【技术实现步骤摘要】
一种三维互联器件及其制备方法
[0001]本专利技术属于三维互联器件
,特别是涉及一种三维互联器件及其制备方法。
技术介绍
[0002]随着芯片功率密度的提高和第三代半导体材料SiC的应用,电子元器件的集成和封装结构越来越复杂,电子系统中不断出现腔体、曲面、阶梯集成等特殊结构,对三维互联器件提出了新的要求。
[0003]由于现有的纳米焊膏无法较好的分散在溶剂中,其填充密度较小,易形成孔洞导致器件强度不足、甚至虚焊等问题,导致三维互联器件存在质量瑕疵。虽然现有技术在基板上可以得到金属纳米线阵列,实现较高密度焊膏的填充,但其工艺操作复杂,并且需要特定的掩模版和设备,无法实现大规模的应用。此外,三维互联器件中的金属纳米片配制成具有一定浓度的溶液时,由于配置的不规范且无有效的管道设置,导致传统技术中无法有效的取得垂直取向的金属纳米片,从而使得金属纳米片取向的混乱度增加,从而无法满足封装结构的需求,因此需要一种新的三维互联器件使得可以大规模进行应用。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于克服上述现有技术不足之处而提供一种三维互联器件及其制备方法。
[0005]本专利技术是通过以下的技术方案实现的:第一方面,本专利技术提供了一种三维互联器件,包括基板和芯片,所述基板和所述芯片通过连接层连接;所述连接层包括焊膏和第一连接材料,所述第一连接材料包括金属微纳米片,所述金属微纳米片包括第一金属微纳米片和第二金属微纳米片;所述第一金属微纳米片的长度为0.5
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10μm,宽度 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种三维互联器件,其特征在于,包括基板和芯片,所述基板和所述芯片通过连接层连接;所述连接层包括焊膏和第一连接材料,所述第一连接材料包括金属微纳米片,所述金属微纳米片包括第一金属微纳米片和第二金属微纳米片;所述第一金属微纳米片的长度为0.5
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10μm,宽度为0.5
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10μm,厚度为20
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800nm;所述第二金属微纳米片的长度为0.05
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0.5μm,宽度为0.05
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0.5μm,厚度为20
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800nm;所述第二金属微纳米片分散于所述第一金属微纳米片的间隙内,并形成交联位点;所述第一连接材料还包括金属纳米颗粒或金属纳米线中的一种或多种;所述焊膏填充于所述第一连接材料的骨架中;所述骨架包括垂直排列的所述第一金属微纳米片。2.根据权利要求1所述的一种三维互联器件,其特征在于,所述金属纳米颗粒的添加量为0.1
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10wt%。3.根据权利要求2所述的一种三维互联器件,其特征在于,所述金属纳米颗粒的直径为10
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500nm。4.根据权利要求1所述的一种三维互联器件,其特征在于,所述金属纳米线的添加量为0.1
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10wt%。5.根据权利要求4所述的一种三维互联器件,其特征在于,所述金属纳米线的截面直径为5
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50nm,长度为0.5
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10μm。6.一种三维互联器件的制备方法,其特征在于,包括:提供基板,将第一连接材料设置于所述基板上,在所述第一连接材料表面印刷焊膏,预热后,贴装芯片,在压力为1
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8MPa、温度为200
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400℃条件下保温3
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50min。7.根据权利要求6所述的一种三维互联器件的制备方法,其特征在于,所述第一连接材料的制备方法步骤为:(1)将金属微纳米片分散于有机溶剂中,通过超声搅拌配制成浓度为1
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100 mg/mL的溶液;(2)将步骤(1)的溶液以5
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30 mm/s的流速流过第一管道,得到平行排列的金属微纳米片流体,然后通过第二管道使所述金属微纳米片流体转向,得到垂直排列的金属微纳米片结构;(3)将所述金属微纳米片结构在温度为
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40~
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25℃,真空度为8~12Pa的条...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈显平,钱靖,
申请(专利权)人:重庆平创半导体研究院有限责任公司,
类型:发明
国别省市:
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