一种曝光机曝光台密合度的测试方法技术

技术编号:7633290 阅读:165 留言:0更新日期:2012-08-03 21:19
一种曝光机曝光台密合度的测试方法,主要包括将尺寸为长宽尺寸比曝光台小0-1寸的空白底片安装于曝光台面上;吸1-5滴水或酒精滴于底片的四角及中间;闭合框架并将其吸成真空;观察水或酒精膜扩散状况,根据水或酒精膜扩散状况,判定框架密合性是否合格,用来监测曝光台面密合度。使用该方法可以克服现有技术对台面真空的监控太单一、笼统,对单点或局部区域漏光监控效果微乎其微的缺点,实现对曝光机曝光台密合性的监控,以便及时点检维护,进而提前预防漏光的产生。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及印刷线路板
,尤其涉及PCB影像转移曝光生产领域,主要用于监测曝光台面密合度。
技术介绍
目前PCB影像转移生产领域,曝光作业真空度管控主要分为底片真空及台面真空两种。如附图I所示,底片真空管控A与B之间或C与D之间的真空度;台面真空管控A与 C之间或B与D之间的真空度。底片真空管控主要以机台上底片真空表头监控底片真空值为主,底片吸真空后底片与玻璃间显示的牛顿环清晰度为辅来监控。台面真空管控主要以机台上台面真空表头来监控台面真空值。现有技术对台面真空的监控太单一、笼统,对单点或局部区域漏光监控作用微乎其微。其原因主要有如下两点 第一:作业板子尺寸不一,使曝光框架及玻璃台面的受力不均;在长期使用的情况下,会引起框架及玻璃台面的轻微变形。从而形成单点或局部区域因真空不足,造成漏光不良;第二,曝光框架及玻璃台面长期使用的情况下,会引起框架周边紧固、密封设备的磨损或松动。导致框架密合性变差,造成局部真空不足而产生漏光不良。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供。本专利技术通过a将尺寸为长宽尺寸比曝光台小0-1寸的空白底片安装于曝光台面上;b吸1-5滴水或酒精滴于底片的四角及中间;c闭合框架并将其吸成真空;d观察水或酒精膜扩散状况,根据水或酒精膜扩散状况,这四个步骤来实现判定框架密合性是否合格,如果扩散均匀,即水或酒精膜向四周扩散且与中间的水或酒精滴为同心圆,则可判定其密合性较好;如果扩散不均匀,即水或酒精膜虽向四周扩散为圆形,但与中间的水或酒精滴不是同心圆,则可判定其密合性不合格。使用该方法后可以克服现有技术对台面真空的监控太单一、笼统,对单点或局部区域漏光监控效果微乎其微的缺点,实现对曝光机曝光台密合性的监控,以便及时点检维护, 进而提前预防漏光不良产生。 附图说明图I当前曝光作业真空度管控示意2具体实施例I中滴水示意3具体实施例2中滴水示意4具体实施例3中滴水示意5具体实施例I的试验结果图6具体实施例2的试验结果图7具体实施例3的试验结果具体实施例方式具体实施例I将尺寸为长宽尺寸比曝光台小0-1寸的空白底片安装于曝光台面上,吸I滴无色的水滴于上底片的四角及中间,如附图2所示,其中四角滴液体的位置距离底片边缘为4厘米, 框架闭合并将其吸成真空,观察水膜扩散状况,其测试结果如附图5所示,由此可以判断曝光台的紧密度较好。具体实施例2将尺寸为长宽尺寸比曝光台小0-1寸的空白底片安装于曝光台面上,吸I滴红色的酒精于下底片的四角及中间,如附图3所示,其中四角滴酒精的位置距离底片边缘为5厘米, 框架闭合并将其吸成真空,观察酒精膜扩散状况,其测试结果如附图6所示,由此可以判断曝光台的紧密度不好。具体实施例3将尺寸为长宽尺寸比曝光台小ο-l寸的空白底片安装于曝光台面上,吸5滴绿色的水滴于上底片的四角及中间,如附图4所示,其中四角滴水的位置距离底片边缘为10厘米,框架闭合并将其吸成真空,观察水膜扩散状况,其测试结果如附图7所示,由此可以判断曝光台的紧密度较好。权利要求1.,其特征在于a将尺寸为长宽尺寸比曝光台小0-1寸的空白底片安装于曝光台面上; b吸1-5滴水或酒精滴于底片的四角及中间; c闭合框架并将其吸成真空;d观察水或酒精膜扩散状况,根据水或酒精膜扩散状况,判定框架密合性是否合格。2.一种如权利要求I所述的曝光机曝光台紧密度的测试方法,其特征在于四角滴水或酒精的位置距离底片边缘为大于等于4厘米小于10厘米。3.—种如权利要求I所述的曝光机曝光台紧密度的测试方法,其特征在于水或酒精为无色或者有色的。全文摘要,主要包括将尺寸为长宽尺寸比曝光台小0-1寸的空白底片安装于曝光台面上;吸1-5滴水或酒精滴于底片的四角及中间;闭合框架并将其吸成真空;观察水或酒精膜扩散状况,根据水或酒精膜扩散状况,判定框架密合性是否合格,用来监测曝光台面密合度。使用该方法可以克服现有技术对台面真空的监控太单一、笼统,对单点或局部区域漏光监控效果微乎其微的缺点,实现对曝光机曝光台密合性的监控,以便及时点检维护,进而提前预防漏光的产生。文档编号G03F7/20GK102607772SQ201210055928公开日2012年7月25日 申请日期2012年3月6日 优先权日2012年3月6日专利技术者杨长基 申请人:常熟金像电子有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:杨长基
申请(专利权)人:常熟金像电子有限公司
类型:发明
国别省市:

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