阵列基板及其检测方法、发光装置制造方法及图纸

本申请提供了一种阵列基板及其检测方法、发光装置，涉及显示技术领域，该阵列基板包括：基底，所述基底包括多个第一透光区；位于所述基底上的第一导电层；所述第一导电层包括多个导电垫组，所述导电垫组包括至少一个导电垫；其中，所述导电垫在所述基底上的正投影区域与所述第一透光区存在交叠区；所述基底位于所述第一透光区的部分的透过率大于或者等于第一预设值。本申请提供的阵列基板，通过基底位于第一透光区的部分可以看到各导电垫的背面，从而可以通过背面检测技术直接观测导电垫是否存在不良的问题，便于后续进行修改，进而提高产品的可靠性。产品的可靠性。产品的可靠性。产品的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：汤海，高亮，翟明，秦建伟，车晓盼，马光和，
申请(专利权)人：合肥京东方星宇科技有限公司，
类型：发明
国别省市：