一种玻璃基板表面缺陷检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及面板检测技术领域，具体涉及一种玻璃基板表面缺陷检测方法及装置，包括如下步骤：S1：按要求放置玻璃基板并配置好成像模块；S2：获取玻璃基板整板图像信息；S3：分析玻璃基板整板图像信息并判断缺陷所处位置。步骤S3还包括如下步骤：S3.1：基于所述玻璃基板整板图像信息提取缺陷特征值；S3.2：比较缺陷图像的特征值并基于比较结果判断缺陷所处位置。本申请相对现有技术能够以更低的配置成本产生更高的检测效率。生更高的检测效率。生更高的检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种玻璃基板表面缺陷检测方法及装置


[0001]本专利技术涉及面板检测
，具体涉及一种玻璃基板表面缺陷检测方法及装置。

技术介绍

[0002]本节中的陈述仅提供与本公开相关的背景信息，并且可能不构成现有技术。
[0003]玻璃基板是表面极其平整的薄玻璃片，是平板显示产业的关键基础材料之一，玻璃基板分为上表面和下表面，上表面是下游面板的制程面又称图形面，对玻璃板面质量要求较高，存在缺陷可能导致后续显示效果欠佳，在存在缺陷时需要及时识别并再次加工处理；而下表面是传输和抓取面，一般没有制程，对玻璃板面质量要求低一些，允许存在一些轻微缺陷。玻璃基板表面缺陷主要包括：颗粒、划伤、污渍、印迹等。由于玻璃基板具有高透过率，上下表面缺陷很难区分出是在哪个面，因此难以准确判断哪些基板需要再次加工。
[0004]在公开号为CN106292009A的专利文献中公开了区分缺陷在玻璃基板A面还是B面的检查法，通过检验员使用灯光倾斜照射至缺陷处，如果此缺陷在A面，光线经过反射与折射后，在肉眼得到的信息中，会有反射光和折射光同时反馈的相同两种缺陷信息，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种玻璃基板表面缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：S1：按要求放置玻璃基板(1)并配置好成像模块；S2：获取玻璃基板(1)整板图像信息；S3：分析玻璃基板(1)整板图像信息并判断缺陷所处位置；其中，步骤S3还包括如下子步骤：S3.1：基于所述玻璃基板(1)整板图像信息提取缺陷图像的特征值；S3.2：比较缺陷图像的特征值并基于比较结果判断缺陷所处位置。2.根据权利要求1所述的玻璃基板表面缺陷检测方法，其特征在于，步骤S3.2按照如下条件判断缺陷所处位置：当比较后存在两个缺陷图像的特征值相同时，判断该缺陷图像对应的缺陷本体(4)位于玻璃基板(1)背离承载模块的表面(7)；当缺陷图像的特征值唯一时，判断该缺陷图像对应的缺陷本体(4)位于玻璃基板(1)与承载模块接触的表面(8)。3.根据权利要求2所述的玻璃基板表面缺陷检测方法，其特征在于，还包括步骤S4：S4.1：计算具有相同特征值的缺陷图像之间的相对距离；S4.2：将计算出的相对距离与预设值进行比对，基于比对结果确认缺陷所处位置。4.根据权利要求3所述的玻璃基板表面缺陷检测方法，其特征在于，所述步骤S4.2依据如下条件进行缺陷的所处位置确认：当计算出的相对距离等于预设值时，确认该缺陷图像对应的缺陷本体(4)处于背离承载模块的表面(7)；当计算出的相对距离不等于预设值时，判断两个缺陷图像对应的缺陷本体(4)处于与承载模块接触的表面(8)上。5.根据权利要求4所述的玻璃基板表面缺陷检测方法，其特征在于，步骤S4.2中的预设值的计算方法为：其中，a为图像获取单元(3)到玻璃基板(1)背离承载模块的表面(7)的垂直距离，b为玻璃基板(1)厚度的两倍，α为图像获取单元(3)与玻璃基板(1)的夹角。6.根据权利要求5所述的一种玻璃基板表面缺陷检测方法，其特征在于，所述图像获取单元(3)与玻璃基板(1)的夹角α的取值范围为0
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【专利技术属性】
技术研发人员：彭寿，张冲，李兆廷，任红灿，陈英，王国全，郑聪，
申请(专利权)人：东旭集团有限公司，
类型：发明
国别省市：