玻璃基板托盘平面度测量方法及系统技术方案

本公开提供一种玻璃基板托盘平面度测量方法及系统，属于玻璃基板托盘平面度测量技术领域。该方法包括步骤：设定沿第一方向呈队列布置的M个激光测距传感器沿其运动方向自起始点至终点的N个停顿点；其中，M、N为不小于2的自然数，所述第一方向与所述运动方向垂直；在所述M个激光测距传感器同步沿所述运动方向自所述起始点运动至所述终点扫过待测玻璃基板托盘时，获取每一所述激光测距传感器于每一所述停顿点的测量数据；基于所有的所述测量数据形成M*N网格图并视觉呈现。本公开智能化、自动化和精准度高且快捷简便易于实现，实现了玻璃基板托盘的平面度测量的快速、准确且高效。准确且高效。准确且高效。

【技术实现步骤摘要】
玻璃基板托盘平面度测量方法及系统


[0001]本公开涉及玻璃基板托盘平面度测量
，尤其涉及一种玻璃基板托盘平面度测量方法及系统。

技术介绍

[0002]随着玻璃基板行业的快速发展，对玻璃基板生产、加工、检查、包装各分区设备的精度要求越来越高。尤其是包装区的成品托盘，托盘的平面度是至关重要的，需要确保每一片玻璃与托盘的接合面严丝合缝，这样在包装完几百张玻璃后也能够保证每张玻璃之间几乎没有缝隙，运输过程中就不会出现因路途颠簸而玻璃破损的问题。但现阶段测量托盘的平面度只能通过刀口尺及塞尺的配合测量再通过人工读数得出数据。
[0003]以G8.5托盘为例，现阶段要求G8.5托盘平面度为≤2mm，而这种通过刀口尺及塞尺的配合测量再通过人工读数得出数据的测量方式存在以下问题：
[0004]1.由于G8.5托盘上表面尺寸约为3000x2500的方形，那么就需要配备的4200mm的长度刀口尺，这样检测人员在使用时会因量具过长而出现测量不便的问题。
[0005]2.G8.5托盘的面积相对较大，检测人员需要从横向、纵向、对角各方向多次放置刀口尺，再用塞尺测量读数，操作繁琐，测量不快。
[0006]3.检测人员是通过肉眼观测，这样不可避免的会产生读数的误差，出现测量不准的情况。
[0007]因此在检测G8.5托盘平面度时会存在测量不便，测量不准，测量不快的问题。
[0008]为解决以上问题，亟需一种能够方便、准确、高效测量托盘平面度的方法。

技术实现思路

[0009]本公开所要解决的一个技术问题是：在玻璃基板包装环节中怎样方便、准确、高效测量托盘平面度。
[0010]为解决上述技术问题，本公开实施例提供一种玻璃基板托盘平面度测量方法及系统，该方法包括步骤：
[0011]S1，设定沿第一方向呈队列布置的M个激光测距传感器沿其运动方向自起始点至终点的N个停顿点；其中，M、N为不小于2的自然数，第一方向与运动方向垂直；
[0012]S2，在M个激光测距传感器同步沿运动方向自起始点运动至终点扫过待测玻璃基板托盘时，获取每一激光测距传感器于每一停顿点的测量数据；
[0013]S3，基于所有的测量数据形成M*N网格图并视觉呈现。
[0014]在一些实施例中，步骤S3之后还包括步骤：
[0015]S4，基于M*N网格图判定待测玻璃基板托盘的平面度是否满足预设要求；
[0016]当满足预设要求时，则执行步骤：
[0017]S51，判定待测玻璃基板托盘合格；
[0018]当不满足预设要求时，则执行步骤：
[0019]S52，判定待测玻璃基板托盘不合格。
[0020]在一些实施例中，步骤S52之后还包括步骤：
[0021]S6，根据M*N网格图输出待测玻璃基板托盘的调整数据使其满足预设要求。
[0022]在一些实施例中，步骤S4具体包括步骤：标记并呈现M*N网格图的低谷区域和峰值区域。
[0023]在一些实施例中，步骤S4具体包括步骤：对比任意两个测量数据以获取最大的测量数据和最小的测量数据并标记呈现。
[0024]在一些实施例中，步骤S3具体包括步骤：
[0025]S31，实时沿第二方向呈队列视觉呈现M个激光测距传感器于每一停顿点的M个测量数据，直至M个激光测距传感器沿运动方向自起始点运动至终点，以获得呈M*N阵列布置的测量数据；
[0026]S32，连接M*N阵列布置的测量数据相邻设置的两个测量数据以形成M*N网格图。
[0027]在一些实施例中，M*N网格图与待测玻璃基板托盘相匹配。
[0028]为解决上述技术问题，本公开实施例提供一种玻璃基板托盘平面度测量方法及系统，该系统包括：检测平台，其用于放置待测玻璃基板托盘；传感器安装机构，其用于安装激光测距传感器，使得多个激光测距传感器沿第一方向呈队列布置；滑台，其用于带动传感器安装机构沿第二方向做往复运动以扫过待测玻璃基板托盘，其中，第二方向与第一方向垂直设置；以及，智能终端，其分别与滑台、激光测距传感器连接；智能终端用以执行上述任意一项的玻璃基板托盘平面度测量方法。
[0029]在一些实施例中，激光测距传感器与传感器安装机构可拆卸式连接。
[0030]在一些实施例中，激光测距传感器可靠近或远离待测玻璃基板托盘。
[0031]在一些实施例中，该系统还包括：定位座，其用于定位待测玻璃基板托盘。
[0032]在一些实施例中，滑台通过滑台安装支架安装于检测平台。
[0033]在一些实施例中，滑台安装支架通过高度可调地脚安装于检测平台。
[0034]通过上述技术方案，本公开提供的玻璃基板托盘平面度测量方法及系统，能够带来以下至少一种有益效果：
[0035]1、本公开通过多个激光测距传感器扫过待测玻璃基板托盘并在每一停顿点获取测量数据，从而获得M*N个测量数据并以此获得M*N网格图，以表征该待测玻璃基板托盘的平面数据，从而使得测量人员或者智能终端根据该M*N网格图能够快速、准确且高效的获知该待测玻璃基板托盘的平面度，智能化、自动化和精准度高且快捷简便易于实现；进而保证了玻璃基板与托盘的严丝合缝，降低其运输过程中因缝隙导致的破损率，降低玻璃基板的运输成本；解决了现有依靠人工和测量工具从各个方向多次测量和人为读取、计算的方式而导致的工作量大、操作繁琐、测量慢、精度差的难题。
[0036]2、本公开除了可以用于判断待测玻璃基板托盘的平面度以外，还可用于根据测量数据或者M*N网格图来调整不满足预设要求的待测玻璃基板托盘，直至其测量数据满足为止，从而保证了通过该待测玻璃基板托盘进行堆叠的玻璃基板严丝合缝。
[0037]3、本公开可通过调节激光测距传感器所在平面与检测平台的平行度保证了本公开测量数据的科学性、可靠性。
附图说明
[0038]为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0039]图1是本公开实施例公开的玻璃基板托盘平面度测量方法的流程图；
[0040]图2是本公开实施例公开的玻璃基板托盘平面度测量系统的结构示意图；
[0041]图3是图2的俯视图；
[0042]图4是图2的左视图(即图2的B向视图)。
[0043]附图标记说明：
[0044]1、检测平台；2、定位座；3、待测玻璃基板托盘；4、滑台；41、直线驱动机构；42、导轨；5、传感器安装机构；6、激光测距传感器；7、滑台安装支架；8、高度可调地脚；9、智能终端；A、第一方向；B、第二方向(即运动方向)。
具体实施方式
[0045]下面结合附图和实施例对本公开的实施方式作进一步详细描述。以下实施例的详细描述和附本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种玻璃基板托盘平面度测量方法，其特征在于，包括步骤：S1，设定沿第一方向呈队列布置的M个激光测距传感器沿其运动方向自起始点至终点的N个停顿点；其中，M、N为不小于2的自然数，所述第一方向与所述运动方向垂直；S2，在所述M个激光测距传感器同步沿所述运动方向自所述起始点运动至所述终点扫过待测玻璃基板托盘时，获取每一所述激光测距传感器于每一所述停顿点的测量数据；S3，基于所有的所述测量数据形成M*N网格图并视觉呈现。2.根据权利要求1所述的玻璃基板托盘平面度测量方法，其特征在于，步骤S3之后还包括步骤：S4，基于所述M*N网格图判定所述待测玻璃基板托盘的平面度是否满足预设要求；当满足预设要求时，则执行步骤：S51，判定所述待测玻璃基板托盘合格；当不满足预设要求时，则执行步骤：S52，判定所述待测玻璃基板托盘不合格。3.根据权利要求2所述的玻璃基板托盘平面度测量方法，其特征在于：步骤S52之后还包括步骤：S6，根据所述M*N网格图输出所述待测玻璃基板托盘的调整数据使其满足预设要求；和/或，步骤S4具体包括步骤：标记并呈现所述M*N网格图的低谷区域和峰值区域；或，对比任意两个所述测量数据以获取最大的测量数据和最小的测量数据并标记呈现。4.根据权利要求1所述的玻璃基板托盘平面度测量方法，其特征在于：步骤S3具体包括步骤：S31，实时沿第二方向呈队列视觉呈现所述M个激光测距传感器于每一停顿点的M个测量数据，直至所述M个激光测距传感器沿所述运动方向自所述起始点运动至所述终点，以获得呈M*N阵列布置的测量数据；S32，连接所述M*N阵列布置的测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：李青，李赫然，臧少杰，王金权，王义昌，周学文，赵小辉，刘世鹏，张彦龙，郭虎，赵祥，蔡冬利，
申请(专利权)人：东旭集团有限公司，
类型：发明
国别省市：