【技术实现步骤摘要】
一种电路板导电路径的检验方法及电路系统
[0001]本专利技术涉及测量电变量
，具体涉及一种电路板导电路径的检验方法及电路系统。
技术介绍
[0002]由于导电路径是小家具电路板的重要组成部分，所以导电路径是否导电异常往往影响着电路板的使用，因此对电路板导电路径的检验至关重要。其中，小家具电路板可以是安装在小家具上的电路板。目前，对电路板导电路径进行检验时，通常采用的方式为：通过人工的方式，对电路板导电路径进行检验。
[0003]然而，当采用人工的方式，对电路板导电路径进行检验时，往往是凭借检验者的主观观察对电路板导电路径是否导电异常进行判断，作出的判断结果往往不准确，因此，当采用人工的方式对电路板导电路径进行检验时，往往导致对电路板导电路径进行检验的准确度低下。
技术实现思路
[0004]为了解决对电路板导电路径进行检验的准确度低下的技术问题，本专利技术提出了一种电路板导电路径的检验方法及电路系统。
[0005]第一方面，本专利技术提供了一种电路板导电路径的检验方法，该方法包括：获取目...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电路板导电路径的检验方法，其特征在于，包括以下步骤：获取目标电路板内待检验导电路径上的每个预设测试点对应的测试电参数序列；对每个预设测试点对应的测试电参数序列进行高斯异常分析处理，得到所述预设测试点对应的初步异常指标；对所述待检验导电路径上的各个预设测试点对应的测试电参数序列进行混乱异常分布分析处理，得到所述待检验导电路径对应的路径混乱指标；对每个预设测试点对应的测试电参数序列进行稳定性分析处理，得到所述预设测试点对应的稳定性指标；根据预先获取的正常电参数序列，对每个预设测试点对应的测试电参数序列进行异常偏差分析处理，得到所述预设测试点对应的异常偏差指标；根据每个预设测试点对应的初步异常指标、稳定性指标和异常偏差指标，确定所述预设测试点对应的目标异常指标；根据所述路径混乱指标和所述待检验导电路径上的各个预设测试点对应的目标异常指标，确定所述待检验导电路径对应的路径异常指标；根据所述路径异常指标，判断所述待检验导电路径是否导电异常。2.根据权利要求1所述的一种电路板导电路径的检验方法，其特征在于，所述对每个预设测试点对应的测试电参数序列进行高斯异常分析处理，得到所述预设测试点对应的初步异常指标，包括：根据所述预设测试点对应的测试电参数序列，构建所述预设测试点对应的高斯混合模型，得到所述预设测试点对应的子高斯模型集合；对于子高斯模型集合中的每个子高斯模型，将测试电参数序列中的每个测试电参数与所述子高斯模型均值的差值，确定为第一差值，得到所述子高斯模型对应的一维向量；将每个子高斯模型对应的一维向量的转置与一维向量的乘积，确定为所述子高斯模型对应的第一指标；根据子高斯模型集合中的各个子高斯模型对应的第一指标和方差，确定所述预设测试点对应的初步异常指标。3.根据权利要求2所述的一种电路板导电路径的检验方法，其特征在于，所述根据子高斯模型集合中的各个子高斯模型对应的第一指标和方差，确定所述预设测试点对应的初步异常指标，包括：对每个子高斯模型对应的第一指标进行负相关映射，得到所述子高斯模型对应的第二指标；对每个子高斯模型对应的方差进行负相关映射，得到所述子高斯模型对应的第三指标；将每个子高斯模型对应的第二指标和第三指标的乘积，确定为所述子高斯模型对应的第四指标；将子高斯模型集合中的各个子高斯模型对应的第四指标的累加和，确定为第五指标；对第五指标进行负相关映射，得到所述预设测试点对应的初步异常指标。4.根据权利要求1所述的一种电路板导电路径的检验方法，其特征在于，所述对所述待检验导电路径上的各个预设测试点对应的测试电参数序列进行混乱异常分布分析处理，得
到所述待检验导电路径对应的路径混乱指标，包括：将所述待检验导电路径上的各个预设测试点对应的测试电参数序列中相同位置处的测试电参数，组合为测试电参数组，得到测试电参数组集合；对于所述测试电参数组集合中的每个测试电参数组，基于预设的所述测试电参数组中测试电参数的排序，将所述测试电参数组中每相邻的预设数量个测试电参数，组合为子测试电参数组，得到所述测试电参数组对应的子测试电参数组集合；确定每个测试电参数组对应的子测试电参数组集合中的每种子测试电参数组对应的目标频率；根据每个测试电参数组对应的子测试电参数组集合中的各种子测试电参数组对应的目标频率，确定所述测试电参数组对应的分布混乱熵；将所述测试电参数组集合中的各个...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭友才，李久刚，
申请(专利权)人：广东翰唐智控有限公司，
类型：发明
国别省市：
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