一种生命周期成本的测算方法、电子设备和存储介质技术

本申请公开了一种生命周期成本的测算方法、电子设备和存储介质，该方法包括：获取多个同类设备的生命周期成本数据和影响参数数据，影响参数数据包括至少两个成本影响因素对应的因素信息；基于多个同类设备的生命周期成本数据，确定最优成本影响因素；其中，最优成本影响因素为一成本影响因素；基于目标设备在最优成本影响因素对应的因素信息和各同类设备在最优成本影响因素对应的因素信息，选出与目标设备匹配的同类设备；利用各与目标设备匹配的同类设备的生命周期成本数据进行成本测算，得到目标设备的生命周期成本测算结果。通过上述方式，本申请能够提高生命周期成本测算的准确性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
一种生命周期成本的测算方法、电子设备和存储介质


[0001]本申请涉及寿命周期成本管理
，特别是涉及一种生命周期成本的测算方法、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]以设备生命周期成本为核心，通过转资归集初始成本、标准运维归集运检成本、合理统筹归集故障成本、规范退役归集处置成本，完善设备LCC追溯与预测模型，支撑在设计阶段“选好设备”、采购阶段“招好设备”、运维阶段“用好设备”等场景应用，已成为反映设备全寿命周期管理协同质量的重要载体，发挥以资产全寿命周期管理为主线的价值管理优势，提升投资投入产出能力，助力建设现代设备管理体系。
[0003]其中，设备生命周期成本测算需要大量的同类设备样本数据，但仅仅将各投运年限同类设备的生命周期成本进行加和求平均数得到结果作为生命周期成本的测算结果不够准确，容易导致测算结果失真。

技术实现思路

[0004]本申请主要解决的技术问题是提供一种生命周期成本的测算方法、电子设备和存储介质，能够提高生命周期成本测算的准确性。
[0005]为解决上述技术问题，本申请采用的一个本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种生命周期成本的测算方法，其特征在于，所述方法包括：获取多个同类设备的生命周期成本数据和影响参数数据，所述影响参数数据包括至少两个成本影响因素对应的因素信息；基于所述多个同类设备的生命周期成本数据，确定最优成本影响因素；基于目标设备在所述最优成本影响因素对应的因素信息和各所述同类设备在所述最优成本影响因素对应的因素信息，选出与所述目标设备匹配的所述同类设备；利用各所述与目标设备匹配的同类设备的生命周期成本数据进行成本测算，得到所述目标设备的生命周期成本测算结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述多个同类设备的生命周期成本数据，确定最优成本影响因素，包括：获取第一统计设备集合和分别与所述至少两个成本影响因素关联的至少两个第二统计设备集合；其中，所述第一统计设备集合包括所述至少两个同类设备，所述第二统计设备集合包括至少一个子统计设备集合，所述子统计设备集合包括的同类设备的一所述成本影响因素对应的因素信息相同，各所述子统计设备集合对应的相同因素信息所属的成本影响因素相同；基于所述第一统计设备集合中的各所述同类设备的生命周期成本数据，得到所述第一统计设备集合对应的第一成本数据；以及，基于各所述第二统计设备集合中的各所述同类设备的生命周期成本数据，得到各所述第二统计设备集合对应的第二成本数据；利用各所述第二成本数据和所述第一成本数据，确定所述第二成本影响因素。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用各所述第二成本数据和所述第一成本数据，确定所述最优成本影响因素，包括：对于各所述第二成本数据，获取所述第二成本数据与所述第一成本数据之间的成本偏差；基于各所述第二成本数据与所述第一成本数据之间的成本偏差，确定所述最优成本影响因素。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一成本数据包括第一生命周期成本，所述第二成本数据包括各成本要素对应的第二要素成本；所述获取所述第二成本数据与所述第一成本数据之间的成本偏差，包括：对于各所述第二要素成本，确定所述第二要素成本与所述第一生命周期成本之间的初始偏差；基于各所述第二要素成本与所述第一生命周期成本之间的偏差，得到所述成本偏差。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于各所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：韩永生，李旭东，栾腾照，
申请(专利权)人：远光软件股份有限公司，
类型：发明
国别省市：