分类机及分类测试方法技术

技术编号:3765447 阅读:205 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术提供一种分类机及分类测试方法。分类机包括分类器以及测试模块。其中,测试模块进一步包括信号产生器、感应器以及信号比较器。信号产生器产生并送出第一分类信号,分类器接收第一分类信号,并根据第一分类信号将第一电子元件对应地分类置放于第一区域。感应器感应置放于第一区域的第一电子元件,以对应地产生及送出第二分类信号。信号比较器电连接感应器及信号产生器,接收第一分类信号及第二分类信号。信号比较器通过判断第一分类信号是否相同于第二分类信号,并对应地送出比较信号。本发明专利技术节省了测试机以及缆线的设置成本,更减少了人为的错误判断。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术关于一种分类机及其测试方法,并且特别地,本专利技术关于一种能自动分类 集成电路(integrated circuit, IC)的分类机及其自动化测试方法。
技术介绍
IC测试分类机主要被应用于半导体测试流程后段,其为一种可将IC进行测试分 类的自动化机械结构。请参阅图1,图1是绘示现有IC测试分类机1的示意图。现有IC测 试分类机1包括分类器10、测试机12以及多个缆线(cable) 14。现有IC测试分类机1由分 类器10与测试机12通过缆线14电连接组成。其中,分类器10可进一步包括载盘(tray) 或载管(tube)。分类器10执行分类动作时,是将待测的集成电路分类放置于分类器10的 标准容器载盘或载管。测试机12主要依放置于载盘或载管中的集成电路进行测试,并传递测试结果回 分类器10进行分类。举例来说,分类器10包括3个置放区(第一区、第二区及第三区),分 别对应最佳、可通过及失败的三种品质类别。当测试机12测试某一集成电路后,测得品质 为可通过,分类器10就可根据测试结果,将该集成电路置放于第二区。由于不同的集成电路产生不同电性功能,因此测试机12与分类器10的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种分类机,其特征在于,包括:一分类器;以及一测试模块,可拆卸地连接于该分类器,包括:一信号产生器,产生并送出一第一分类信号,该分类器接收该第一分类信号,并根据该第一分类信号将一第一电子元件对应地分类置放于一第一区域;一感应器,感应置放于该第一区域的该第一电子元件,以对应地产生及送出一第二分类信号;以及一信号比较器,电连接该感应器及该信号产生器,接收该第一分类信号及该第二分类信号,该信号比较器判断该第一分类信号是否相同于该第二分类信号,并对应地送出一比较信号。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:滕贞勇甘少天陈昱升
申请(专利权)人:普诚科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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