一种提高系统中低功耗状态下响应速度的方法、设备技术方案

本发明专利技术公开了一种提高系统中低功耗状态下响应速度的方法、设备，该方法包括S1：图像识别系统运行图像识别模型程序；S2：图像识别模型程序对电芯图像进行缺陷识别检测；S3：判断图像识别模型程序在限定时间内是否有进行响应；S4：若图像识别模型程序在限定时间内没有进行响应，则激活图像识别模型程序执行一遍缺陷识别检测。本发明专利技术使图像识别模型程序在限定时间内重新激活运行一次，以使图像识别系统处于中低功耗状态下的情况下提高图像识别模型程序的响应速度，减少图像识别模型程序的相应延时，进而能够及时地识别出电芯的缺陷位置以保证贴标机的贴设标签操作，即本发明专利技术能够较好地适配对于电芯连续的缺陷检测。地适配对于电芯连续的缺陷检测。地适配对于电芯连续的缺陷检测。

【技术实现步骤摘要】
一种提高系统中低功耗状态下响应速度的方法、设备


[0001]本专利技术涉及电芯检测
，具体为一种提高系统中低功耗状态下响应速度的方法、设备。

技术介绍

[0002]在锂电池等电池电芯的生产过程中，部分电芯的表面会出现划痕、凹点、凸点等缺陷，不仅影响外观，且对电芯的生产使用安全也有较大影响，因此在电芯生产后需对其进行缺陷检测。
[0003]现有通常一种电芯缺陷检测方法为：首先采集电芯图像，进一步利用图像识别系统(由多张显卡组成)运行图像识别模型程序(图像识别软件)，该图像识别模型程序搭载有视觉检测算法，通过该图像识别模型程序对电芯图像进行缺陷识别检测，以确定电芯是否存在缺陷。其中，对电芯进行连续的缺陷检测时，上述图像识别模型程序的响应速度就显得非常重要，只有实时地识别出电芯上的缺陷位置，贴标机才能及时地将标签贴在存在缺陷的电芯位置。
[0004]然而，上述图像识别系统的硬件性能为了应对特殊情况，通常会有性能冗余，在生产过程中，为了延长设备寿命、减少能耗，图像识别系统的硬件通常处于中低功耗状态即处于中低性能的模式运行，此时图像识别模型程序的响应速度也会随之降低，进而难以及时地识别出电芯的缺陷位置而影响贴标机的贴设标签操作，即不能较好地适配对于电芯连续的缺陷检测。

技术实现思路

[0005](一)解决的技术问题
[0006]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种提高系统中低功耗状态下响应速度的方法、设备，能够解决上述技术问题。
[0007](二)技术方案
[0008]为解决上述技术问题，本专利技术提供如下一技术方案：一种提高系统中低功耗状态下响应速度的方法，系统为图像识别系统，该提高系统中低功耗状态下响应速度的方法包括：
[0009]S1：图像识别系统运行图像识别模型程序；
[0010]S2：图像识别模型程序对电芯图像进行缺陷识别检测；
[0011]S3：判断图像识别模型程序在限定时间内是否有进行响应；
[0012]S4：若图像识别模型程序在限定时间内没有进行响应，则激活图像识别模型程序执行一遍缺陷识别检测。
[0013]优选的，限定时间为0.02秒。
[0014]优选的，该提高系统中低功耗状态下响应速度的方法还包括：限制图像识别系统在预设时间内运行图像识别模型程序的次数不超过预设次数。
[0015]优选的，预设时间为1秒，预设次数为50次。
[0016]优选的，步骤S3具体为：判断图像识别模型程序在限定时间内是否有输出电芯图像的检测结果，若有输出检测结果则视为图像识别模型程序有进行响应。
[0017]优选的，检测结果为电芯图像没有存在缺陷。
[0018]优选的，检测结果为电芯图像存在缺陷。
[0019]优选的，检测结果还包括电芯图像的缺陷位置。
[0020]为解决上述技术问题，本专利技术提供如下另一技术方案：一种提高系统中低功耗状态下响应速度的设备，系统为图像识别系统，图像识别系统用于运行图像识别模型程序，图像识别模型程序用于对电芯图像进行缺陷识别检测，提高系统中低功耗状态下响应速度的设备包括：判断模块以及激活模块，判断模块用于判断图像识别模型程序在限定时间内是否有进行响应；激活模块用于若图像识别模型程序在限定时间内没有进行响应，则激活图像识别模型程序执行一遍缺陷识别检测。
[0021]优选的，该提高系统中低功耗状态下响应速度的设备还包括限制模块，用于限制图像识别系统在预设时间内运行图像识别模型程序的次数不超过预设次数。
[0022](三)有益效果
[0023]与现有技术相比，本专利技术提供了一种提高系统中低功耗状态下响应速度的方法、设备，具备以下有益效果：本专利技术通过判断图像识别模型程序在限定时间内是否有进行响应，若没有则激活图像识别模型程序执行一遍缺陷识别检测，也就是使图像识别模型程序在限定时间内重新激活运行一次，以使图像识别系统处于中低功耗状态下的情况下提高图像识别模型程序的响应速度，减少图像识别模型程序的相应延时，进而能够及时地识别出电芯的缺陷位置以保证贴标机的贴设标签操作，即本专利技术能够较好地适配对于电芯连续的缺陷检测。
附图说明
[0024]图1为本专利技术一种提高系统中低功耗状态下响应速度的方法的步骤流程图。
具体实施方式
[0025]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0026]本专利技术提供一种提高系统中低功耗状态下响应速度的方法，包括：
[0027]S1：图像识别系统运行图像识别模型程序。
[0028]本专利技术所指的系统为图像识别系统，图像识别系统由多张显卡组成。
[0029]S2：图像识别模型程序对电芯图像进行缺陷识别检测。
[0030]应理解，图像识别模型程序搭载有视觉检测算法，视觉检测也即图像识别，通过该图像识别模型程序对电芯图像进行缺陷识别检测，即对电芯图像进行外观缺陷的特征提取及特征分类，以确定电芯是否存在划痕、凹点、凸点等缺陷。本专利技术可采用现有的图像识别模型程序进行缺陷识别检测，此处不作过多赘述。
[0031]S3：判断图像识别模型程序在限定时间内是否有进行响应。
[0032]上述限定时间具体可为0.02秒，当然也可根据需要设置为其他数值，此处不作过多限制。
[0033]步骤S3具体为：判断图像识别模型程序在限定时间内是否有输出电芯图像的检测结果，若有输出检测结果则视为图像识别模型程序有进行响应；若在限定时间内没有输出检测结果则视为图像识别模型程序在限定时间内没有进行响应。
[0034]进一步的，检测结果可为电芯图像没有存在缺陷，即对应的电芯为合格品。此外，检测结果也可为电芯图像存在缺陷，即对应的电芯为不合格品(NG品)；此时，相应的检测结果还可包括电芯图像的缺陷位置，进一步将包含有缺陷位置的检测结果发送至贴标机，以使得贴标机将标签贴在存在缺陷的电芯位置。
[0035]S4：若图像识别模型程序在限定时间内没有进行响应，则激活图像识别模型程序执行一遍缺陷识别检测。
[0036]例如在0.02秒内判断到图像识别模型程序没有进行响应即没有输出上述检测结果时，则激活图像识别模型程序执行一遍缺陷识别检测。
[0037]此外，优选的，本专利技术提高系统中低功耗状态下响应速度的方法还可包括：限制图像识别系统在预设时间内运行图像识别模型程序的次数不超过预设次数。上述预设时间例如为1秒，预设次数例如为50次，即每秒限制图像识别系统最多只能运行图像识别模型程序50次，从而确保图像识别系统的性能与功耗不会过高。当然，上述预设时间与预设次数也可根据需求相应设置为其他数值，此处不作过多限制。
[0038]本专利技术还提供一种提高系统中低功耗状态下响应本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种提高系统中低功耗状态下响应速度的方法，其特征在于：所述系统为图像识别系统，所述提高系统中低功耗状态下响应速度的方法包括：S1：所述图像识别系统运行图像识别模型程序；S2：所述图像识别模型程序对电芯图像进行缺陷识别检测；S3：判断所述图像识别模型程序在限定时间内是否有进行响应；S4：若所述图像识别模型程序在所述限定时间内没有进行响应，则激活所述图像识别模型程序执行一遍所述缺陷识别检测。2.根据权利要求1所述的提高系统中低功耗状态下响应速度的方法，其特征在于：所述限定时间为0.02秒。3.根据权利要求1所述的提高系统中低功耗状态下响应速度的方法，其特征在于，所述提高系统中低功耗状态下响应速度的方法还包括：限制所述图像识别系统在预设时间内运行所述图像识别模型程序的次数不超过预设次数。4.根据权利要求3所述的提高系统中低功耗状态下响应速度的方法，其特征在于：所述预设时间为1秒，所述预设次数为50次。5.根据权利要求1所述的提高系统中低功耗状态下响应速度的方法，其特征在于，所述步骤S3具体为：判断所述图像识别模型程序在限定时间内是否有输出所述电芯图像的检测结果，若有输出所述检测结果则...

【专利技术属性】
技术研发人员：张俊峰，杨培文，
申请(专利权)人：超音速人工智能科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：