边界扫描芯片故障检测装置及方法制造方法及图纸

技术编号:3787416 阅读:222 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术揭示了一种边界扫描芯片故障检测装置及方法,利用应用程序连接到被测芯片的测试接口,对被测芯片进行全面检测;本发明专利技术装置包括:一应用程序模块,设置有一向量发送单元,可向该被测芯片发送测试向量,对该被测主板进行检测;一接收及分析反馈信息单元,接收被测芯片的反馈信息,并通过分析该反馈信息得出检测结果;一显示模块,显示该通过该应用程序模块分析反馈信息所得出的对被测芯片的检测结果;此装置通过如下步骤:a.向被测芯片发送一测试向量;b.接收并分析被测芯片的反馈信息;c.显示通过分析反馈信息得出的检测结果;实现对被测芯片全面的检测,可顺利检测到被测芯片问题点,并准确定位,使测试更简便。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及到一种故障检测装置及方法,特别是涉及到一种边界扫描芯片 故障检测装置及方法。
技术介绍
对电路板上故障的检测,通常是采用探针、针床等传统检测设备进行测试。 随着集成电路的发展进入超大规模集成电路时代,电路板的高度复杂性以及多层印制板、表面封装(SMT)、球栅阵列(BGA)、圆片规模集成(WSI)和多芯片模块 (MCM)技术在电路系统中的适用,使得电路节点的物理可访问性正逐步削弱以 至消失,电路和系统的可测试性急剧下降。由于电路板的集成度越来越大,可 供测试的结点间距离越来越小,有的甚至完全成为隐性结点,在这种情况下, 如果只采用探针、针床等传统测试设备进行芯片故障测试就存在很多弊端,甚 至无法进行有效测试。首先是芯片引脚间距越来越小,探针伸上去比较困难, 如果一定要将探针伸上去还有可能损伤芯片本身;其次有的芯片引脚已经成为 隐性结点,根本无法使用探针,比如BGA封装的芯片和MCM芯片等。这不但使 测试成本在电路和系统总开销中所占比例不断上升,测试周期加长,而且仍然 有很多不可测的情况存在,因此常规测试方法正面临着日趋严重的测试困难。针对这种情况,电子测试的研究方向也从本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种边界扫描芯片故障检测方法,其特征在于,利用应用程序连接到被测芯片的测试接口,对被测芯片进行全面检测; 本方法的具体步骤为: a.向被测芯片发送一测试向量,进行检测; b.接收并分析被测芯片的反馈信息; c.显示通 过分析反馈信息得出的检测结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘占锋
申请(专利权)人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司
类型:发明
国别省市:44[中国|广东]

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