适用于结构光测量系统标定的复合标准件及标定方法技术方案

本发明专利技术公开了一种适用于结构光测量系统标定的复合标准件，用于线结构光或圆结构光的测量标定系统中，包括一底板，所述底板中部镂空有锯齿状环形规，所述的环形规形状为，中心镂空圆环直径最小，自中心镂空圆环向两侧的镂空圆环直径依次等阶递增，所述的环形规用于圆结构光的标定。本发明专利技术所涉及的器件结构简单、易于实现，方便操作，且实用性比较强；且该标准件能够同时实现线结构光与圆结构光的标定。同时提供一种基于本发明专利技术提出的复合标准件的线/圆结构光测量系统的标定方法。圆结构光测量系统的标定方法。圆结构光测量系统的标定方法。

【技术实现步骤摘要】
适用于结构光测量系统标定的复合标准件及标定方法


[0001]本专利技术属于精密测量领域，尤其涉及一种适用于结构光测量系统标定的复合标准件及标定方法。

技术介绍

[0002]非接触测量是机器视觉研究领域的一个重要研究方向，是基于光学、波等相关原理制造的感应器来获取被测物体的三维信息。其优势在于对被测物体产生的影响极小、易于自动化、对工作环境的要求较小以及测量周期较短。非接触测量主要包括：红外测量、超声波测量、多相机测量以及结构光测量。结构光测量以其测量密度大、速度快、测量精度高以及可测量大尺寸物体等优点，在国防工业，汽车工业和航空航天等领域有着广泛应用，主要用于工件的定位测量、三维模型重建、管道内壁损伤检测、孔径测量、外貌测量等工业测量，其中一个关键技术问题是结构光的标定。
[0003]目前主要使用如下方案进行结构光的标定：Morinaka等提出了一种由任何折射介质引起的失真三维重建方法，但该方法只建立了一个将图像点与校准板上的二维点关联的非线性映射表。因此，圆柱表面的折射畸变仍有待仔细分析，折射畸变校正是全向结构光视觉测量的关键。Zhu本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适用于结构光测量系统标定的复合标准件，用于线结构光或圆结构光的测量标定系统中，其特征在于，所述的复合标准件包括一底板，所述底板中部镂空有锯齿状环形规，所述的环形规形状为，中心镂空圆环直径最小，自中心镂空圆环向两侧的镂空圆环直径依次等阶递增，所述的环形规用于圆结构光的标定；所述的底板上位于环形规的两侧分别对称设置有标定台阶，所述的标定台阶为中部为最高台阶，自最高台阶向两侧分别依次等阶递减，所述的标定台阶用于线结构光标定。2.根据权利要求1所述的一种适用于结构光测量系统标定的复合标准件，其特征在于，所述的环形规的第一个镂空圆环直径圆环为48mm，两侧依次等阶递增的镂空圆环直径分别为52mm、56mm、60mm、64mm、68mm、72mm、76mm、80mm、84mm和88mm，共11个镂空圆环。3.根据权利要求1所述的一种适用于结构光测量系统标定的复合标准件，其特征在于，所述的标定台阶每级台阶的高度从低到高依次为2mm，2.5mm，3mm和4mm。4.一种基于权利要求1
‑
3中任一权利要求所述的复合标准件的结构光标定方法，其特征在于，包括以下步骤，步骤1，基于张正友相机标定算法对靶标图像棋盘格区域进行相机标定，得到所述相机...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵会宁，丁雯靖，于连栋，夏豪杰，符晗，蒲松，
申请(专利权)人：合肥工业大学，
类型：发明
国别省市：