电路参数多点测试仪制造技术

本发明专利技术涉及一种电路参数多点测试仪，包括至少一台电路参数测试仪器、模拟总线、多路开关组、转接器，所述多路开关组包括多个多路开关，所述转接器用于连接多路开关和被测电路，所述电路参数多点测试仪还包括仪器端矩阵开关，所述仪器端矩阵开关用于仪器测试线和模拟总线之间的选通，所述每个多路开关包括模拟总线连接开关和电路连接开关，所述多路开关组的模拟总线连接开关、模拟总线组成电路端矩阵开关，所述电路连接开关用于实现测试回路在不同被测电路之间的切换。本发明专利技术解决了电路参数测试中测试仪器扩展性差，多台测试仪器不能同时工作，浪费以及测试不灵活的缺点，具有扩展性强、拓扑结构灵活的优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及虚拟仪器
，是一种电路参数多点测试仪器。
技术介绍
现有的电路参数测试仪器，有些采用矩阵开关，但带来了开关数量的浪费，有些采 用多路开关，但带来了测试不灵活的缺点。另外，电路参数测试仪器的扩展性差，多台测试 仪器不能同时工作。
技术实现思路
本专利技术目的在于克服电路参数测试中测试仪器扩展性差，多台测试仪器不能同时 工作，仅用矩阵开关带来的开关数量的浪费和仅用多路开关带来的测试的不灵活的缺点， 提供一种扩展性强、拓扑结构灵活的开放式电路参数多点测试仪。本专利技术的技术解决方案是一种电路参数多点测试仪，包括至少一台电路参数测试仪器1、模拟总线2、多路 开关组、转接器6，所述多路开关组包括多个多路开关5，所述转接器6用于连接多路开关5 和被测电路9，其特殊之处在于所述电路参数多点测试仪还包括仪器端矩阵开关4，所述 仪器端矩阵开关4用于仪器测试线8和模拟总线2之间的选通，所述每个多路开关5包括 模拟总线连接开关51和电路连接开关52，所述多路开关组的模拟总线连接开关51、模拟总 线2组成电路端矩阵开关7，所述电路连接开关52用于实现测试回路在不同被测电路9之 间的切换。上述电路参数测试仪器1包括万用表、绝缘性测试仪、耐压测试仪中的一种或任 意几种的组合。上述电路参数测试仪器1包括万用表、信号源、示波器、绝缘性测试仪、耐压测试 仪中的一种或任意几种的组合。上述模拟总线2还包括扩展模拟总线3。本专利技术具有以下优点1、本专利技术通过测试仪器、仪器端矩阵开关的组合，可实现多种测试功能的任意扩 展；通过增加多路开关的数量可以实现多路测试的测试点数的任意扩展；2、本专利技术可实现多台测试仪器同时测试。3、本专利技术特别适合于大型设备和系统中各种电路的维修和故障定位，可应用于船 舶、航天、航空、大型测试系统及自动化工厂等领域中。附图说明图1是本专利技术多芯电缆测试仪的结构示意框图；图2是本专利技术多芯电缆测试仪的拓扑结构图；其中1_电路参数测试仪器，2-模拟总线，3-扩展模拟总线，4-仪器端矩阵开关，5-多路开关，51-模拟总线连接开关，52-电路连接开关，6-转接器，7-电路端矩阵开关， 8-仪器测试线，9-被测电路。具体实施方式 本专利技术电路参数多点测试仪的组成如图1和图2所示，由多台电路参数测试仪器 1、仪器端矩阵开关4、电路端矩阵开关7、电路连接开关52、转接器6组成。测试仪器用来实 现被测电路各个性能参数的测试，包括万用表、信号源、示波器、绝缘性测试仪、耐压测试仪 等，还可根据需求增加其它参数测试仪。仪器端矩阵开关和电路端矩阵开关用来实现把测 试仪器的测试端选通到不同的电路连接开关52。左边部分为仪器端矩阵开关，由模拟总线 和测试仪器的仪器测试线通过开关连接而成；右边部分为电路端矩阵开关，由模拟总线和 模拟总线连接开关51连接而成。模拟总线的数量由同时工作的测试仪器的最多测试线数 决定，其它仪器的测试则采用模拟总线共享的方法。电路连接开关52用来实现测试回路在 被测电路的不同的测试点之间的切换。在2线测试中，把被测电路的两端分别连接到两个 电路连接开关上；在4线测试中，按照4线测试的方法，把被测电路的各端分别连接到四个 电路连接开关上；也可以把多个电路分别连接到多个电路连接开关上，对多个被测电路进 行同时测试；可以把多个电路连接开关合并，形成通道更多的电路连接开关。转接器用来实 现电路连接开关和被测电路之间的连接。本专利技术是利用电路测试仪器、矩阵开关和多路开关来实现电路参数多点测试的功 能，主要作用是对各种电路的电气参数、导通性、绝缘性和耐压等指标进行检测，并可以把 电路的故障定位到具体的测试点上。本专利技术测试仪器可以任意扩展，可以把测试仪器的测 试端选通到不同的测试点之间，所以可实现测试回路在不同的测试点之间的切换。本专利技术模拟总线的数量如果选用4根，则可进行电路参数的2线测试和4线测试； 多路开关选用8个1选24多路开关，可实现2线测试最多80点电路的测试和4线测试最 多40点电路的测试，并可实现两台2线测试仪器同时进行工作。图2所示模拟总线的数量 是5根，扩展模拟总线的数量是2根。本专利技术可测点数等于多路开关的通道数减去模拟总 线数。本专利技术可用于多芯电缆的参数和性能测试。权利要求一种电路参数多点测试仪，包括至少一台电路参数测试仪器(1)、模拟总线(2)、多路开关组、转接器(6)，所述多路开关组包括多个多路开关(5)，所述转接器(6)用于连接多路开关(5)和被测电路(9)，其特征在于所述电路参数多点测试仪还包括仪器端矩阵开关(4)，所述仪器端矩阵开关(4)用于仪器测试线(8)和模拟总线(2)之间的选通，所述每个多路开关(5)包括模拟总线连接开关(51)和电路连接开关(52)，所述多路开关组的模拟总线连接开关(51)、模拟总线(2)组成电路端矩阵开关(7)，所述电路连接开关(52)用于实现测试回路在不同被测电路(9)之间的切换。2.根据权利要求1所述的电路参数多点测试仪，其特征在于所述电路参数测试仪器 (1)包括万用表、绝缘性测试仪、耐压测试仪中的一种或任意几种的组合。3.根据权利要求1所述的电路参数多点测试仪，其特征在于所述电路参数测试仪器(1)包括万用表、信号源、示波器、绝缘性测试仪、耐压测试仪中的一种或任意几种的组合。4.根据权利要求1或2或3所述的电路参数多点测试仪，其特征在于所述模拟总线(2)还包括扩展模拟总线(3)。全文摘要本专利技术涉及一种电路参数多点测试仪，包括至少一台电路参数测试仪器、模拟总线、多路开关组、转接器，所述多路开关组包括多个多路开关，所述转接器用于连接多路开关和被测电路，所述电路参数多点测试仪还包括仪器端矩阵开关，所述仪器端矩阵开关用于仪器测试线和模拟总线之间的选通，所述每个多路开关包括模拟总线连接开关和电路连接开关，所述多路开关组的模拟总线连接开关、模拟总线组成电路端矩阵开关，所述电路连接开关用于实现测试回路在不同被测电路之间的切换。本专利技术解决了电路参数测试中测试仪器扩展性差，多台测试仪器不能同时工作，浪费以及测试不灵活的缺点，具有扩展性强、拓扑结构灵活的优点。文档编号G01R31/02GK101876685SQ200910022230公开日2010年11月3日 申请日期2009年4月28日 优先权日2009年4月28日专利技术者刘卫东, 张亚峰, 白晓峰, 郭恩全, 高宝平 申请人:陕西海泰电子有限责任公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路参数多点测试仪，包括至少一台电路参数测试仪器（１）、模拟总线（２）、多路开关组、转接器（６），所述多路开关组包括多个多路开关（５），所述转接器（６）用于连接多路开关（５）和被测电路（９），其特征在于：所述电路参数多点测试仪还包括仪器端矩阵开关（４），所述仪器端矩阵开关（４）用于仪器测试线（８）和模拟总线（２）之间的选通，所述每个多路开关（５）包括模拟总线连接开关（５１）和电路连接开关（５２），所述多路开关组的模拟总线连接开关（５１）、模拟总线（２）组成电路端矩阵开关（７），所述电路连接开关（５２）用于实现测试回路在不同被测电路（９）之间的切换。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郭恩全，高宝平，白晓峰，张亚峰，刘卫东，
申请(专利权)人：陕西海泰电子有限责任公司，
类型：发明
国别省市：87[中国|西安]