一种平均功耗测量方法及装置制造方法及图纸

本申请公开了一种平均功耗测量方法及装置，该方法包括：获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗；N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景；其中，N为正整数；根据目标测量时长，确定每个使用场景对应的时间权重值；根据每个使用场景对应的单位时间功耗和每个使用场景对应的时间权重值，确定目标芯片在目标测量时长内的平均功耗。通过实施本申请实施例提供的方法，可以提升平均功耗测量的效率。功耗测量的效率。功耗测量的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种平均功耗测量方法及装置


[0001]本申请涉及通信
，尤其涉及一种平均功耗测量方法及装置。

技术介绍

[0002]在评估芯片的优劣时，通常会将平均功耗作为一个重要的评估指标。目前，对于芯片平均功耗的测量，往往是通过使用外部测量电路，实时地获取一段时间内电流变化，从而计算得到该段时间内芯片的平均功耗。但是，该方式首先需要与外部测量电路进行交互，以获取计算平均功耗所需的参数，从而再根据获取到的参数进行平均功耗的计算，该方法降低了平均功耗测量的效率。

技术实现思路

[0003]本申请公开了一种平均功耗测量方法及装置，可以提升平均功耗测量的效率。
[0004]第一方面，本申请提供了一种平均功耗测量方法，该方法可由电子设备执行，也可由与电子设备匹配的装置(例如处理器、芯片或芯片模组等)执行。该方法包括：获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗；N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景；其中，N为正整数；根据目标测量时长，确定每个使用场景对应的时间权重值；根据每个使用场景对应的单位时间功耗和每个使用场景本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平均功耗测量方法，其特征在于，所述方法包括：获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗；所述N个使用场景为目标芯片在目标测量时长内对应的使用场景；其中，N为正整数；根据所述目标测量时长，确定所述每个使用场景对应的时间权重值；根据所述每个使用场景对应的单位时间功耗和所述每个使用场景对应的时间权重值，确定所述目标芯片在所述目标测量时长内的平均功耗。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗，包括：从所述目标芯片的存储器中读取所述N个使用场景中每个使用场景对应的单位时间功耗。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标测量时长，确定所述每个使用场景对应的时间权重值，包括：获取所述目标测量时长内所述目标芯片在使用场景i下的工作时长；基于所述目标测量时长和所述目标芯片在所述使用场景i下的工作时长，确定所述目标测量时长内所述使用场景i对应的时间权重值；其中，所述使用场景i为所述N个使用场景中的任一使用场景。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标测量时长，确定所述每个使用场景对应的时间权重值，包括：获取所述目标测量时长内所述目标芯片在使用场景i下的工作频率；基于所述目标测量时长和所述目标芯片在所述使用场景i下的工作频率，确定所述目标测量时长内所述使用场景i对应的时间权重值；其中，所述使用场景i为所述N个使用场景中的任一使用场景。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个使用场景对应的单位时间功耗和所述每个使用场景对应的时间权重值，确定所述目标芯片在所述目标测量时长内的平均功耗，包括：计算使用场景j对应的单位时间功耗与所述使用场景j对应的时间权重值的乘积，得到所述使用场景j对应的功耗；根据所述使用场景j对应的功耗，计算所述目标芯片在所述目标测量时长内的平均功耗；其中，使用场景j为所述N个使用场景中的任一使用场景。6.根据权利要求1
‑
5中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取所述目标芯片的芯片类型对应的至少一个关键参数；所述至少一个关键参数中的每个关键参数包括至少一个子参数；基于所述每个关键因素包括的至少一个子参数，确定所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴鑫，
申请(专利权)人：展讯半导体成都有限公司，
类型：发明
国别省市：