【技术实现步骤摘要】
芯片测试多界面联动显示方法及系统
[0001]本申请涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片测试多界面联动显示方法及系统。
技术介绍
[0002]芯片的测试环节中需要对测试的情况进行监控。相关技术中，对于批量测试环境，会通过上位机统一对测试过程以及测试结果进行监控，当管理者发现现场测试存在问题的情况下，管理者会通知现场测试人员对测试现场进行检查，但是由于现场测试人员只能通过管理者告知具体问题类型，会导致现场测试人员无法获知真正具体的问题，从而使得现场测试人员在确定维护手段的时间过长，降低了芯片测试的效率和质量。
技术实现思路
[0003]本申请实施例的主要目的在于提出一种芯片测试多界面联动显示方法及系统，能够提高芯片测试的效率和质量。
[0004]为实现上述目的，本申请实施例的第一方面提出了一种芯片测试多界面联动显示方法，应用于第一终端设备，所述方法包括：显示第一测试界面，其中，所述第一测试界面实时显示有芯片测试的初始测试内容，所述初始测试内容包括多个不同测试环境下的测试信息；响应于联动内容选择操作，在...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片测试多界面联动显示方法，应用于第一终端设备，其特征在于，所述方法包括：显示第一测试界面，其中，所述第一测试界面实时显示有芯片测试的初始测试内容，所述初始测试内容包括多个不同测试环境下的测试信息；响应于联动内容选择操作，在第一测试界面中显示目标测试内容，并在第二终端设备的第二测试界面上显示所述目标测试内容，其中，所述目标测试内容为从所述初始测试内容中选择的若干项所述测试信息；其中，所述第二终端设备，是服务器在接收到所述目标测试内容后，根据所述目标测试内容确定的对应目标测试环境下的设备；所述目标测试内容由所述第一终端设备实时通过本地网络发送给所述服务器，再由所述服务器发送给所述第二终端设备。2.根据权利要求1所述的芯片测试多界面联动显示方法，其特征在于，所述方法还包括：响应于内容调整操作，增加或删除所述初始测试内容中的所述测试信息，并在增加或删除的所述测试信息属于所述目标测试环境时，更新所述目标测试内容，在第一测试界面显示更新后的所述目标测试内容；实时将更新后的所述目标测试内容经过所述服务器发送到所述第二终端设备中，以使所述第二测试界面显示更新后的所述目标测试内容。3.根据权利要求1所述的芯片测试多界面联动显示方法，其特征在于，所述实时将所述目标测试内容通过本地网络传输到服务器中，包括：显示所述目标测试内容对应的多个测试环境；响应于联动目标选择操作，在第一测试界面中显示目标测试环境，所述目标测试环境为从所述目标测试内容对应的多个测试环境中选择的一个测试环境；实时将所述目标测试环境的信息和所述目标测试内容发送到服务器中，以使所述服务器直接将所述目标测试内容发送到所述目标测试环境下的第二终端设备中。4.根据权利要求1所述的芯片测试多界面联动显示方法，其特征在于，所述初始测试内容通过以下步骤生成：响应于第一显示配置操作，获取不同测试环境的测试人员信息、所述测试人员信息对应设备的设备编码信息、每台设备对应端口的端口编码信息，并获取所述测试人员信息、所述设备编码信息和所述端口编码信息各自对应的测试良率信息；根据所述测试人员信息、所述设备编码信息、所述端口编码信息和对应的多个所述测试良率信息作为所述测试信息，并生成所述初始测试内容。5.根据权利要求4所述的芯片测试多界面联动显示方法，其特征在于，所述初始测试内容还通过以下步骤生成：响应于第二显示配置操作，获取各个端口在芯片测试过程中检测到的参数信息，所述参数信息包括电流参数、电阻参数、管脚参数、频率参数和容量参数；将所述参数信息作为所述测试信息的一部分，并生成所述初始测试内容，其中，在所述初始测试内容中，各个所述测试良率信息均显示有对应的所述参数信息。6.一种芯片测试多界面联动显示方法，应用于第二终端设备，其特征在于，所述方法包括：
接收服务器发送的目标测试内容；显示第二测试界面，通过所述第二测试界面显示所述目标测试内容；其中，所述目标测试内容由所述服务器从第一终端设备接收得到，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：宋文杰，
申请(专利权)人：深圳市晶存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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