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本申请公开了一种生命周期成本的测算方法、电子设备和存储介质，该方法包括：获取多个同类设备的生命周期成本数据和影响参数数据，影响参数数据包括至少两个成本影响因素对应的因素信息；基于多个同类设备的生命周期成本数据，确定最优成本影响因素；其中，最...
该专利属于远光软件股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过远光软件股份有限公司授权不得商用。

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