本实用新型专利技术公开了一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备，涉及激光器芯片测试技术领域，包括：测试用支撑组件，用于对激光器芯片自动测试装置的固定支撑；活动组件，位于测试用支撑组件内部的顶端。本实用新型专利技术的有益效果是：由于拨动板后侧的弧形面与拨动杆之间的距离从下到上依次递增，即可使顺时针转动中的拨动板会缓缓对联动块产生向下的拨动力，使联动块携带联动块、限位块，沿着套筒前端的条形缺口缓缓向下移动，对抵压板和套杆对套筒产生的弹性势能的大小进行调整，将插杆经过相应的插孔塞至拨动板的左侧位置处，使铁块与磁块接触并磁吸连接，保证后续移动块上下位置调整后的稳定性，同时又能对套杆与套筒之间的伸缩范围进行调整。围进行调整。围进行调整。
【技术实现步骤摘要】
一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备
[0001]本技术涉及激光器芯片测试
，具体是一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备。
技术介绍
[0002]激光器芯片也是一种激光，激光器芯片一般是经电流注入，当注入电流>阈值电流时，就可以发射出特定波段的激光。
[0003]且激光器芯片在制作的过程中，为保证其的质量，一般需要预先对其进行测试，从而出现一种激光器芯片测试装置及测试方法(具体参阅专利号：CN111323696A)，其中一种激光器芯片测试装置，包括左探针调节台1、右探针调节台3、芯片热沉调节基台2和芯片测试台底座4，左探针调节台1、右探针调节台3和芯片热沉调节基台2均安装在芯片测试台底座4上，且左探针调节台1和右探针调节台3分别对称布置在芯片热沉调节基台2的两侧，左探针调节台1包括三轴位移台底座1.1、三轴位移台1.2、探针底座1.3、探针支架1.4和芯片探针1.5，三轴位移台底座1.1安装在芯片测试台底座4上，三轴位移台1.2安装在三轴位移台底座1.1上，探针底座1.3为倒T型结构,固定在三轴位移台1.2上，探针底座1.3的竖板上设弧状的角度调节孔1.6和探针支架安装孔，探针支架1.4为杆状结构,其一端通过螺栓和探针支架安装孔的配合安装在探针底座1.3上，探针支架1.4侧面固定有一个圆柱,圆柱卡在角度调节孔1.6中，使圆柱可绕角度调节孔1.6滑动，实现探针支架1.4的角度调节，探针支架1.4的另一端设有通孔,用于安装芯片探针1.5，芯片探针1.5尖端设有软探针，通过三轴位移台1.2实现芯片探针1.5在XYZ三个方向的移动。
[0004]然由于激光器芯片的厚度和宽度皆小，从而使其在利用激光器芯片测试装置进行测试的过程中，其夹持的效果较差，很难对夹持的力度进行调整，在一定程度上增加了工作的难度。
技术实现思路
[0005]本技术的目的在于：为了解决由于激光器芯片的厚度和宽度皆小，从而使其在利用激光器芯片测试装置进行测试的过程中，其夹持的效果较差，很难对夹持的力度进行调整，在一定程度上增加了工作的难度的问题，提供一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备。
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备，包括：
[0007]测试用支撑组件，用于对激光器芯片自动测试装置的固定支撑；
[0008]活动组件，位于测试用支撑组件内部的顶端；
[0009]联动组件，位于测试用支撑组件内部的一侧且与活动组件活动连接；
[0010]拨动组件，位于联动组件的一侧且与联动组件转动连接；
[0011]插杆，位于拨动组件一侧的顶端且与拨动组件可拆卸连接；
[0012]放置组件，位于测试用支撑组件内侧的底端位置处；
[0013]所述联动组件包括第二联动架，所述第二联动架内部的两端皆设置有第三卡齿，所述第二联动架的底部设置有联动件，所述联动件一侧的中间位置处设置有磁块，所述第二联动架内侧的底端设置有第二弹性件，所述第二弹性件的顶部设置有联动块，所述联动块远离插杆的一侧设置有联动杆，所述联动杆的一端均匀设置有多组移动块，所述联动杆的一端靠近联动件的一侧设置有限位块，所述放置组件的数目为六组，且六组所述放置组件皆包括放置架，所述放置架的顶部皆放置有放置板，所述放置板的顶部均匀设置有多组存放孔，所述存放孔的内切面呈“T”型结构。
[0014]作为本技术再进一步的方案：所述测试用支撑组件底板，所述底板顶部的两侧皆设置有滑槽，所述滑槽的顶部皆设置有活动杆，所述活动杆的底部皆安装有与滑槽相匹配的电磁滑块，所述活动杆的顶部设置有框架。
[0015]作为本技术再进一步的方案：所述活动组件包括电机，所述电机的输出端设置有转动杆，所述转动杆的外部均匀设置有多组转盘，所述转盘的一端均匀设置有多组第一卡齿，所述转盘的数目为七组，其中六组所述转盘的外侧均匀设置有多组第一联动架，所述第一联动架内部的两端皆均匀设置有多组第二卡齿，所述第一联动架的底部皆设置有延伸至框架下方的活动架，所述活动架底部的两侧皆设置有套筒，所述套筒的底部皆设置有延伸至套筒内部底端的套杆，所述套杆的顶部皆设置有第一弹性件，且所述第一弹性件皆位于套筒内部的顶端，所述套杆的底部设置有抵压板。
[0016]作为本技术再进一步的方案：所述拨动组件包括把手，所述把手的一侧设置有拨动杆，所述拨动杆的外侧套设有拨动板，所述拨动板一侧的顶部均匀设置有多组插孔，所述拨动板的一侧设置有弧形面，且所述弧形面与拨动杆之间的距离从下到上依次递增，且所述拨动杆通过轴承座与联动件的一侧转动连接。
[0017]作为本技术再进一步的方案：所述插杆的一侧设置有与磁块相匹配的铁块，所述插杆通过磁块、铁块和插孔的相互配合与联动件和拨动板可拆卸连接。
[0018]作为本技术再进一步的方案：所述框架顶部均匀设置有多组对接孔，所述框架的顶部靠近插杆的一侧设置有活动孔，所述活动架皆通过对接孔与框架活动连接，所述第二联动架通过活动孔与框架活动连接。
[0019]作为本技术再进一步的方案：其中一组所述转盘外侧的第一卡齿与第三卡齿啮合连接，剩余几组所述转盘外侧的第一卡齿皆与多组第二卡齿啮合连接。
[0020]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0021]1、通过设置的活动组件、联动组件、拨动组件、插杆和铁块，使用时，预先将多组待测试的激光器芯片均匀放置在设置有放置板上的存放孔内部(存放孔的大小根据待测试的激光器芯片大小进行设置，使其匹配待测试的激光器芯片尺寸)，并使待测试的激光器芯片抵在“T”型结构的存放孔的内部，然后将存放有待测试的激光器芯片的放置板放置在放置架的顶部，若激光器芯片自动测试设备对存放有待测试的激光器芯片的放置板的抵压出现松动的现象后，只需顺时针拨动把手，使把手携带拨动杆和其外部的拨动板顺时针转动，使转动中的拨动板后侧的弧形面在转动的同时对联动块的顶部产生抵压力，由于拨动板后侧的弧形面与拨动杆之间的距离从下到上依次递增，从而即可使顺时针转动中的拨动板会缓缓对联动块产生向下的拨动力，使联动块携带联动块、限位块，沿着套筒前端的条形缺口缓
缓向下移动，并对位于套筒内部底端的第一弹性件产生向下的挤压力，使第一弹性件的长度被缩短，且其受力上下变形的范围缩短，从而即可使其的弹性势能增加，从而即可对抵压板和套杆对套筒产生的弹性势能的大小进行调整，然后将插杆经过相应的插孔塞至拨动板的左侧位置处，直至插杆左侧的铁块与联动件右侧的磁块接触并磁吸连接，从而即可对拨动板进行固定连接，保证了后续移动块上下位置调整后的稳定性，同时又能对套杆与套筒之间的伸缩范围进行调整，从而即可保证抵压板对存放有待测试的激光器芯片的放置板的夹持力度的调整，更好的对夹持的力度进行调整，在一定程度上降低了工作的难度，便于后续维护；
[0022]2、通过设置的测试用支撑组件和活动组件，使用时，电机的输出端在电力作用下带动转动杆顺时针本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备，包括：测试用支撑组件(1)，用于对激光器芯片自动测试装置的固定支撑；活动组件(2)，位于测试用支撑组件(1)内部的顶端；联动组件(3)，位于测试用支撑组件(1)内部的一侧且与活动组件(2)活动连接；拨动组件(4)，位于联动组件(3)的一侧且与联动组件(3)转动连接；插杆(5)，位于拨动组件(4)一侧的顶端且与拨动组件(4)可拆卸连接；放置组件(7)，位于测试用支撑组件(1)内侧的底端位置处；其特征在于，所述联动组件(3)包括第二联动架(301)，所述第二联动架(301)内部的两端皆设置有第三卡齿(309)，所述第二联动架(301)的底部设置有联动件(302)，联动件(302)一侧的中间位置处设置有磁块(303)，所述第二联动架(301)内侧的底端设置有第二弹性件(304)，所述第二弹性件(304)的顶部设置有联动块(305)，所述联动块(305)远离插杆(5)的一侧设置有联动杆(306)，所述联动杆(306)的一端均匀设置有多组移动块(308)，所述联动杆(306)的一端靠近联动件(302)的一侧设置有限位块(307)，所述放置组件(7)的数目为六组，且六组所述放置组件(7)皆包括放置架(701)，所述放置架(701)的顶部皆放置有放置板(702)，所述放置板(702)的顶部均匀设置有多组存放孔(703)，所述存放孔(703)的内切面呈“T”型结构。2.根据权利要求1所述的一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备，其特征在于，所述测试用支撑组件(1)底板(101)，所述底板(101)顶部的两侧皆设置有滑槽(102)，滑槽(102)的顶部皆设置有活动杆(103)，所述活动杆(103)的底部皆安装有与滑槽(102)相匹配的电磁滑块(104)，所述活动杆(103)的顶部设置有框架(105)。3.根据权利要求1所述的一种便于后期维护的激光器芯片自动测试设备，其特征在于，所述活动组件(2)包括电机(201)，所述电机(201)的输出端设置有转动杆(202)，所述转动杆(202)的外部均匀设置有多组转盘(203)，所述转盘(203)的一端均匀设置有多组第一卡齿(204)，所述转盘(20...
【专利技术属性】
技术研发人员：孙辉，胡雪妮，
申请(专利权)人：枝江亿硕半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：
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