【技术实现步骤摘要】
本技术属于图像传感器测试领域，具体涉及一种感光芯片的测试装置。
技术介绍
1、图像传感器芯片为感光芯片，由光电二极管组成感光阵列，实现光信号到电信号的转换，并最终以图像的形成展现出来。图像传感器亮度以及照度特性测试中需要提供可控光源，可控光源和感光芯片组成密闭遮光空间，测试感光芯片在可控光源照射下以及黑暗环境中的亮度一致性参数，评估图像传感器的特性。
2、实际测试中，可控光源和感光芯片组成密闭遮光空间不能完全隔绝外界光，密闭遮光空间连接处会有漏光，感光芯片在测试过程中受到外界光的干扰，将造成亮度一致性测试数据偏差，影响测试精度。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种感光芯片的测试装置，光源单元的箱体底部与芯片测试座接触的部分做了下沉设计，使光源单元安装后的平面(即侧板的上表面)不高于测试座上盖的上表面，以隔绝外界光，有效隔绝外界光对感光芯片测试亮度一致性的影响，提高测试精度，保障感光芯片测试品质。
2、本技术提供一种感光芯片的测试装置，包括：
3、光源单元，所述光源单元包括箱体和顶板，所述顶板下表面设置有白光光源，所述箱体底部两侧向外延伸出侧板；
4、芯片测试座，所述芯片测试座包括测试座上盖，所述测试座上盖包括上盖侧壁和从所述上盖侧壁向内延伸出的延伸台；所述上盖侧壁和所述延伸台形成所述测试座上盖的凹陷区域；
5、所述箱体底部嵌合在所述测试座上盖的凹陷区域内，所述侧板的上表面不高于所述测试座上盖的上表面；所述顶板、所述
6、所述测试座上盖的中间区域设置有镜头，所述镜头的下方设置有感光芯片。
7、进一步的，所述延伸台上表面设置有向上凸出的挡墙，所述侧板靠下区域设置有凹槽，所述挡墙嵌合进所述凹槽中。
8、进一步的，所述箱体呈长方体形状，所述箱体底部沿所述箱体的长度方向的两侧向外延伸出所述侧板；所述挡墙在所述延伸台上表面沿所述箱体的宽度方向分布；所述凹槽在所述侧板的靠下区域沿所述箱体的宽度方向分布。
9、进一步的，所述芯片测试座还包括测试座底座，所述测试座底座与所述测试座上盖通过扣合或夹合将所述感光芯片固定。
10、进一步的，所述测试座底座包括支撑板，所述支撑板位于所述测试座上盖的中间区域，所述上盖侧壁和所述延伸台固定在所述支撑板上，所述镜头嵌入所述支撑板的中间区域。
11、进一步的，所述顶板和所述箱体周侧的四个侧板均设置为遮光板，所述箱体内部周侧的四个面上均设置有吸光层，所述吸光层包括黑色绒布。
12、进一步的，所述顶板和所述箱体周侧的四个侧板外表面均形成有遮光层，所述遮光层的材质包括黑光阻、黑漆、塑料或金属中的至少一种。
13、进一步的，所述白光光源包括白光led灯或白光汞灯，所述白光led灯包括led灯珠阵列。
14、进一步的，所述镜头包括一层的凸透镜或凹透镜，或者堆叠的至少两层的凸透镜和/或凹透镜的组合。
15、进一步的，所述镜头的材质包括玻璃或树脂。
16、与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：
17、本技术提供一种感光芯片的测试装置，包括：光源单元，光源单元包括箱体和顶板，顶板下表面设置有白光光源，箱体底部两侧向外延伸出侧板；芯片测试座包括测试座上盖，测试座上盖包括上盖侧壁和从上盖侧壁向内延伸出的延伸台；上盖侧壁和延伸台形成测试座上盖的凹陷区域；测试座上盖的中间区域设置有镜头，镜头的下方设置有感光芯片。箱体底部嵌合在测试座上盖的凹陷区域内，顶板、箱体和芯片测试座围合成密闭遮光空间；侧板的上表面不高于测试座上盖的上表面。光源单元的箱体底部与芯片测试座接触的部分做了下沉设计，使光源单元安装后的平面(即侧板的上表面)不高于测试座上盖的上表面，以隔绝外界光，有效隔绝外界光对感光芯片测试亮度一致性的影响，保证芯片测试时的光源只受光源单元的控制，使得感光芯片测试的亮度数据可控，改善感光芯片测试亮度一致性的准确性，提高测试良率。设计简单，改善效果明显。
18、进一步的，延伸台上表面设置有向上凸出的挡墙，侧板靠下区域设置有凹槽，挡墙嵌合进凹槽中。在不排除下沉设计仍然存在微弱的外界光进入的前提下，做第二道隔绝外界光的设计，改善光源测试稳定性，杜绝外界光的干扰。可以保障感光芯片测试时的亮度数据的稳定性。
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1.一种感光芯片的测试装置，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的感光芯片的测试装置，其特征在于，所述延伸台上表面设置有向上凸出的挡墙，所述侧板靠下区域设置有凹槽，所述挡墙嵌合进所述凹槽中。
3.如权利要求2所述的感光芯片的测试装置，其特征在于，所述箱体呈长方体形状，所述箱体底部沿所述箱体的长度方向的两侧向外延伸出所述侧板；所述挡墙在所述延伸台上表面沿所述箱体的宽度方向分布；所述凹槽在所述侧板的靠下区域沿所述箱体的宽度方向分布。
4.如权利要求1所述的感光芯片的测试装置，其特征在于，所述芯片测试座还包括测试座底座，所述测试座底座与所述测试座上盖通过扣合或夹合将所述感光芯片固定。
5.如权利要求4所述的感光芯片的测试装置，其特征在于，所述测试座底座包括支撑板，所述支撑板位于所述测试座上盖的中间区域，所述上盖侧壁和所述延伸台固定在所述支撑板上，所述镜头嵌入所述支撑板的中间区域。
6.如权利要求1所述的感光芯片的测试装置，其特征在于，所述顶板和所述箱体周侧的四个侧板均设置为遮光板，所述箱体内部周侧的四个面上均设置有吸光层，
7.如权利要求1所述的感光芯片的测试装置，其特征在于，所述顶板和所述箱体周侧的四个侧板外表面均形成有遮光层。
8.如权利要求1所述的感光芯片的测试装置，其特征在于，所述白光光源包括白光LED灯或白光汞灯，所述白光LED灯包括LED灯珠阵列。
9.如权利要求1所述的感光芯片的测试装置，其特征在于，所述镜头包括一层的凸透镜或凹透镜，或者堆叠的至少两层的凸透镜和/或凹透镜的组合。
...【技术特征摘要】
1.一种感光芯片的测试装置，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的感光芯片的测试装置，其特征在于，所述延伸台上表面设置有向上凸出的挡墙，所述侧板靠下区域设置有凹槽，所述挡墙嵌合进所述凹槽中。
3.如权利要求2所述的感光芯片的测试装置，其特征在于，所述箱体呈长方体形状，所述箱体底部沿所述箱体的长度方向的两侧向外延伸出所述侧板；所述挡墙在所述延伸台上表面沿所述箱体的宽度方向分布；所述凹槽在所述侧板的靠下区域沿所述箱体的宽度方向分布。
4.如权利要求1所述的感光芯片的测试装置，其特征在于，所述芯片测试座还包括测试座底座，所述测试座底座与所述测试座上盖通过扣合或夹合将所述感光芯片固定。
5.如权利要求4所述的感光芯片的测试装置，其特征在于，所述测试座底座包括支撑板...
【专利技术属性】
技术研发人员：嵇杰，
申请(专利权)人：豪威半导体太仓有限公司，
类型：新型
国别省市：
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