熔断器老化状态多因子检测系统及老化状态评估方法技术方案

本发明专利技术涉及一种熔断器老化状态多因子检测系统，它包括，用于与待测熔断器相串联的可调恒流源、用于模拟待测熔断器现场运行工况的可调恒温箱、温度采集装置、用于定期或实时测量待测熔断器在恒温箱内的电阻数据的电阻测量仪、ＰＣ机，所述的ＰＣ机与多通道采集卡的输出端相连接，其实时接收多通道采集卡采集的温度数据并进行熔断器温升特性分析，同时结合电阻测量仪传输的电阻数据对熔断器是否老化进行判断。本发明专利技术熔断器老化状态多因子检测系统可以对采购、库存以及在役的熔断器进行测量，通过该系统，将有效增强熔断器使用的安全性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种熔断器检测装置，尤其涉及用于检测熔断器老化状态的系统及方法。
技术介绍
熔断器是根据电流超过规定值一定时间后，以其自身产生的热量使熔体熔化，从 而使电路断开的原理制成的一种电流保护器。熔断器广泛应用于低压配电系统和控制系统 及用电设备中，作为短路和过电流保护，是应用最普遍的保护器件之一。 而熔断器在使用过程中，由于电流及外界环境的影响，其不可避免的发生老化。熔断器的老化主要包括熔丝的老化以及电极的老化。前者主要机理包括金属电迁移、银离子迁移、焊点熔化、金属蒸发、焊剂的合金效应、助焊剂腐蚀等；后者的老化机理主要是高温与潮湿导致电接触表面氧化，导致接触不良。熔丝老化的熔断器会在熔丝金属上出现局部质量亏损或空洞等现象，从而改变熔断器的保护特性曲线，在随后的运行中极易发生熔断器误动作(指熔断器在未达到最小约定熔断电流的条件下就出现熔断的现象)。 但是熔断器的老化不易直接观察判断，由于应用数量巨大，也不易通过全部检测来判断。作为电路或重要负载的保护元件，一旦发生熔断，很难鉴定是由于电路异常引发的正常熔断还是熔断器老化引起的误动作。这种现象对于某些重要电路或负载，存在重大安全本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种熔断器老化状态多因子检测系统，其特征在于：它包括，可调恒流源（１），用于与待测熔断器相串联，为不同容量等级的待测熔断器提供模拟电流；可调恒温箱（２），内设有用于将待测熔断器安装在其中的测试板，所述的可调恒温箱（２）用于模拟待测熔断器现场运行工况；温度采集装置（３），包括与待测熔断器相接触用于测量熔断器上多点温度的热电偶（３１）、与热电偶（３１）输出端相连接的多通道采集卡（３２）；电阻测量仪（４），其用于定期或实时测量待测熔断器（１０）在恒温箱（２）内的电阻数据；ＰＣ机（５），所述的ＰＣ机（５）与多通道采集卡（３２）的输出端相连接，其实时接收多通道采集卡（３２）采集的温度数据并进行熔断器温升...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：石颉，施海宁，姚建林，金心明，李建文，涂丰盛，
申请(专利权)人：苏州热工研究院有限公司，中国广东核电集团有限公司，
类型：发明
国别省市：32[中国|江苏]