物体检测装置例如具备：光纤(11A)，其至少局部地包含传感光纤(11a)，该传感光纤(11a)以0.3[dB/m]以上的损失对光进行传输；以及受光部(22)，其从光纤(11A)接收由传感光纤(11a)接收到的光，该物体检测装置基于由受光部(22)接收到的光的强度来检测物体(A)。传感光纤(11a)也可以具有外周的至少一部分露出的纤芯。在纤芯的外周也可以设置有大小为由受光部(22)接收的光的波长的1/100以上且1/10以下的凹凸结构。另外，传感光纤(11a)的长度也可以为由受光部(22)接收的光的波长的10倍以上。部(22)接收的光的波长的10倍以上。部(22)接收的光的波长的10倍以上。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】物体检测装置
[0001]本专利技术涉及一种物体检测装置。
技术介绍
[0002]以往，已知有具有光纤的物体检测装置(例如，专利文献1)。在专利文献1的物体检测装置中，试验光与光纤的长度方向的端面耦合。但是，该端面狭窄。因此，设置了聚光透镜，以使来自更宽的检测范围的光与该光纤的端面耦合。
[0003]在先技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本特开平7
‑
063920号公报
技术实现思路
[0006]专利技术所要解决的课题
[0007]在这种物体检测装置中，例如，如果能够得到可通过更简单的结构设定更宽的检测范围的改进的新型物体检测装置，则是有益的。
[0008]因此，本专利技术的课题之一在于，例如得到进一步改进的新型物体检测装置。
[0009]用于解决课题的方案
[0010]本专利技术的物体检测装置例如具备：光纤，其至少局部地包含传感光纤，该传感光纤以0.3[dB/m]以上的损失对光进行传输；以及受光部，其从所述光纤接收由所述传感光纤接收到的光，所述物体检测装置基于由所述受光部接收到的光的强度来检测物体。
[0011]在所述物体检测装置中，也可以是，所述传感光纤具有外周的至少一部分露出的纤芯。
[0012]在所述物体检测装置中，也可以是，在所述外周设置有凹凸结构，所述凹凸结构的大小为由所述受光部接收的光的波长的1/100以上且1/10以下。
[0013]在所述物体检测装置中，也可以是，所述传感光纤的长度为由所述受光部接收的光的波长的10倍以上。
[0014]在所述物体检测装置中，也可以是，所述传感光纤具有弯曲部。
[0015]在所述物体检测装置中，也可以是，所述传感光纤具有多个弯曲部作为所述弯曲部。
[0016]在所述物体检测装置中，也可以是，所述传感光纤的纤芯具有与长度方向交叉的露出端面。
[0017]在所述物体检测装置中，也可以是，所述传感光纤包括多个纳米结构，多个所述纳米结构的与所述传感光纤的长度方向垂直的截面的截面直径分别为100[nm]以下。
[0018]在所述物体检测装置中，也可以是，所述纳米结构为微粒、管或空隙。
[0019]在所述物体检测装置中，也可以是，所述传感光纤是塑料光纤。
[0020]也可以是，所述物体检测装置具备向所述光纤的一端输入试验光的光源，所述受
光部接收从所述光纤的另一端输出的试验光。
[0021]在所述物体检测装置中，也可以是，所述光纤具有所述传感光纤、以及与该传感光纤连接且传输损失比该传感光纤小的传输光纤。
[0022]在所述物体检测装置中，也可以是，所述传输光纤的有效相对折射率差比所述传感光纤的有效相对折射率差大。
[0023]也可以是，所述物体检测装置具备向所述光纤输入试验光的光源，在由所述受光部接收的光的波长中，所述传感光纤为单模光纤，夹设在所述光源与所述传感光纤之间的所述传输光纤为多模光纤。
[0024]在所述物体检测装置中，也可以是，基于由所述受光部接收到的光的强度来检测作用于所述传感光纤的压力。
[0025]另外，本专利技术的物体检测装置例如具备：光纤，其包含从外周被输入光的传感器部；以及受光部，其从所述光纤接收被输入所述传感器部的光，所述物体检测装置基于由所述受光部接收到的光的强度来检测物体。
[0026]在所述物体检测装置中，也可以是，在所述传感器部中，纤芯的外周至少局部地露出。
[0027]在所述物体检测装置中，也可以是，所述光纤具有传输损失比所述传感器部低的区间。
[0028]在所述物体检测装置中，也可以是，所述光纤具有有效相对折射率差比所述传感器部大的区间。
[0029]另外，本专利技术的物体检测装置例如具备：光纤，其纤芯的外周局部地露出；以及受光部，其从所述光纤接收从所述外周被输入的光，所述物体检测装置基于由所述受光部接收到的光的强度来检测物体。
[0030]专利技术效果
[0031]根据本专利技术，例如能够得到改进的新型物体检测装置。
附图说明
[0032]图1是第一实施方式的物体检测装置的例示性概要结构图。
[0033]图2是实施方式的光纤的例示性概要结构图。
[0034]图3是实施方式的传感器部的一部分的沿着长度方向的例示性且示意性剖视图。
[0035]图4是实施方式的传感器部的与长度方向垂直的例示性且示意性剖视图。
[0036]图5是第一实施方式的物体检测装置的传感器部的例示性概要结构图，且是示出不存在作为检测对象的物体的状态的图。
[0037]图6是第一实施方式的物体检测装置的传感器部的例示性概要结构图，且是示出存在作为检测对象的物体的状态的图。
[0038]图7是示出第一实施方式的物体检测装置的受光部的受光强度的经时变化的例示性图表，且是示出从存在针对传感器部的检测对象的状态切换为不存在针对传感器部的检测对象的状态的情况的图表。
[0039]图8是第一实施方式的物体检测装置的传感器部的例示性概要结构图，且是示出作为检测对象的物体存在于比图6远离传感器部的位置的状态的图。
[0040]图9是第二实施方式的物体检测装置的例示性概要结构图。
[0041]图10是第一变形例的光纤的一部分的例示性且示意性剖视图。
[0042]图11是第二变形例的光纤的一部分的例示性且示意性剖视图。
[0043]图12是第三变形例的光纤的一部分的例示性且示意性剖视图。
[0044]图13是第四变形例的光纤的一部分的例示性概要结构图。
[0045]图14是第五变形例的光纤的一部分的例示性且示意性立体图。
具体实施方式
[0046]以下，公开本专利技术的例示性实施方式及变形例。以下所示的实施方式及变形例的结构、以及由该结构带来的作用及结果(效果)是一例。本专利技术也可以通过以下的实施方式及变形例所公开的结构以外的结构来实现。另外，根据本专利技术，能够得到通过结构而得到的各种效果(也包括派生的效果)中的至少一个。
[0047]以下所示的实施方式及变形例具备相同的结构。因此，根据各实施方式及变形例的结构，能够得到基于该相同的结构的相同的作用及效果。另外，以下对这些相同的结构标注相同的附图标记，并且有时省略重复的说明。
[0048]另外，在本说明书中，序号是为了方便区别部件、构件、部位等而标注的，并不表示优先级、顺序。
[0049][第一实施方式][0050]图1是第一实施方式的物体检测装置10A的概要结构图。物体检测装置10A是输出试验光并根据该输出的试验光的受光状态来检测物体的有源型检测装置。
[0051]如图1所示，物体检测装置10A具备光纤11A、光源21、受光部22、以及控制部30。
[0052]光纤11A的长度方向的端部11e1与光源21光学连接，光纤11A的长度方向的端部11e2与受光部2本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种物体检测装置，具备：光纤，其至少局部地包含传感光纤，该传感光纤以0.3[dB/m]以上的损失对光进行传输；以及受光部，其从所述光纤接收由所述传感光纤接收到的光，所述物体检测装置基于由所述受光部接收到的光的强度来检测物体。2.根据权利要求1所述的物体检测装置，其中，所述传感光纤具有外周的至少一部分露出的纤芯。3.根据权利要求2所述的物体检测装置，其中，在所述外周设置有凹凸结构，所述凹凸结构的大小为由所述受光部接收的光的波长的1/100以上且1/10以下。4.根据权利要求1至3中任一项所述的物体检测装置，其中，所述传感光纤的长度为由所述受光部接收的光的波长的10倍以上。5.根据权利要求1至4中任一项所述的物体检测装置，其中，所述传感光纤具有弯曲部。6.根据权利要求5所述的物体检测装置，其中，所述传感光纤具有多个弯曲部作为所述弯曲部。7.根据权利要求1至6中任一项所述的物体检测装置，其中，所述传感光纤的纤芯具有与长度方向交叉的露出端面。8.根据权利要求1至7中任一项所述的物体检测装置，其中，所述传感光纤包括多个纳米结构，多个所述纳米结构的与所述传感光纤的长度方向垂直的截面的截面直径分别为100[nm]以下。9.根据权利要求8所述的物体检测装置，其中，所述纳米结构为微粒、管或空隙。10.根据权利要求1至9中任一项所述的物体检测装置，其中，所述传感光纤为塑料光纤。11.根据权利要求1至10中任一项所述的物体检测装置，其中，所述物体检测装置具备向所述光纤的一端输入试验光的光源，所述受光部接收从所述光...
【专利技术属性】
技术研发人员：藤畑贵史，长谷川英明，伊藤贵和，玉冈弘行，
申请(专利权)人：古河电气工业株式会社，
类型：发明
国别省市：
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