一种高铝盖板玻璃强化方法及高铝盖板玻璃技术

本发明专利技术提供一种高铝盖板玻璃强化方法及高铝盖板玻璃，属于玻璃制备技术领域。所述高铝盖板玻璃强化方法包括：基于时域有限差分法建立钾离子扩散过程的数值模拟模型；确定二步法离子强化工艺过程中钾离子扩散的数值参数；将确定的数值参数带入所述数值模拟模型进行数值模拟，得到第二步化学强化过程中钾离子浓度分布的数值模拟图；基于所述数值模拟图分析确定第二步化学强化的最佳时间范围。本发明专利技术提供的强化方法，利用有限差分法减少了繁琐的计算过程，同时也可以快速准确的确定出第二步化学强化的最佳时间范围。学强化的最佳时间范围。学强化的最佳时间范围。

【技术实现步骤摘要】
一种高铝盖板玻璃强化方法及高铝盖板玻璃


[0001]本专利技术涉及玻璃制备
，具体地涉及一种高铝盖板玻璃强化方法及一种高铝盖板玻璃。

技术介绍

[0002]关于二步法离子强化工艺制备高铝盖板玻璃的工艺制度，国内外已有多位学者展开了详细的探究。结果表明:第一步化学强化处理的时间必须足够长，以确保玻璃获得有足够深的压应力层(CaseDepth)。在确保第一步前提下，制备二强玻璃的关键因素是对其第二步化学强化中离子交换的控制，尤其是第二步化学强化中离子交换的时间的控制。然而，确定这项工艺产生却需要开展繁重的制备与表征实验。此外，熔盐的高温及毒性对研究人员身体健康也造成了潜在威胁。
[0003]时域有限差分法是一种将连续的时间和空间网格化，并在网格内以差分代替微分，对微分方程进行分解求解的方法。运用时域有限差分法可以有效规避繁杂的数学运算。利用现代计算机的高速计算能力，就可以十分快速准确地对计算过程进行模拟。时域有限差分法虽然是一种近似求解方法，但是只要选取的时间和空间的步长足够小，计算模拟的结果就能无限逼近实际的解析解。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高铝盖板玻璃强化方法，所述强化方法应用于二步法离子强化工艺，所述二步法离子强化工艺包括第一步化学强化和第二步化学强化，其特征在于，所述强化方法包括：基于时域有限差分法建立钾离子扩散过程的数值模拟模型；确定二步法离子强化工艺过程中钾离子扩散的数值参数；将确定的数值参数带入所述数值模拟模型进行数值模拟，得到第二步化学强化过程中钾离子浓度分布的数值模拟图；基于所述数值模拟图分析确定第二步化学强化的最佳时间范围。2.根据权利要求1所述的高铝盖板玻璃强化方法，其特征在于，所述基于时域有限差分法建立钾离子扩散过程的数值模拟模型，包括：基于时域有限差分法对钾离子扩散过程中连续的空间和时间进行离散化处理，建立一维扩散方程。3.根据权利要求2所述的高铝盖板玻璃强化方法，其特征在于，所述一维扩散方程如下：其中，i表示钾离子交换时的时间，j表示钾离子交换时的位置，1＜j＜N，N表示扩散区域个数；C
i,j
表示位置为j点、时间为i点时的钾离子浓度；D
i，j
表示位置为j点、时间为i点时的钾离子扩散系数；Δt表示时间步长，Δx表示模拟钾离子扩散空间。4.根据权利要求1所述的高铝盖板玻璃强化方法，其特征在于，所述钾离子的数值参数包括：第一步化学强化时间、第一步化学强化后钾离子浓度分布、第二步化学强化后钾离子浓度分布以及第二步化学强化过程中离子交换时的钾离子扩散系数。5.根据权利要求4所述的高铝盖板玻璃强化方法，其特征在于，利用玻尔兹曼方程计算求取第二步化学强化过程中离子交换时的钾离子扩散系数，所述玻尔兹曼方程如下：其中，Cs表示玻璃处于离子交换状态完成后的表面钾离子浓度；C(x,t)表示钾离子扩散位置为x、时间为t时的钾离子浓度；Dt表示时间为t时的钾离子扩散系数。6.根据权利要求1所述的高铝盖板玻璃强化方法，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：李青，李赫然，张小军，赵志龙，郭志胜，张克俭，李刚，宋义锋，张佳磊，
申请(专利权)人：北京远大信达科技有限公司，
类型：发明
国别省市：