一种测光装置(1)，具备光束分割单元(12)，该光束分割单元(12)将从单个受光光学系统入射的光束(200)分割，向取景器光学系统(14)和测光单元(134)引导。具备受光单元(142)，该受光单元(142)配置于接收被光束分割单元(12)分割给取景器光学系统(14)的光(202,203)的至少一部分的位置，产生与受光结果相应的发光分布分析用的输出。分析用的输出。分析用的输出。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测光装置
[0001]本专利技术涉及测光装置，特别是涉及能够并行地进行发光分布分析用数据获取和测光的测光装置。
技术介绍
[0002]作为发光分布分析之一的使频率同步的方法，以往以来，已知并使用将受光传感器配置于测光系统的方法。
[0003]作为其中之一，在专利文献1中，为了进行时间上不连续的照明光源与拍摄装置的同步，提出了使用阵列检测器的时间源分析法。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：美国专利公开公报2005/0103979号
技术实现思路
[0007]专利技术所要解决的技术问题
[0008]但是，在专利文献1记载的方法中，测光和发光分布分析用数据获取一边切换一边进行，因而两者无法并行进行，存在效率不高的问题。
[0009]本专利技术是鉴于这样的技术背景而做出的，其目的在于提供一种测光装置，能够并行地进行发光分布分析用数据获取和测光。
[0010]用于解决技术问题的技术方案
[0011]上述目的通过以下技术方案来实现。
[0012](1)一种测光装置，具备光束分割单元，该光束分割单元将从单个受光光学系统入射的光束分割，向取景器光学系统和测光单元引导，其特征在于，具备受光单元，该受光单元配置于接收被所述光束分割单元分割给所述取景器光学系统的光的至少一部分的位置，产生与受光结果相应的发光分布分析用的输出。
[0013](2)根据前项1中记载的测光装置，具备半透镜，该半透镜使被所述光束分割单元分割给所述取景器光学系统的光的一部分透射，使其余的光向取景器接目部反射，所述受光单元配置于接收被所述半透镜透射后的光的至少一部分的位置。
[0014](3)根据前项1中记载的测光装置，所述受光单元配置于接收被所述光束分割单元分割给所述取景器光学系统并去往取景器接目部的光的至少一部分的位置，具备挡板，该挡板在所述受光单元的受光时，遮挡来自所述取景器接目部的逆入光。
[0015](4)根据前项3中记载的测光装置，所述受光单元搭载于所述挡板，具备移动单元，该移动单元配合所述测光单元的测光时机，使所述挡板移动到遮挡所述逆入光的位置。
[0016](5)根据前项1中记载的测光装置，具备：导光镜，其能够在反射/遮挡位置与待机位置之间移动，该反射/遮挡位置是将被所述光束分割单元分割给所述取景器光学系统并去往取景器接目部的光的至少一部分反射且遮挡来自所述取景器接目部的逆入光的位置；
移动单元，其在所述受光单元的受光时，使所述导光镜从所述待机位置移动到所述反射/遮挡位置；所述受光单元配置于接收被移动到所述反射/遮挡位置的导光镜反射后的光的至少一部分的位置。
[0017](6)根据前项5中记载的测光装置，所述移动单元配合所述测光单元的测光时机，使所述导光镜移动到所述反射/遮挡位置。
[0018](7)根据前项1中记载的测光装置，具备电子取景器，该电子取景器接收被所述光束分割单元分割给所述取景器光学系统的光，由所述电子取景器构成所述受光单元。
[0019](8)根据前项1至7中任一项记载的测光装置，所述光束分割单元是在中央具有孔隙的孔镜。
[0020](9)根据前项1至8中任一项记载的测光装置，所述测光装置是分光装置。
[0021]专利技术的效果
[0022]根据前项(1)中记载的专利技术，从单个受光光学系统入射的光束被分割而被导向取景器光学系统和测光单元。在接收分割给取景器光学系统的光的至少一部分的位置配置有受光单元，该受光单元产生与受光结果相应的发光分布分析用的输出。
[0023]这样，产生发光分布分析用的输出的受光单元配置于接收分割给取景器光学系统的光的至少一部分的位置，不配置在导向测光单元的光路上，因而，测光和发光分布分析用数据的获取不会相互依赖，因此能够并行地进行两者，能够实现效率提高。
[0024]根据前项(2)中记载的专利技术，具备半透镜，该半透镜使被光束分割单元分割给取景器光学系统的光的一部分透射，将其余的光向取景器接目部引导，受光单元配置于接收由半透镜透射后的光的至少一部分的位置，因而能够切实地实现在接收分割给取景器光学系统的光的至少一部分的位置具备受光单元的构成。
[0025]根据前项(3)中记载的专利技术，受光单元配置于接收分割给取景器光学系统并去往取景器接目部的光的一部分的位置，而且，在受光单元的受光时，来自取景器接目部的逆入光被挡板遮挡。因而，能够可靠地实现在接收分割给取景器光学系统的光的至少一部分的位置具备受光单元的构成，并且能够在受光单元的受光时，利用挡板防止来自取景器接目部的逆入光的不良影响。
[0026]根据前项(4)中记载的专利技术，使搭载有受光单元的挡板配合测光单元的测光定时，移动到遮挡逆入光的位置，因而，能够与测光单元的测光并行地从受光单元获取发光分布分析用的输出。
[0027]根据前项(5)中记载的专利技术，在受光单元的受光时，导光镜从待机位置，向将分割给取景器光学系统并去往取景器接目部的光的至少一部分反射且遮挡来自取景器接目部的逆入光的反射/遮挡位置移动，受光单元接收被导光镜反射的光的至少一部分，因而，能够一边利用导光镜遮挡来自取景器接目部的逆入光而防止其不良影响，一边从受光单元产生发光分布分析用的输出。
[0028]根据前项(6)中记载的专利技术，配合测光单元的测光时机，使导光镜移动到所述反射/遮挡位置，因而能够与测光单元的测光同步地从受光单元获取发光分布分析用的输出。
[0029]根据前项(7)中记载的专利技术，由接收分割给取景器光学系统的光的电子取景器构成了受光单元，因而能够将电子取景器和受光单元兼用，能够简化零件构成。
[0030]根据前项(8)中记载的专利技术，能够利用受光单元接收聚集后的孔隙反射光，因而能
够进行极低辉度下的发光分布分析。
[0031]根据前项(9)中记载的专利技术，能够在分光装置中并行地进行测光和发光分布分析用数据的获取。
附图说明
[0032]图1是本专利技术第一实施方式的测光装置的构成图。
[0033]图2是本专利技术第二实施方式的测光装置的构成图。
[0034]图3是本专利技术第三实施方式的测光装置的构成图。
[0035]图4是本专利技术第四实施方式的测光装置的构成图。
[0036]图5是本专利技术第五实施方式的测光装置的构成图。
具体实施方式
[0037]以下，基于附图，对本专利技术的实施方式进行说明。
[0038]图1是本专利技术第一实施方式的测光装置1的构成图。如图1所示，测光装置1具备：对物透镜11，其使来自被测定物100的光束会聚；孔镜(相当于光束分割单元)12，其配置于对物透镜11的后方(光束200的行进方向的前方)；测定光学系统13；取景器光学系统14。
[0039]孔镜12是具备使通过了对物透镜11后的光束200通过的开口的镜。通过了对物透镜11后的光束200中的、来自被测定物100的测光区域的光束2本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种测光装置，具备光束分割单元，该光束分割单元将从单个受光光学系统入射的光束分割，向取景器光学系统和测光单元引导，其特征在于，具备受光单元，该受光单元配置于接收被所述光束分割单元分割给所述取景器光学系统的光的至少一部分的位置，产生与受光结果相应的发光分布分析用的输出。2.根据权利要求1所述的测光装置，具备半透镜，该半透镜使被所述光束分割单元分割给所述取景器光学系统的光的一部分透射，使其余的光向取景器接目部反射，所述受光单元配置于接收被所述半透镜透射后的光的至少一部分的位置。3.根据权利要求1所述的测光装置，所述受光单元配置于接收被所述光束分割单元分割给所述取景器光学系统并去往取景器接目部的光的至少一部分的位置，具备挡板，该挡板在所述受光单元的受光时，遮挡来自所述取景器接目部的逆入光。4.根据权利要求3所述的测光装置，所述受光单元搭载于所述挡板，具备移动单元，该移动单元配合所述测光单元的测光时机，使所述挡板移动到遮挡所述逆入光的...
【专利技术属性】
技术研发人员：Y，
申请(专利权)人：柯尼卡美能达株式会社，
类型：发明
国别省市：
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