测光装置制造方法及图纸

技术编号:37579279 阅读:17 留言:0更新日期:2023-05-15 07:54
具备:导光部件(2),横剖面为圆形或者多边形;物镜光学系统(3),将来自被测定物(LS)的光束汇集到导光部件(2)的光入射侧端面(2a);分支部(4),具备将从导光部件(2)的光射出侧端面(2b)射出的光束分支为多个而引导的分别由单一的部件构成的多个分支部件(41);以及多个受光传感器(51),用于接受来自分支部(4)中的多个分支部件(41)中的每个分支部件的射出光,并且得到2种以上的不同特性的数据。且得到2种以上的不同特性的数据。且得到2种以上的不同特性的数据。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测光装置


[0001]本专利技术涉及对被测定光源的特性进行测定的测光装置,特别涉及对从被测定光源射出的光的亮度、色度进行测定的色彩亮度计等测光装置。

技术介绍

[0002]在色彩亮度计等测光装置中,为了测定颜色,将测定光分割为3个并由各传感器受光。作为将测定光分割为3个的手段,例如在专利文献1中,公开了多个光纤线材被成束地形成,来自物镜光学系统的射出光入射到一端侧,在另一端侧分割多个光纤线材的束状光纤(bundle fiber)。在该束状光纤中的分割后的各另一端侧,分别具备检测来自束状光纤的另一端侧的射出光的多个测色光学系统。
[0003]另外,申请人在专利文献2中,提出了使用基于导光部件和中继光学系统的光路分支来将测定光分割为多个并通过各传感器受光的测光装置。具体而言,使用中继光学系统将由导光部件对被测定物的位置不均、角度不均进行均匀化后的光束照射到多个受光传感器。
[0004]不过,基于测光装置的颜色测定通过使测光装置接触到或者非接触地接近测定对象物(被测定光源)的被测定面并由测光装置接受在从被测定面的预定的区域起预定的角度范围射出的光来进行。此时,在被测定面的发光强度(发光亮度)有归因于发光位置以及发光角度的不均(位置不均、角度不均)时,在测光装置侧也受到其影响。此外,在测光装置侧受到上述影响而测定灵敏度的位置不均以及角度不均变大时,由于所测定的位置以及所测定的角度的差异,测定值的差(测定误差)变大。此外,测定灵敏度的位置不均是指针对从被测定光源的被测定面的不同位置向相同方向(例如与上述面垂直的方向)射出的各光而测定灵敏度不同。另外,测定灵敏度的角度不均是指针对从被测定光源的被测定面的相同位置向不同方向射出的各光而测定灵敏度不同。
[0005]因此,在测定颜色时,为了减小由于所测定的位置以及所测定的角度的差异而引起的测定误差,需要使得难以受到被测定光源的发光强度的位置不均以及角度不均的影响,降低测定灵敏度的位置不均以及角度不均。
[0006]现有技术文献
[0007]专利文献
[0008]专利文献1:日本专利第5565458号公报
[0009]专利文献2:日本特愿2018

135574号

技术实现思路

[0010]专利技术要解决的课题
[0011]不过,在专利文献1中,使用将多条光纤成束得到的导光体对测定光进行引导,但为了减少光量不均以减小测定误差,需要随机地编织各光纤,成本高。另外,光纤的填充情况、弯曲的状态、应力的状态等难以控制,所以难以设计如使得难以受到被测定光源的发光
强度的位置不均以及角度不均的影响的导光体,作为结果,存在难以降低测定灵敏度的位置不均以及角度不均这样的课题。
[0012]另外,在专利文献2中提出的测光装置在利用中继光学系统对照射范围R照射从导光部件的射出端射出的光束时,设置于照射范围R的受光传感器相对于照射范围R的面积比对于每1个受光传感器为大约10%左右。因此,在将受光传感器设为4个时,合计成为40%,照射到照射范围R的光束中的60%左右变得浪费,所以存在光效率不佳这样的课题。
[0013]本专利技术是为了解决上述课题而做出的,其目的在于提供一种能够通过使用了廉价的导光部件的结构来降低测定灵敏度的位置不均以及角度不均并且光效率良好的测光装置。
[0014]用于解决课题的手段
[0015]上述目的通过以下的手段达成。
[0016](1)一种测光装置,具备:横剖面为圆形或者多边形的导光部件;物镜光学系统,将来自被测定物的光束汇集到所述导光部件的光入射侧端面;分支部,具备将从所述导光部件的光射出侧端面射出的光束分支为多个并引导的分别由单一的部件构成的多个分支部件;以及多个受光传感器,用于接受来自所述分支部中的多个分支部件中的每个分支部件的射出光,并且得到2种以上的不同特性的数据。
[0017](2)在前项1所述的测光装置中,在所述物镜光学系统中,将所述被测定物和导光部件的光入射侧端面设为共轭关系。
[0018](3)在前项1或2所述的测光装置中,在所述多个受光传感器中,包括用于得到近似于等色函数XYZ的受光数据的受光传感器。
[0019](4)在前项1~3中的任意一项所述的测光装置中,在所述多个受光传感器中,包括用于得到分光数据的受光传感器。
[0020](5)在前项1~4中的任意一项所述的测光装置中,在所述多个受光传感器中,包括经由光连接器接受来自所述分支部件的光的外部测定器的受光传感器,并且所述外部测定器能够针对分支部件进行安装和拆卸,由使用者从受光传感器的受光特性分别不同的多个外部测定器中选择的任意的外部测定器连接于分支部件。
[0021](6)在前项1~5中的任意一项所述的测光装置中,所述多个分支部件分别由光纤形成。
[0022](7)在前项6所述的测光装置中,所述光纤是树脂制。
[0023](8)在前项1~7中的任意一项所述的测光装置中,所述导光部件是多棱柱或者多棱锥台。
[0024](9)在前项1~8中的任意一项所述的测光装置中,所述导光部件和多个分支部件不隔着空气层而连接。
[0025](10)在前项1~8中的任意一项所述的测光装置中,所述导光部件和多个分支部件是一体构造。
[0026]专利技术的效果
[0027]根据前项(1)所述的专利技术,来自被测定物的光束由物镜光学系统汇集到导光部件的光入射侧端面,从光入射侧端面入射到导光部件。导光部件由于横剖面为圆形或者多边形,所以相比于随机地编织多条光纤而导光的以往的导光体,结构简单且廉价。另外,入射
到导光部件的来自被测定光源的光以与向导光部件的入射角度对应的次数在导光部件的侧面(光入射侧端面以及光射出侧端面以外的面)被全反射而引导,到达导光部件的光射出侧端面,从光射出侧端面射出而分支到由单一的部件构成的多个分支部件。然后,来自多个分支部件中的每个分支部件的射出光被用于得到2种以上的不同特性的数据的多个受光传感器接受。
[0028]因此,受光部的各传感器接受从被测定光源的被测定面的各种位置射出的光以及从被测定面以各种角度射出的光混合而成的光。其结果,即使被测定光源的被测定面的发光强度(发光亮度)有位置不均以及角度不均,也能够在受光部侧难以受到其影响,由此,能够降低测定灵敏度的位置不均以及角度不均。
[0029]另外,从导光部件的光射出侧端面射出的光束被多个分支部件分支而被引导至各受光传感器,所以能够由各受光传感器不浪费地利用从分支部件射出的光。因此,相比于利用中继光学系统照射从导光部件的光射出侧端面射出的光束并使受光传感器受光的结构,能够提高光效率。
[0030]根据前项(2)所述的专利技术,由于在物镜光学系统中将被测定物和导光部件的光入射侧端面设为共轭关系,所以能够减少被测定光源的被测定面的发光强度的位置不均以及角度不均。
[0031]根据前项(3)所述的专利技术,成为能够得到近似于等色函数XYZ的受光数据的测光装置本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测光装置,具备:横剖面为圆形或者多边形的导光部件;物镜光学系统,将来自被测定物的光束汇集到所述导光部件的光入射侧端面;分支部,具备将从所述导光部件的光射出侧端面射出的光束分支为多个并引导的分别由单一的部件构成的多个分支部件;以及多个受光传感器,用于接受来自所述分支部中的多个分支部件中的每个分支部件的射出光,并且得到2种以上的不同特性的数据。2.根据权利要求1所述的测光装置,其中,在所述物镜光学系统中,将所述被测定物和导光部件的光入射侧端面设为共轭关系。3.根据权利要求1或2所述的测光装置,其中,在所述多个受光传感器中,包括用于得到近似于等色函数XYZ的受光数据的受光传感器。4.条据权利要求1~3中的任意一项所述的测光装置,其中,在所述多个受光传感器中,包括用于得到分光数据的受光传感器。5.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员:鹤谷克敏波多野洋
申请(专利权)人:柯尼卡美能达株式会社
类型:发明
国别省市:

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