二极管器件制造技术

技术编号:37760165 阅读:28 留言:0更新日期:2023-06-05 23:52
本申请公开一种二极管器件,包括阴极、漂移层、P型掺杂部、多晶硅部、第一N型掺杂部、第二N型掺杂部以及阳极,漂移层设置于阴极上,P型掺杂部设置于漂移层远离阴极的一侧,P型掺杂部具有至少两个间隔设置的沟槽,沟槽还延伸入部分漂移层中,多晶硅部填充于沟槽中,第一N型掺杂部和第二N型掺杂部设置于P型掺杂部中且位于每两相邻的沟槽之间,第一N型掺杂部与第二N型掺杂部接触,阳极设置于P型掺杂部远离阴极的一侧。在本申请中,通过在P型掺杂部中设置有第一N型掺杂部和第二N型掺杂部,以中和掉部分P型掺杂部的掺杂浓度,从而降低正向导通时空穴的注入效率。时空穴的注入效率。时空穴的注入效率。

【技术实现步骤摘要】
二极管器件


[0001]本申请涉及半导体
,具体涉及一种二极管器件。

技术介绍

[0002]二极管通常用在逆变器中,且是逆变器中不可或缺的部分,其起到电流换向后续流的重要作用,因此,二极管的反向恢复速度快慢直接影响到逆变器的最终效率。
[0003]现有的二极管通常是基于传统PiN结构获得,并采用重金属掺杂技术控制寿命,但是,该二极管在高频率下工作,其正向导通时,空穴的注入效率过高,从而导致二极管的反向恢复时间较长。

技术实现思路

[0004]鉴于此,本申请提供一种二极管器件,以解决现有的二极管器件在正向导通时空穴的注入效率高的问题。
[0005]本申请提供的一种二极管器件,包括:
[0006]阴极;
[0007]漂移层,设置于所述阴极上;
[0008]P型掺杂部,设置于所述漂移层远离所述阴极的一侧,所述P型掺杂部具有至少两个间隔设置的沟槽,所述沟槽还延伸入部分所述漂移层;
[0009]多晶硅部,所述多晶硅部填充于所述沟槽中;
[0010]第一N型掺杂部和第二N型掺杂部,设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种二极管器件,其特征在于,包括:阴极;漂移层,设置于所述阴极上;P型掺杂部,设置于所述漂移层远离所述阴极的一侧,所述P型掺杂部具有至少两个间隔设置的沟槽;多晶硅部,所述多晶硅部填充于所述沟槽中;第一N型掺杂部和第二N型掺杂部,设置于所述P型掺杂部中,且位于每两相邻的所述沟槽之间,所述第一N型掺杂部与所述第二N型掺杂部接触;以及阳极,设置于所述P型掺杂部远离所述阴极的一侧。2.根据权利要求1所述的二极管器件,其特征在于,所述第一N型掺杂部的宽度与所述第二N型掺杂部的宽度相等。3.根据权利要求1所述的二极管器件,其特征在于,所述第一N型掺杂部的宽度小于所述第二N型掺杂部的宽度。4.根据权利要求1所述的二极管器件,其特征在于,自一所述沟槽到相邻的另一所述沟槽的方向上,所述第一N型掺杂部与所述第二N型掺杂部呈...

【专利技术属性】
技术研发人员:李伟聪伍济
申请(专利权)人:深圳市威兆半导体股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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