一种极紫外谱线探测仪器制造技术

本发明专利技术公开了极紫外谱线探测仪器，包括光束准直器、滤光组件、狭缝部件、光栅和探测器，滤光组件包括滤光片轮以及滤光片，狭缝部件形成有工作狭缝和定标狭缝，工作狭缝与光栅之间的水平距离小于探测器与光栅之间的水平距离以使工作狭缝、光栅与探测器三者之间位置关系偏离传统的罗兰圆关系；极紫外谱线探测仪器正常工作时，工作光路开启，定标光路关闭；极紫外谱线探测仪器对工作狭缝光定标时，工作光路开启，定标光路开启，经光束准直器准直后的入射光线经滤光片过滤后经工作狭缝入射至光栅的第一位置，并经汇聚至探测器的第一位置，且经光束准直器准直后的入射光线经滤光片过滤后经定标狭缝入射至光栅的第二位置，并汇聚至探测器的第二位置。测器的第二位置。测器的第二位置。

【技术实现步骤摘要】
一种极紫外谱线探测仪器


[0001]本专利技术涉及极紫外谱线探测领域，尤其涉及一种航天应用的高灵敏度、具备在轨自定标功能的极紫外谱线探测仪器。

技术介绍

[0002]宇宙中有大量的天体目标，如恒星、活跃星系核、超新星、中子星、黑洞和星际物质等，都能辐射大量的极紫外光子辐射。通过在极紫外波段观测这些天文目标谱线，可以探索天体目标周围物理现象及物质成分、研究天体目标形态演化规律、分析星际间物质成份以及研究黑洞起源演化等大量重大科学问题。但是，目前的极紫外谱线测量仪器存在灵敏度不够高、在轨工作性能衰减等问题，导致不能对微弱的空间天文目标进行高精度的定量化谱线探测。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种极紫外谱线探测仪器，其旨在解决现有的极紫外谱线测量仪器不能够对微弱的空间天文目标进行高精度的定量化谱线探测的技术问题。
[0004]为达到上述目的，本专利技术提供的方案是：
[0005]一种极紫外谱线探测仪器，包括光束准直器、滤光组件、狭缝部件、光栅和探测器，所述滤光组件包括可转动的滤光片轮以及至少两个设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种极紫外谱线探测仪器，其特征在于，包括光束准直器、滤光组件、狭缝部件、光栅和探测器，所述滤光组件包括可转动的滤光片轮以及至少两个设置在所述滤光片轮上的滤光片，所述狭缝部件形成有并排设置的工作狭缝和定标狭缝，所述光束准直器、所述滤光组件、所述工作狭缝、所述光栅和所述探测器形成工作光路，且所述光束准直器、所述滤光组件、所述定标狭缝、所述光栅和所述探测器形成定标光路，所述工作狭缝与所述光栅之间的水平距离小于所述探测器与所述光栅之间的水平距离以使所述工作狭缝、所述光栅与所述探测器三者之间的位置关系偏离传统的罗兰圆关系；所述极紫外谱线探测仪器用于正常工作时，所述工作光路开启，所述定标光路关闭，经所述光束准直器准直后的入射光线经所述工作狭缝入射至所述光栅的第一位置，并经汇聚至所述探测器的第一位置；所述极紫外谱线探测仪器用于对工作狭缝光定标时，所述工作光路开启，所述定标光路开启，经所述光束准直器准直后的入射光线经所述滤光片过滤后经所述工作狭缝入射至所述光栅的第一位置，并汇聚至所述探测器的第一位置，且经所述光束准直器准直后的入射光线经所述滤光片过滤后经所述定标狭缝入射至所述光栅的第二位置，并汇聚至所述探测器的第二位置。2.如权利要求1所述的极紫外谱线探测仪器，其特征在于，所述工作狭缝的宽度为0.01mm
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0.03mm，长度为1mm
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3mm，所述定标狭缝的宽度为0.01mm
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0.03mm，长度为1
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3mm，所述工作狭缝和所述定标狭缝之间的距离为5mm
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15m...

【专利技术属性】
技术研发人员：何玲平，王蕴琦，黄斌，陈波，李朝辉，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：