、抽拉块，32、照度计，33、把手，311、装配槽。
具体实施方式
[0014]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，下面结合附图及实施例对本技术作进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0015]一种芯片测试光源标定装置，如图1、图2所示，包括光源主体1、治具主体2和数据读取组件3，光源主体1上阵列设置四个光源口11，光源口11内设置光源，治具主体2侧边凹设抽槽21，数据读取组件3抽拉设置在抽槽21内，治具主体2的上表面凹设与抽槽连通的通光孔22，光源主体1的下表面、治具主体2的上表面为相互配合的平面，利用数据读取组件3对进行光源数据采集。测试时，光源主体1置于治具主体2上，将测试光源与通光孔22对齐，通过数据读取组件3采集光源数据。以将光源置于相对密闭的空间内，创造一个环境恒定的标定空间。
[0016]在一实施例中，如图1、图2所示，光源主体1为长方体，治具主体2的上表面凸设方形定位框23。光源主体1的四个侧壁与定位框23的内壁相互配合定位，以使得测试光源与通光孔22快速对齐。
[0017]在一实施例中，如图1、图2所示，数据读取组件3包括抽拉块31和照度计32，抽拉块31上凹设装配槽311，照度计32的采光球设置在装配槽311内。其中，在抽拉块31推入抽槽21内并到位后，装配槽311与通光孔22对齐，铜鼓采光球对光源数据进行采集。其中，照度计32的型号为CL200。
[0018]在一实施例中，如图1、图2所示，抽拉块31上设置把手33。以便于将抽拉块31抽出。
[0019]在一实施例中，如图1、图2所示，通光孔22呈倒锥台形结构。
[0020]以上仅为本技术的较佳实施例，并非用来限定本技术的实施范围；如果不脱离本技术的精神和范围，对本技术进行修改或者等同替换，均应涵盖在本技术权利要求的保护范围当中。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试光源标定装置，其特征在于，包括光源主体、治具主体和数据读取组件，所述光源主体上阵列设置四个光源口，所述光源口内设置光源，所述治具主体侧边凹设抽槽，所述数据读取组件抽拉设置在所述抽槽内，所述治具主体的上表面凹设与所述抽槽连通的通光孔，所述光源主体的下表面、所述治具主体的上表面为相互配合的平面，利用所述数据读取组件对进行光源数据采集。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试光源标定装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：嵇杰，
申请(专利权)人：豪威半导体太仓有限公司，
类型：新型
国别省市：