一种微针测试治具制造技术

技术编号:37647039 阅读:25 留言:0更新日期:2023-05-25 10:14
本实用新型专利技术涉及测试治具技术领域,尤其是一种微针测试治具,包括测试盒和底板,所述测试盒的内部固接有底板,所述底板的上表面固接有四个滑杆,所述滑杆的上方设置有测试机构,所述底板的上表面固接有两个弹簧,所述测试盒的内部固接有锁杆,所述测试盒的右侧通过销轴转动相连有盖板。通过第一通孔、支板、凹槽、针模块、微针之间的配合,针模块安装到凹槽内,微针的位置固定,将支板进行安装,使四个滑杆穿过分别穿过四个第一通孔,测试机构中针模块的数量根据芯片的大小进行安装,当需要对其他尺寸的产品进行测试时,不需要更换不同的测试治具,大大减小了购买成本,不会造成资源的浪费,且通用性较高。且通用性较高。且通用性较高。

【技术实现步骤摘要】
一种微针测试治具


[0001]本技术涉及测试治具
,具体为一种微针测试治具。

技术介绍

[0002]技术随着人们生活水平的提高,电子产品日益进入人们的日常生活中;在电子产品的生产过程中,检测是必不可少的一道工序,对一些小型且多孔位的电子产品进行测试时,如芯片、电路板等,需要采用微针测试治具对产品进行定位固定。
[0003]例如专利号为CN210142159U的微针测试治具,所述插销插设连接孔及插孔以使所述压块可相对盖板转动,上述的微针测试治具的结构简单,盖板的一端与基板的一端枢接,通过翻转盖板即可取放产品,取放产品方便,有利于提高测试效率,上述文件仍存在不足,通过翻转盖板即可取放产品,取放产品方便,有利于提高测试效率,但是在进行测试时,会有不同种类的芯片需要进行测试,通常一种测试治具只能用于测试同一种产品,当需要对其他尺寸的产品进行测试时,需要更换不同的测试治具,大大增加了购买成本,一定程度上造成资源的浪费,且通用性低下。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在当需要对其他尺寸的产品进行测试时,本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微针测试治具,包括测试盒(1)和底板(2),所述测试盒(1)的内部固接有底板(2),其特征在于:所述底板(2)的上表面固接有四个滑杆(5),所述滑杆(5)的上方设置有测试机构(3),所述底板(2)的上表面固接有两个弹簧(4),所述测试盒(1)的内部固接有锁杆(8),所述测试盒(1)的右侧通过销轴转动相连有盖板(11)。2.根据权利要求1所述的一种微针测试治具,其特征在于:所述测试机构(3)包括第一通孔(301),所述第一通孔(301)与滑杆(5)的外壁间隙配合,所述第一通孔(301)设置在支板(302)的内部,所述支板(302)的内部设置...

【专利技术属性】
技术研发人员:陶品岳陶柳杨镇武
申请(专利权)人:苏州工业园区凯众通微电子技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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