本申请公开了一种MCU的测试装置，包括：MCU微控制器，以及分别与MCU微控制器连接的程序烧录接口、UART1通信接口电路、I2C通信接口电路、SPI通信接口电路、CAN通信接口电路、多路模拟开关电路以及供电选择模块，UART1通信接口电路、I2C通信接口电路、SPI通信接口电路以及CAN通信接口电路各自与多路模拟开关电路相连；LDO电源稳压电路，供电选择模块连接并提供电源；待测MCU烧录座，与多路模拟开关电路连接并用于连通待测MCU；待测MCU程序烧录接口，连接到待测MCU烧录座。本申请的测试装置体积小，方便携带，成本低廉，可以测试常用的通信总线，可以根据测试环境和应用场景更改烧录固件做进一步的功能测试和问题的分析。进一步的功能测试和问题的分析。进一步的功能测试和问题的分析。
【技术实现步骤摘要】
MCU的测试装置
[0001]本专利技术涉及集成电路测试
，更具体的是一种MCU的测试装置。
技术介绍
[0002]随着半导体技术的飞速发展以及互联网云服务器技术的突破，物联网技术逐渐趋于成熟并被广泛的应用到人们的生活、生产和工作当中。在这些领域中对MCU的需求逐年攀升，促进了国内MCU厂家的崛起。MCU市场需求逐渐趋向于开发基于云平台的终端产品或系统方案，诸如智慧家居、智能楼宇、智能穿戴、智慧农业、智能电网、物联网工业自动化生产管理，BMS新能源技术等。
[0003]工程师使用MCU开发消费类电子产品、物联网终端产品、新能源产品等，在产品开发过程中或产品量产的过程当中遇到的一些关于用到的MCU外设功能方面的问题或疑问点需要代理商或原厂的FAE工程师提供技术支持。FAE在技术支持的过程中需要检测MCU的片上外设GPIO口是否正常工作，配置的相关外设功能是否正常通信等。
[0004]目前已有相近的专利技术方案是实验室专用于测试MCU芯片各项技术指标的ATE台式测试仪器，并不能完全替代或模拟客户现场的真实环境。
技术实现思路
[0005]本技术的目的在于提供一种MCU的测试装置，方便FAE外出做技术支持工作时，在客户真实的应用环境中做MCU相关问题点的功能测试和验证，从而给出合理的建议或技术解决方案。
[0006]本申请公开了一种MCU的测试装置，包括：MCU微控制器(微控制器单元，又称单片微型计算机或单片机)，以及分别与所述MCU微控制器连接的程序烧录接口、UART1(通用异步收发器)通信接口电路、I2C(一种同步、半双工的通信总线)通信接口电路、SPI(串行外设接口，一种同步串行接口技术)通信接口电路、CAN(控制器局域网总线)通信接口电路、多路模拟开关电路以及供电选择模块，其中，所述UART1通信接口电路、I2C通信接口电路、SPI通信接口电路、CAN通信接口电路各自与所述多路模拟开关电路相连；
[0007]LDO(低压降线性稳压器)电源稳压电路，所述LDO电源稳压电路与所述供电选择模块连接并提供电源，所述供电选择模块与所述MCU微控制器以及多路模拟开关电路连接并提供电源；
[0008]待测MCU烧录座，所述待测MCU烧录座与所述多路模拟开关电路连接并用于连通待测MCU；
[0009]以及待测MCU程序烧录接口，所述待测MCU程序烧录接口连接到所述待测MCU烧录座。
[0010]在一个优选例中，所述待测MCU烧录座包括四个排母，所述四个排母组成至少100个测试引脚。
[0011]在一个优选例中，所述多路模拟开关电路还包括四个4选1的模拟开关芯片，所述
四个4选1的模拟开关芯片各自连接到所述微控制器、所述UART1通信接口电路、I2C通信接口电路、以及CAN通信接口电路。
[0012]在一个优选例中，所述UART1通信接口电路包括接收通路电阻和发送通路电阻，所述发送通路电阻的一端连接到所述微控制器，另一端连接到所述四个4选1的模拟开关芯片中的两个4选1的模拟开关芯片，所述接收通路电阻的一端连接到所述微控制器，另一端连接到所述四个4选1的模拟开关芯片中的两个4选1的模拟开关芯片。
[0013]在一个优选例中，所述I2C通信接口电路包括时钟通路电阻和数据通路电阻，所述时钟通路电阻的一端连接到所述微控制器，另一端连接到所述四个4选1的模拟开关芯片中的一个4选1的模拟开关芯片，所述数据通路电阻的一端连接到所述微控制器，另一端连接到所述四个4选1的模拟开关芯片中的一个4选1的模拟开关芯片。
[0014]在一个优选例中，所述CAN通信接口电路包括接收通路电阻和发送通路电阻，所述发送通路电阻的一端连接到所述微控制器，另一端连接到所述四个4选1的模拟开关芯片中的一个4选1的模拟开关芯片，所述接收通路电阻的一端连接到所述微控制器，另一端连接到所述四个4选1的模拟开关芯片中的一个4选1的模拟开关芯片。
[0015]在一个优选例中，所述多路模拟开关电路还包括另一个4选1的模拟开关芯片、以及两个2选1的模拟开关芯片，所述另一个4选1的模拟开关芯片以及两个2选1的模拟开关芯片各自连接到所述微控制器、SPI通信接口电路以及待测MCU烧录座。
[0016]在一个优选例中，所述MCU的测试装置还包括：各自与所述微控制器连接的按键输入模块、OLED(有机发光二极管)显示屏、工作状态指示灯和UART2通信接口。
[0017]本技术实施方式与现有技术相比，主要区别及其效果在于：
[0018]本申请侧重于MCU应用层的测试，具备测试常用的通信总线如UART、I2C、SPI、CAN等总线在应用层的通信测试，测试是否能正常收发数据，依此判断通信端口(即GPIO)是否正常。本申请的MCU测试装置体积小巧，方便FAE外出做技术支持时随身携带，成本相对实验室的ATE设备更佳低廉。
[0019]本申请的MCU测试装置可携带到客户的应用现场，根据客户的应用环境做测试和功能验证，测试效率高，方便FAE和客户工程师现场沟通测试结果，快速定位问题并针对问题点给出测试的建议和解决方案，无需寄回实验室等待测试结果。
[0020]进一步的，可随时更改烧录MCU测试装置的固件做进一步的功能测试和问题的分析，以便更接近客户的测试环境和应用场景。
[0021]此外，OLED显示屏可以显示测试项目和测试结果，同时通过UART2通信接口打印输出测试结果到PC电脑端的串口助手，显示测试结果。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1是本技术一个实施例中MCU的测试装置的原理框图。
[0024]图2是本技术一个实施例中电源供电电路原理图。
[0025]图3是本技术一个实施例中MCU微控制器主控最小系统电路原理图。
[0026]图4是本技术一个实施例中MCU微控制器程序烧录接口电路图。
[0027]图5是本技术一个实施例中MCU微控制器的按键输入模块电路图。
[0028]图6是本技术一个实施例中的OLED显示屏接口电路图。
[0029]图7是本技术一个实施例中MCU微控制器的工作状态指示灯电路图。
[0030]图8是本技术一个实施例中待测MCU烧录座的示意图。
[0031]图9是本技术一个实施例中多路模拟开关电路1的示意图。
[0032]图10是本技术一个实施例中UART1通信接口电路的示意图。
[0033]图11是本技术一个实施例中多路模拟开关电路2的示意图。
[0034]图12是本技术一个实施例中硬件I2C通信接口电路的示意图。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种MCU的测试装置，其特征在于，包括：MCU微控制器(101)，以及分别与所述MCU微控制器(101)连接的程序烧录接口(113)、UART1通信接口电路(103)、I2C通信接口电路(104)、SPI通信接口电路(105)、CAN通信接口电路(106)、多路模拟开关电路(108)以及供电选择模块(111)，其中，所述UART1通信接口电路(103)、I2C通信接口电路(104)、SPI通信接口电路(105)以及CAN通信接口电路(106)各自与所述多路模拟开关电路(108)相连；LDO电源稳压电路(112)，所述LDO电源稳压电路(112)与所述供电选择模块(111)连接并提供电源，所述供电选择模块(111)与所述MCU微控制器(101)以及多路模拟开关电路(108)连接并提供电源；待测MCU烧录座(116)，所述待测MCU烧录座(116)与所述多路模拟开关电路(108)连接并用于连通待测MCU；以及待测MCU程序烧录接口(117)，所述待测MCU程序烧录接口(117)连接到所述待测MCU烧录座(116)。2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述待测MCU烧录座包括四个排母(HDR1，HDR2，HDR3，HDR4)，所述四个排母组成至少100个测试引脚。3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述多路模拟开关电路(108)包括四个4选1的模拟开关芯片(U4，U5，U6，U7)，所述四个4选1的模拟开关芯片(U4，U5，U6，U7)各自连接到所述微控制器(101)、所述UART1通信接口电路(103)、I2C通信接口电路(104)、以及CAN通信接口电路(106)。4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述U...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：上海灵动微电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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