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本申请提供了芯片测试多界面联动显示方法及系统，属于芯片测试技术领域。第一终端设备上的方法包括：显示第一测试界面，其中，第一测试界面实时显示有芯片测试的初始测试内容，初始测试内容包括多个不同测试环境下的测试信息；响应于联动内容选择操作，在第一...
该专利属于深圳市晶存科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市晶存科技有限公司授权不得商用。

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