一种火炮光电瞄射轴线及倾角标校方法技术

本发明专利技术涉及一种火炮光电瞄射轴线及倾角标校方法，属于发射装置标校技术领域，解决了现有标校方法存在误差，且无法测量发射筒俯仰角度误差的问题。一种火炮光电瞄射轴线及倾角标校方法，包括以下步骤：步骤1：安装标校装置并收集所需的数据；步骤2：计算发射装置的光电探测装置光轴与发射装置发射筒的俯仰角度偏差及方位角度偏差；步骤3：将俯仰角度偏差和方位角度偏差进行补偿。本发明专利技术的标校方法通过利用全站仪测量校靶镜物镜光心、校靶镜瞄准点、光电摄像头光心及光电瞄准点4个点的坐标，计算出发射筒轴线与光电探测设备光轴误差，从而实现对发射筒俯仰角度和方位角度的标校。实现对发射筒俯仰角度和方位角度的标校。实现对发射筒俯仰角度和方位角度的标校。

【技术实现步骤摘要】
一种火炮光电瞄射轴线及倾角标校方法


[0001]本专利技术涉及发射装置标校
，尤其涉及一种火炮光电瞄射轴线及倾角标校方法。

技术介绍

[0002]为实现弹体(例如，灭火弹)发射装置的精确瞄准，现有部分发射装置安装有光电探测装置和角度测量传感器，但发射装置的发射筒轴线和光电探测装置光轴并非完全平行，此外，发射筒实际倾角与角度测量传感器测量值由于安装或其他因素也会导致存在部分误差，需要对光电探测装置的光轴及角度测量传感器存在的角度测量误差进行标校才能便于发射装置实现精准发射。
[0003]现有的标校方法一般利用光电探测装置进行发射装置的瞄准，未考虑光电探测装置与发射筒轴线本身的误差，使得标校的结果存在误差，且无法测量发射筒俯仰角度误差。

技术实现思路

[0004]鉴于上述的分析，本专利技术实施例旨在提供一种火炮光电瞄射轴线及倾角标校方法，用以解决现有标校方法存在误差，且无法测量发射筒俯仰角度误差的问题。
[0005]本专利技术的目的主要是通过以下技术方案实现的：
[0006]一种火炮光电瞄射轴线及倾角标校方法，包括以下步骤：
[0007]步骤1：安装标校装置并收集所需的数据；
[0008]步骤2：计算发射装置的光电探测装置光轴与发射装置发射筒的俯仰角度偏差及方位角度偏差；
[0009]步骤3：将俯仰角度偏差和方位角度偏差进行补偿。
[0010]进一步地，所述步骤1包括以下步骤：
[0011]步骤1.1：将发射装置停靠在建筑物前，发射装置与建筑物的水平距离不小于30m；
[0012]步骤1.2：安装发射装置光电瞄射轴线及倾角标校装置；
[0013]步骤1.3：调转发射装置，使光电探测装置对准建筑物上的标志点A。
[0014]进一步地，步骤1.2中，标校装置包括标校筒、校靶镜和全站仪，所述标校筒安装在发射筒内且为所述校靶镜提供安装接口，所述全站仪固定在发射装置和建筑物之间。
[0015]进一步地，所述标校筒包括套筒、发射筒安装部和校靶镜安装孔，所述发射筒安装部与所述套筒同心设置，所述校靶镜安装孔为螺纹孔，与所述校靶镜的安装轴配合。
[0016]进一步地，步骤1.2中，首先将所述标校筒插入发射筒，然后将所述校靶镜安装在所述校靶镜安装孔内，最后将所述全站仪固定在发射装置和建筑物之间。
[0017]进一步地，所述步骤1还包括：
[0018]步骤1.4：使用所述全站仪测量光电探测装置光轴中心点的坐标A1(x1,y1,z1)以及光电探测装置光轴中心与建筑物交点的坐标A2(x2,y2,z2)；
[0019]步骤1.5：使用所述全站仪测量所述校靶镜物镜光心的坐标B1(x3,y3,z3)以及所述
校靶镜目镜中心看到的建筑物标志点B的坐标B2(x4,y4,z4)。
[0020]进一步地，所述步骤1还包括：
[0021]步骤1.6：根据测得的坐标，使用所述全站仪计算光电探测装置光轴中心点和建筑物标志点A的水平距离D1、直线距离L1；
[0022]步骤1.7：根据测得的坐标，使用所述全站仪计算所述校靶镜物镜光心与建筑物标志点B的水平距离D2、直线距离L2。
[0023]进一步地，所述步骤2包括以下步骤：
[0024]步骤2.1：使用以下公式求得光电探测装置光轴的实际俯仰角度α1和发射筒的实际俯仰角度α2：
[0025]α1＝arccos(D1/L1)
[0026]α2＝arccos(D2/L2)。
[0027]步骤2.2：使用以下公式计算得到光电探测装置光轴与发射筒俯仰角度偏差：
[0028]Δα＝α2‑
α1[0029]进一步地，所述步骤2还包括以下步骤：
[0030]步骤2.3：使用以下公式计算光电探测装置光轴与发射筒的方位角度偏差：
[0031]Δβ＝arctan((y2‑
y1)/(x2‑
x1))
‑
arctan((y4‑
y3)/(x4‑
x3))。
[0032]进一步地，所述步骤3具体为：利用求得的俯仰角度偏差及方位角度偏差值，获得光电探测设备光轴与发射筒轴线误差值，依此指导发射装置发射。
[0033]与现有技术相比，本专利技术至少可实现如下有益效果之一：
[0034](1)本专利技术的标校方法通过利用全站仪测量校靶镜物镜光心、校靶镜瞄准点、光电摄像头光心及光电瞄准点4个点的坐标，计算出发射筒轴线与光电探测设备光轴误差，从而实现对发射筒俯仰角度和方位角度的标校。
[0035](2)本专利技术的标校方法通过利用象限仪放置于标校筒的基准面上获得发射筒俯仰角度值，将其与安装在发射装置上的角度测量传感器角度值进行对比，获得角度测量传感器误差值，从而实现对角度测量传感器与发射筒俯仰角度偏差的校准。
[0036]本专利技术中，上述各技术方案之间还可以相互组合，以实现更多的优选组合方案。本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分优点可从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过说明书以及附图中所特别指出的内容中来实现和获得。
附图说明
[0037]附图仅用于示出具体实施例的目的，而并不认为是对本专利技术的限制，在整个附图中，相同的参考符号表示相同的部件。
[0038]图1为具体实施例的发射装置光电瞄射及倾角标校方法示意图；
[0039]图2具体实施例的发射装置光电瞄射及倾角标校装置的结构示意图；
[0040]图3为具体实施例的标校筒的结构示意图；
[0041]图4为具体实施例的标校筒的剖视图；
[0042]图5为图4中的A
‑
A剖视图；
[0043]图6为图4中发射筒安装部与棱台段最左端接触时的A
‑
A剖视图；
[0044]图7为图4中套筒的B
‑
B剖视图；
[0045]图8为优选实施例的子部与滑动杆的连接示意图(仅示出一个子部)。
[0046]附图标记：
[0047]100
‑
标校筒；200
‑
校靶镜；300
‑
全站仪；400
‑
象限仪；
[0048]1‑
套筒；11
‑
导向槽；2
‑
发射筒安装部；21
‑
子部；211
‑
第一段；212
‑
第二段；213
‑
第三段；22
‑
弹性连接件；23
‑
刚性连接件；24
‑
滑轨；3
‑
象限仪安装部；4
‑
校靶镜安装孔；5
‑
滑动杆；51
‑
水平段；52
‑
棱台段；53
‑
滑槽；6...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种火炮光电瞄射轴线及倾角标校方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：安装标校装置并收集所需的数据；步骤2：计算发射装置的光电探测装置光轴与发射装置发射筒的俯仰角度偏差及方位角度偏差；步骤3：将俯仰角度偏差和方位角度偏差进行补偿。2.根据权利要求1所述的火炮光电瞄射轴线及倾角标校方法，其特征在于，所述步骤1包括以下步骤：步骤1.1：将发射装置停靠在建筑物前，发射装置与建筑物的水平距离不小于30m；步骤1.2：安装发射装置光电瞄射轴线及倾角标校装置；步骤1.3：调转发射装置，使光电探测装置对准建筑物上的标志点A。3.根据权利要求2所述的火炮光电瞄射轴线及倾角标校方法，其特征在于，步骤1.2中，标校装置包括标校筒(100)、校靶镜(200)和全站仪(300)，所述标校筒(100)安装在发射筒内且为所述校靶镜(200)提供安装接口，所述全站仪(300)固定在发射装置和建筑物之间。4.根据权利要求3所述的火炮光电瞄射轴线及倾角标校方法，其特征在于，所述标校筒(100)包括套筒(1)、发射筒安装部(2)和校靶镜安装孔(4)，所述发射筒安装部(2)与所述套筒(1)同心设置，所述校靶镜安装孔(4)为螺纹孔，与所述校靶镜(200)的安装轴配合。5.根据权利要求4所述的火炮光电瞄射轴线及倾角标校方法，其特征在于，步骤1.2中，首先将所述标校筒(100)插入发射筒，然后将所述校靶镜(200)安装在所述校靶镜安装孔(4)内，最后将所述全站仪(300)固定在发射装置和建筑物之间。6.根据权利要求3所述的火炮光电瞄射轴线及倾角标校方法，其特征在于，所述步骤1还包括：步骤1.4：使用所述全站仪(300)测量光电探测装置光轴中心点的坐标A1(x1,y1,z1)以及光电探测装置光轴中心...

【专利技术属性】
技术研发人员：李继辉，刘海平，邱旭阳，史涛瑜，李胜辉，肖强，林小迪，欧阳铜，石浩楠，张琦，刘帅，
申请(专利权)人：北京机械设备研究所，
类型：发明
国别省市：