自动开关机测试系统及方法技术方案

一种自动开关机测试系统，可广泛应用于电源设备的电子产品的开关机测试中，该自动开关机测试系统包括一处理模块，其用于设置测试参数，接收、储存并且实时监控待测物体的测试信息，以及控制待测物体的测试状态；一显示模块，其用于提供设置测试参数界面，并且显示系统设定的测试信息；一电源控制模块，其包括一直流电源控制模块和一交流电源控制模块，一复位控制模块连接；其用于测试前，对系统所有的计数电路重置归零；一开关机控制模块，其包括一开机控制模块和一关机控制模块，利用上述自动开关机测试系统有效提升测试结果的可靠性及控制设备的简单化，而且使得测试时间大幅减少。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种开关机测试系统及方法，且特别是涉及一种自动开关机测 试系统及方法。
技术介绍
很多相关的电子产品，如收录机、电视机、录象机、数码相机等，以及目 前的个人计算机、工作站、服务器、便携式计算机及计算机外围设备等等，都 必须要有电源设备，而有电源就会有电源开关部件，因而我们可利用电源开关 在打开电源的瞬间对产品所造成的冲击，来进行产品"开/关"机强度测试，无 论是在新产品的开发涉及阶段、纠错阶段或产品质量可靠性方面都是一个很重 要的测试项目，尤其是目前数字电子产品如个人计算机的开/关机强度测试，更是一项必须的测试，可以发现系统供电稳定度及BIOS初始化系统内各个组件匹配时潜在的问题例如主机板各个IC的工作时序；时间脉冲的上升、下降及其 形状，准确度与干扰等，都会影响产品的工作稳定度。因此，为了使新产品能顺利开发成功并避免产品潜在的问题，现有技术针 对此项幵关循环测试的方式，是将硬件及软件分开独立进行，硬件上的测试装 置是单方面的设定开机时间和开关次数，并无法得知失效时间和失效点。因软 件测试部份被独立分隔开来，其时间上已然增加了一倍以上，此方法也同时忽 略了软硬件开关机间的相互关系，将造成部分可能的潜在失效因子无法被测试 出来。后来虽有结合软硬件同时测试的装置，但因需通过另外另一台计算机主 机来控制开关机装置，在使用上增加了系统复杂度与不方便性。因此，实有必要提供一种，该自动开关机测试 系统及方法不仅系统设备简单，而且同时测试效率较高、测试结果可靠性高。
技术实现思路
鉴于这种问题，本专利技术的目的在于提供一种， 该能大大提高了测试效率和测试结果的可靠性，而 且系统设备简单。为实现上述目的，本专利技术提供一种自动开关机测试系统，该自动开关机测 试系统包括一待测物体，该待测物体用于存储一计数控制程序，且自动开关机 测试系统除了待测物体外，其还包括译码模块，该译码模块待测物体相互通信，用于对待测物体反馈的测试信 息进行译码，并传送该译码信息给一处理模块；处理模块，其用于设置测试参数，接收、储存并且实时监控待测物体的测试信息，以及控制待测物体的测试状态，且该处理模块传送接收的测试信息给 一显示模块；显示模块，其用于提供设置测试参数界面，并且显示系统设定的测试信息;电源控制模块，其包括一交流电源控制模块，该交流电源控制模块用于进 行交流供电系统的测试，且该电源控制模块与一复位控制模块相互通信；复位控制模块，该复位控制模块与处理模块相互通信，以用于测试前，对 系统所有的计数电路重置归零；且该复位控制模块与一开关机控制模块相互通 信；开关机控制模块，其包括一开机控制模块和一关机控制模块，该开机控制 模块用于控制待测物体的开机动作，关机控制模块用于控制待测物体的关机动 作；其中，所述待测物体为具有电源设备的开关机电子设备； 其中，所述存储于待测物体的计数控制程序用于储存测试过程中每次开关 机的测试信息，以便调试人员参考；其中，所述译码模块通过USB接口和待测物体进行通信； 其中，所述处理模块为写入控制程序的CPLD单芯片；其中，所述电源控制模块还包括一直流电源控制模块，该直流电源控制模 块用于进行直流供电系统的测试；其中，所述显示模块上设置有开关机时间、开关机次数、测试时间等显示 单元；其中，所述显示模块上的每个显示单元均可以独立使用0到9的循环式数 字开关；其中，所述显示模块上的测试时间可设定为99小时59分，可设定开关机 次数为9999次，符合长时间的测试作业。为达上述目的，本专利技术还提供一种自动开关机的测试方法，该自动开关机 方法包括步骤a储存一计数控制程序于待测物体的任一目录下，b执行该计数控制程序，并填入执行时间以及执行次数，等跑完第一次初始开机时间，待测物体自动关机；c通过自动开关机测试系统设定开关机时间以及开关机次数；d系统开始测试，复位控制模块重置系统所有的计数电路为零，并由开机控制模块开机计数，当开机控制模块计数至设定时间，发送一高电位给处理模块；e处理模块接收到该高电位，开机控制模块计数一次，同时处理模块发送 一控制信号给关机控制模块；f关机控制模块收到关机控制信号后，执行控制待测物体关机，并由关机控5制模块开机计数，等计数至设定的关机时间时，关机控制模块发送一低电位给 处理模块；g处理模块接收到该低电位，关机控制模块计数一次，同时处理模块发送 一控制信号给开机控制模块；h依此循环测试，当执行到设定的开关机次数时，处理模块发出一高电位 给开机控制模块，待测物体处于开机状态，计数控制程序以及显示模块显示测试结果；其中，所述储存于待测物体上的计数控制程序提供一操作界面给测试人员， 测试人员可通过该操作界面设定测试参数以及重置测试参数。.本专利技术提供的自动开关机测试系统能大大提高了测试效率和测试结果的可 靠性，而且系统设备简单。为使对本专利技术的结构及其功能有进一步的了解，兹配合图示详细说明如下附图说明图1为本专利技术一较佳实施例的系统方块图； 图2为本专利技术的一较佳实施例的电路方块图； 图3为本专利技术设定开关机时间的具体电路图； 图4为本专利技术设定测试时间的具体电路图； 图5为本专利技术显示实际测试次数的具体电路图6为本专利技术一较佳实施例具体测试的流程图。 .具体实施方式图1为本专利技术一较佳实施例的系统方块图，该自动开关机测试系统10包括 一待测物体20，该待测物体20为具有电源设备的开关机电子设备，于本实施例 中，该待测物体20可为一笔记本计算机，该待测物体20用于存储一计数控制 程序，该计数控制程序用于储存测试过程中每次开关机的测试信息，以便调试 人员参考，且该计数控制程序提供一操作界面给测试人员，测试人员可通过该 操作界面设定测试参数以及重置测试参数，该自动开关机测试系统IO除了待测 物体20外还包括一译码模块101，于本实施例中，该译码模块101通过USB接 口与待测物体20通信，用于对待测物体20反馈的测试信息进行译码，并传送 该译码信息给一处理模块102;该处理模块102用于设置测试参数，接收、储存 并且实时监控待测物体20的测试信息，以及控制待测物体20的测试状态，且 该处理模块102传送接收的测试信息给一显示模块103;该显示模块103用于提 供设置测试参数界面，这些测试参数包括有开关机时间、开关机次数、测试时 间等显示单元；且用于显示系统设定的测试信息；另外，所述处理模块102还 可与一开关机控制模块104相互通信，该开关机控制模块104包括一开机控制 模块105和一关机控制模块106，该开机控制模块105用于控制待测物体20的 开机动作，关机控制模块106用于控制待测物体20的关机动作；且该开关机控制模块104还与一复位控制模块30相连接，该复位控制模块30用于测试前， 对系统所有的计数电路重置归零，该复位控制模块30连接一电源控制模块107， 该电源控制模块107包括一直流电源控制模块108和一交流电源控制模块109， 该直流电源控制模块108用于进行直流供电系统的测试，交流电源控制模块109 用于进行交流供电系统的测试。请参阅图2，图3及图4所示，图2为本专利技术的一较佳实施例的电路方块图， 其包括一设定开关机时间电路501、测试时间设定电路502、测试次数显示电路 503以及电源电路504，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种自动开关机测试系统，应用于具有电源设备的电子产品的开关机测试中，该自动开关机测试系统包括一待测物体，该待测物体用于存储一计数控制程序，且自动开关机测试系统除了待测物体外，其特征在于：该自动开关机测试系统还包括：　译码模块，该译码模 块待测物体相互通信，用于对待测物体反馈的测试信息进行译码，并传送该译码信息给一处理模块；　处理模块，其用于设置测试参数，接收、储存并且实时监控待测物体的测试信息，以及控制待测物体的测试状态，且该处理模块传送接收的测试信息给一显示模块； 　显示模块，其用于提供设置测试参数界面，并且显示系统设定的测试信息；　电源控制模块，其包括一交流电源控制模块，该交流电源控制模块用于进行交流供电系统的测试，且该电源控制模块与一复位控制模块相互通信；　复位控制模块，该复位控 制模块与处理模块相互通信，其用于测试前，对系统所有的计数电路重置归零；且该复位控制模块与一开关机控制模块通信；　开关机控制模块，其包括一开机控制模块和一关机控制模块，该开机控制模块用于控制待测物体的开机动作，关机控制模块用于控制待测物 体的关机动作。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王启禹，
申请(专利权)人：佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司，
类型：发明
国别省市：44[中国|广东]