X射线荧光光谱标准样品及其制备方法和应用技术

本申请涉及分析测试技术领域，特别是一种X射线荧光光谱标准样品的制备方法及其制备方法和应用。X射线荧光光谱标准样品的制备方法，包括如下步骤：步骤S1：提供硅砂标准物质粉末；步骤S2：将硅砂标准物质粉末、助熔剂和稳定剂混合得到混合物，稳定剂能够分解形成氧化镁；步骤S3：对混合物进行熔融处理，冷却后得到标准样品。上述制备方法加入能够分解形成氧化镁的稳定剂，延长了标准样品的保存期。氧化镁属于玻璃的网络外体氧化物，能够改善标准样品的性能，提高了标准样品的化学稳定性和机械强度。在实际应用中，上述标准样品可对X射线荧光光谱仪进行多次校正，且能够保证测试的准确性，故而能够降低XRF分析测试的制样成本并提高检测的效率。高检测的效率。

【技术实现步骤摘要】
X射线荧光光谱标准样品及其制备方法和应用


[0001]本申请涉及分析测试
，特别是一种X射线荧光光谱标准样品的制备方法及其制备方法和应用。

技术介绍

[0002]硅砂是制备玻璃和陶瓷等材料的原料之一，其主要成分包括二氧化硅和氧化铝。硅砂的组成对制品的性能有着重要影响，传统技术通常采用化学分析或X射线荧光光谱分析(XRF分析)测试硅砂的组分。化学分析(例如原子吸收光谱法和原子发射光谱法)通常需要将样品经过盐酸或氢氟酸消解之后才能进行检测，存在一定的安全风险，并且检测周期通常在2个工作日以上，故而化学分析在实际应用中受到了限制。XRF分析具有检测效率高、灵敏度高和测试结果可靠等优势，被广泛应用于冶金、地质和矿物等领域。
[0003]由于X射线荧光光谱仪可能存在仪器误差，因此在测试前需要使用标准样品对仪器进行校准。标准样品通常采用熔片法制备，具体是将固态的样品通过熔融的方式制成玻璃样品片。一般情况下，标准样品的保存期不超过48小时。若使用超过保存期的标准样品进行测试，会影响测试结果的准确性。这样一来，在每次测试前都需要重新制备标准样品，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X射线荧光光谱标准样品的制备方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1：提供硅砂标准物质粉末；步骤S2：将所述硅砂标准物质粉末、助熔剂和稳定剂混合得到混合物，所述稳定剂能够受热分解形成氧化镁；步骤S3：对所述混合物进行熔融处理，冷却后得到标准样品。2.根据权利要求1所述的X射线荧光光谱标准样品的制备方法，其特征在于，对硅砂标准物质进行研磨得到所述硅砂标准物质粉末；可选地，所述硅砂标准物质粉末的粒度不超过200目。3.根据权利要求1所述的X射线荧光光谱标准样品的制备方法，其特征在于，所述步骤S2之前还包括：对所述硅砂标准物质粉末、所述助熔剂和所述稳定剂进行干燥处理。4.根据权利要求1所述的X射线荧光光谱标准样品的制备方法，其特征在于，所述助熔剂包括四硼酸锂和偏硼酸锂中的至少一种。5.根据权利要求1所述的X射线荧光光谱标准样品的制备方法，其特征在于，所述稳定剂包括硼酸镁和偏硼酸镁中的至少一种。6....

【专利技术属性】
技术研发人员：黄军，平文亮，郭学谦，肖子凡，刘红刚，刘惠敏，沈志峰，
申请(专利权)人：中国南玻集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：