【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及虚拟仪器
，是一种电路参数多点测试仪器。
技术介绍
现有的电路参数测试仪器，有些采用矩阵开关，但带来了开关数量的浪费，有些采 用多路开关，但带来了测试不灵活的缺点。另外，电路参数测试仪器的扩展性差，多台测试 仪器不能同时工作。
技术实现思路
本专利技术目的在于克服电路参数测试中测试仪器扩展性差，多台测试仪器不能同时 工作，仅用矩阵开关带来的开关数量的浪费和仅用多路开关带来的测试的不灵活的缺点， 提供一种扩展性强、拓扑结构灵活的开放式电路参数多点测试仪。本专利技术的技术解决方案是一种电路参数多点测试仪，包括至少一台电路参数测试仪器1、模拟总线2、多路 开关组、转接器6，所述多路开关组包括多个多路开关5，所述转接器6用于连接多路开关5 和被测电路9，其特殊之处在于所述电路参数多点测试仪还包括仪器端矩阵开关4，所述 仪器端矩阵开关4用于仪器测试线8和模拟总线2之间的选通，所述每个多路开关5包括 模拟总线连接开关51和电路连接开关52，所述多路开关组的模拟总线连接开关51、模拟总 线2组成电路端矩阵开关7，所述电路连接开关52用于实现测试回路在不同被测...
【技术保护点】
一种电路参数多点测试仪，包括至少一台电路参数测试仪器（１）、模拟总线（２）、多路开关组、转接器（６），所述多路开关组包括多个多路开关（５），所述转接器（６）用于连接多路开关（５）和被测电路（９），其特征在于：所述电路参数多点测试仪还包括仪器端矩阵开关（４），所述仪器端矩阵开关（４）用于仪器测试线（８）和模拟总线（２）之间的选通，所述每个多路开关（５）包括模拟总线连接开关（５１）和电路连接开关（５２），所述多路开关组的模拟总线连接开关（５１）、模拟总线（２）组成电路端矩阵开关（７），所述电路连接开关（５２）用于实现测试回路在不同被测电路（９）之间的切换。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：郭恩全，高宝平，白晓峰，张亚峰，刘卫东，
申请(专利权)人：陕西海泰电子有限责任公司，
类型：发明
国别省市：87[中国|西安]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。