基于控制器域网CAN总线的芯片测试方法和装置制造方法及图纸

本公开涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种基于控制器域网CAN总线的芯片测试方法、装置，应用于与至少两个芯片测试板连接的CAN测试盒，所述方法包括：接收第一开始测试指令，第一测试指令包括身份识别标识，且第一开始测试指令用于指示身份识别标识指示的目标芯片测试板开始测试目标任务；响应于第一开始测试指令，将第一开始测试指令转换为遵循CAN总线协议的第二开始测试指令，目标芯片测试板为至少两个芯片测试板中的芯片测试板；通过CAN总线发送第二开始测试指令。该方法可以通过CAN总线将遵循CAN总线协议的开始测试指令传输至至少两个芯片测试板以进行测试，从而可以实现批量芯片测试且测试线路简洁，也降低了测试成本。本。本。

【技术实现步骤摘要】
基于控制器域网CAN总线的芯片测试方法和装置


[0001]本公开涉及芯片测试
，具体涉及一种基于控制器域网CAN总线的芯片测试方法、装置。

技术介绍

[0002]功能测试(Functional Test，FT)是用于测试芯片的逻辑功能，通常，当芯片封装完成后，需对封装后的芯片进行FT功能测试，通过FT的芯片才能在市场进行销售。
[0003]相关技术中，大多数芯片的FT测试都使用专业的测试机台来完成。然而，使用常规的测试方法，需要将测试机台中的测试资源全部从测试机台中引出，这导致测试线较多，测试工位一般为2
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16个，因此并不适合使用温箱等低成本恒温环境，从而使得在批量测试芯片时测试线路复杂，且测试成本较高。

技术实现思路

[0004]为了解决相关技术中的问题，本公开实施例提供一种基于控制器域网CAN总线的芯片测试方法、装置。
[0005]第一方面，本公开实施例中提供了一种基于控制器域网CAN总线的芯片测试方法，应用于与至少两个芯片测试板连接的CAN测试盒，所述方法包括：
[0006本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于控制器域网CAN总线的芯片测试方法，其特征在于，应用于与至少两个芯片测试板连接的CAN测试盒，所述方法包括：接收第一开始测试指令，所述第一测试指令包括身份识别标识，且所述第一开始测试指令用于指示所述身份识别标识指示的目标芯片测试板开始测试目标任务；响应于所述第一开始测试指令，将所述第一开始测试指令转换为遵循CAN总线协议的第二开始测试指令，所述目标芯片测试板为所述至少两个芯片测试板中的芯片测试板；通过所述CAN总线发送所述第二开始测试指令。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过所述CAN总线发送所述第二开始测试指令之后，所述方法还包括：接收第一返回测试结果指令，所述第一返回测试结果指令用于指示所述至少两个芯片测试板测试完成所述目标任务后返回测试结果信息；响应于所述第一返回测试结果指令，将所述第一返回测试结果指令转换为遵循CAN总线协议的第二返回测试结果指令；通过所述CAN总线发送所述第二返回测试结果指令；接收所述至少两个芯片测试板中每个芯片测试板发送的测试结果信息。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述接收所述至少两个芯片测试板中每个芯片测试板发送的测试结果信息之前，所述方法包括：从发送所述第二返回测试结果指令开始计时；所述接收所述至少两个芯片测试板中每个芯片测试板发送的测试结果信息，包括：响应于计时时长与预设时长匹配，通过所述CAN总线接收所述至少两个芯片测试板中第i个芯片测试板发送的第一测试结果信息，所述第一测试结果信息为所述第i个芯片测试板测试所述目标任务完成后得到的；其中，预设时长根据所述第i个芯片测试板对应的识别码函数和所述第一测试结果信息确定。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标芯片测试板为至少两个芯片测试板中的芯片测试板，包括：所述目标芯片测试板为所述至少两个芯片测试板中指定的芯片测试板；或者，所述目标芯片测试板为所述至少两个芯片测试板。5.根据权利要求1或4所述的方法，其特征在于，所述通过所述CAN总线发送所述第二开始测试指令之后，所述方法还包括：通过所述CAN总线接收所述目标芯片测试板发送的第二测试结果信息，所述第二测试结果信息为所述目标芯片测试板测试所述目标任务完成后得到的。6.一种基于控制器域网CAN总线的芯片测试装置，其特征在于，应用于与至少两个芯片测试板连接的CAN测试盒，所述芯片测试装置包括：第一接收模块，被配置为接收第一开始测试指令，所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙云龙，张学磊，孙昕，原义栋，李思琦，
申请(专利权)人：北京智芯微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：