【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及到一种故障检测装置及方法,特别是涉及到一种边界扫描芯片 故障检测装置及方法。
技术介绍
对电路板上故障的检测,通常是采用探针、针床等传统检测设备进行测试。 随着集成电路的发展进入超大规模集成电路时代,电路板的高度复杂性以及多层印制板、表面封装(SMT)、球栅阵列(BGA)、圆片规模集成(WSI)和多芯片模块 (MCM)技术在电路系统中的适用,使得电路节点的物理可访问性正逐步削弱以 至消失,电路和系统的可测试性急剧下降。由于电路板的集成度越来越大,可 供测试的结点间距离越来越小,有的甚至完全成为隐性结点,在这种情况下, 如果只采用探针、针床等传统测试设备进行芯片故障测试就存在很多弊端,甚 至无法进行有效测试。首先是芯片引脚间距越来越小,探针伸上去比较困难, 如果一定要将探针伸上去还有可能损伤芯片本身;其次有的芯片引脚已经成为 隐性结点,根本无法使用探针,比如BGA封装的芯片和MCM芯片等。这不但使 测试成本在电路和系统总开销中所占比例不断上升,测试周期加长,而且仍然 有很多不可测的情况存在,因此常规测试方法正面临着日趋严重的测试困难。针对这种情况,电 ...
【技术保护点】
一种边界扫描芯片故障检测方法,其特征在于,利用应用程序连接到被测芯片的测试接口,对被测芯片进行全面检测; 本方法的具体步骤为: a.向被测芯片发送一测试向量,进行检测; b.接收并分析被测芯片的反馈信息; c.显示通 过分析反馈信息得出的检测结果。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:刘占锋,
申请(专利权)人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司,
类型:发明
国别省市:44[中国|广东]
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