高压二极管制造技术

技术编号:37508557 阅读:38 留言:0更新日期:2023-05-07 09:47
本申请公开一种高压二极管,包括阴极、N型半导体衬底、N型半导体漂移层、第一氧化部、第一P型掺杂部、第二P型掺杂部、第二氧化部以及阳极,N型半导体衬底设置于阴极上,N型半导体漂移层设置于N型半导体衬底远离阴极的一侧,第一氧化部位于N型半导体衬底中并延伸入部分N型半导体漂移层中,第一P型掺杂部设置于N型半导体漂移层中且与第一氧化部连接,第二P型掺杂部设置于N型半导体漂移层远离阴极的一侧,第二氧化部位于第二P型掺杂部中,并延伸入部分N型半导体漂移层中,阳极设置于第二P型掺杂部远离阴极的一侧。在本申请中,通过引入第一P型掺杂部,可以降低电磁干扰EMI噪声产生的风险。风险。风险。

【技术实现步骤摘要】
高压二极管


[0001]本申请涉及半导体
,具体涉及一种高压二极管。

技术介绍

[0002]高压二极管通常用在逆变器中,且是逆变器中不可或缺的部分,其起到电流换向后续流的重要作用,因此,高压二极管的反向恢复速度快慢直接影响到逆变器的最终效率。
[0003]现有的高压二极管通常是基于传统PiN结构获得,并采用重金属掺杂技术控制寿命,但是,该高压二极管在高频率下工作,容易出现较严重的电磁干扰(Electromagnetic Interference,EMI)噪声。

技术实现思路

[0004]鉴于此,本申请提供一种高压二极管,以降低EMI噪声产生的风险的问题。
[0005]本申请提供的一种高压二极管,包括:
[0006]阴极;
[0007]N型半导体衬底,设置于所述阴极上;
[0008]N型半导体漂移层,设置于所述N型半导体衬底远离所述阴极的一侧;
[0009]第一氧化部,位于所述N型半导体衬底中并延伸入部分所述N型半导体漂移层中;
[0010]第一P型掺杂部,设置于所述N本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高压二极管,其特征在于,包括:阴极;N型半导体衬底,设置于所述阴极上;N型半导体漂移层,设置于所述N型半导体衬底远离所述阴极的一侧;第一氧化部,位于所述N型半导体衬底中并延伸入部分所述N型半导体漂移层中;第一P型掺杂部,设置于所述N型半导体漂移层中且与所述第一氧化部连接;第二P型掺杂部,设置于所述N型半导体漂移层远离所述阴极的一侧;第二氧化部,位于所述第二P型掺杂部中,并延伸入部分所述N型半导体漂移层中;以及阳极,设置于所述第二P型掺杂部远离所述阴极的一侧。2.根据权利要求1所述的高压二极管,其特征在于,所述阳极的厚度小于所述第二P型掺杂部的厚度,所述第一P型掺杂部位于所述第一氧化部远离所述阴极的一侧。3.根据权利要求2所述的高压二极管,其特征在于,自一所述第二氧化部到另一所述第二氧化部的方向上,所述第一P型掺杂部的宽度小于所述第一氧化部的宽度,所述第一P型掺杂部为轻掺杂部。4.根据权利要求3所述的高压二极管,其特征在于,所述第一P型掺杂部的掺杂...

【专利技术属性】
技术研发人员:李伟聪伍济
申请(专利权)人:深圳市威兆半导体股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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