一种自动化测试系统以及自动化测试方法技术方案

本发明专利技术公开了一种自动化测试系统以及自动化测试方法，属于硬件测试技术领域，应用于数字隔离器测试，自动化测试系统包括：设备主体、测量设备和计算机；设备主体包括可编程继电器阵列、主电路板、数字隔离器、隔离器子电路板、微控制器和微控制器子电路板，数字隔离器设置在隔离器子电路板上，微控制器设置在微控制器子电路板上；测量设备、隔离器子电路板和微控制器子电路板均与主电路板电性连接，测量设备与可编程继电器阵列的输入引脚电性连接，隔离器子电路板与可编程继电器阵列的输出引脚电性连接，微控制器子电路板与可编程继电器阵列的控制引脚电性连接；测量设备和微控制器均与计算机电性连接。均与计算机电性连接。均与计算机电性连接。

【技术实现步骤摘要】
一种自动化测试系统以及自动化测试方法


[0001]本专利技术属于硬件测试
，具体涉及一种自动化测试系统以及自动化测试方法。

技术介绍

[0002]传统的实验室数字隔离器测试往往依赖人工操作，测试效率低下。现有的自动化测试技术往往只能实现单个测量设备以及单种连接方式的程序控制，在更换新的测试项目之后需要重新连接测试设备以及重新配置控制程序，无法满足开发过程中的多种测试项目以及多种连接方式的全自动化测试需求。

技术实现思路

[0003]为了解决上述技术问题，本专利技术提供一种自动化测试系统以及自动化测试方法。
[0004]第一方面
[0005]本专利技术提供一种自动化测试系统，应用于数字隔离器测试，所述自动化测试系统包括：设备主体、测量设备和计算机；
[0006]所述设备主体包括可编程继电器阵列、主电路板、数字隔离器、隔离器子电路板、微控制器和微控制器子电路板，所述数字隔离器设置在所述隔离器子电路板上，所述微控制器设置在所述微控制器子电路板上；
[0007]所述测量设备、所述隔离器子电路板和所述微控制器子电路板均与所述主电路板电性连接，所述测量设备与所述可编程继电器阵列的输入引脚电性连接，所述隔离器子电路板与所述可编程继电器阵列的输出引脚电性连接，所述微控制器子电路板与所述可编程继电器阵列的控制引脚电性连接；
[0008]所述测量设备和所述微控制器均与所述计算机电性连接；
[0009]其中，所述计算机用于通过所述微控制器完成对所述可编程继电器阵列的控制，通过所述可编程继电器阵列和所述测量设备完成对所述数字隔离器的测试。
[0010]可选地，所述测量设备包括：热流仪、可编程电源、可编程波形发生器、示波器、数字万用表和可编程电子负载；
[0011]所述热流仪、所述可编程电源、所述可编程波形发生器、所述示波器、所述数字万用表和所述可编程电子负载均与所述主电路板电性连接。
[0012]可选地，所述热流仪包括热流仪罩，所述热流仪罩的内部形成容纳空间，所述隔离器和所述隔离器子电路板设置于所述容纳空间中。
[0013]可选地，所述可编程继电器阵列包括X轴引脚和Y轴引脚，所述可编程继电器阵列的X轴引脚和Y轴引脚中的一者与所述测量设备电性连接，另一者与所述隔离器子电路板电性连接。
[0014]第二方面
[0015]本专利技术提供一种自动化测试方法，应用于第一方面所述的自动化测试系统，所述
自动化测试方法包括：
[0016]获取所述测量设备的设备信息，所述设备信息包括设备名称、设备地址和是否初始化信息；
[0017]在是否初始化信息为需要初始化的情况下，根据所述设备名称和所述设备地址调用相应的设备驱动，对所述测量设备进行初始化；
[0018]获取待测数字隔离器的信息；
[0019]获取环境温度配置信息，所述环境温度配置信息包括I个测试温度；
[0020]获取待测项目配置信息，所述待测项目配置信息包括J个待测项目；
[0021]在所述数字隔离器处于第一个测试温度的情况下，分别测试J个所述待测项目，调节热流仪使得数字隔离器处于第二个测试温度，重复测试J个待测项目，直至将第I个测试温度下的J个待测项目测量完毕。
[0022]可选地，所述待测数字隔离器的信息包括料号、正反向通道数、是否有使能引脚EN1、是否有使能引脚EN2、输出默认值、待测正向通道和待测反向通道。
[0023]可选地，多个所述待测项目包括：最大传输速率，最小传输脉宽，输入输出传播延时，输出信号上升时间/下降时间，输入通道逻辑高/逻辑低电压阈值，输出通道在不同负载下的电压/等效阻抗，静态/动态功耗和供电电压欠压保护阈值。
[0024]可选地，通过所述热流仪配置I个测试温度。
[0025]可选地，测试所述待测项目具体包括：
[0026]配置测量设备，所述测量设备包括通用继电器、示波器；
[0027]配置所述可编程继电器阵列，循环遍历测试通道；
[0028]调节所述待测数字隔离器的原边侧电压VDD1，循环遍历VDD1的各个电压值；
[0029]调节所述待测数字隔离器的副边侧电压VDD2，循环遍历VDD2的各个电压值；
[0030]对所述待测数字隔离器进行测试，获取并记录所述待测数字隔离器的测量结果。
[0031]与现有技术相比，本专利技术至少具有有益效果：
[0032]在本专利技术中，通过自动化测试系统可以自由的配置多个测量设备、数字隔离器的测试通道以及各种测试项目，自动化地完成数字隔离器的多种测试项目。避免依赖人工操作，可以实现多个测量设备以及多种连接方式的程序控制，满足开发过程中的多种测试项目以及多种连接方式的全自动化测试需求，极大地提升测试效率。
附图说明
[0033]下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对本专利技术的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。
[0034]图1是本专利技术提供的一种自动化测试系统的结构示意图；
[0035]图2是本专利技术提供的一种自动化测试方法的流程示意图；
[0036]图3是本专利技术提供的一种待测项目测试方法的流程示意图。
具体实施方式
[0037]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本专利技术的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于
本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。
[0038]为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与专利技术相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。
[0039]还应当进一步理解，在本专利技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0040]在本文中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0041]另外，在本专利技术的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0042]实施例一
[0043]在一个实施例中，参考说明书附图1，本专利技术提供的一种自动化测试系统的结构示意图。
[0044]本专利技术提供的一种自动化测试系统，应用于数字隔离器测试。
[0045]其中，数字隔离器是一种本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动化测试系统，其特征在于，应用于数字隔离器测试，所述自动化测试系统包括：设备主体、测量设备和计算机；所述设备主体包括可编程继电器阵列、主电路板、数字隔离器、隔离器子电路板、微控制器和微控制器子电路板，所述数字隔离器设置在所述隔离器子电路板上，所述微控制器设置在所述微控制器子电路板上；所述测量设备、所述隔离器子电路板和所述微控制器子电路板均与所述主电路板电性连接，所述测量设备与所述可编程继电器阵列的输入引脚电性连接，所述隔离器子电路板与所述可编程继电器阵列的输出引脚电性连接，所述微控制器子电路板与所述可编程继电器阵列的控制引脚电性连接；所述测量设备和所述微控制器均与所述计算机电性连接；其中，所述计算机用于通过所述微控制器完成对所述可编程继电器阵列的控制，通过所述可编程继电器阵列和所述测量设备完成对所述数字隔离器的测试。2.根据权利要求1所述的自动化测试系统，其特征在于，所述测量设备包括：热流仪、可编程电源、可编程波形发生器、示波器、数字万用表和可编程电子负载；所述热流仪、所述可编程电源、所述可编程波形发生器、所述示波器、所述数字万用表和所述可编程电子负载均与所述主电路板电性连接。3.根据权利要求1所述的自动化测试系统，其特征在于，所述热流仪包括热流仪罩，所述热流仪罩的内部形成容纳空间，所述隔离器和所述隔离器子电路板设置于所述容纳空间中。4.根据权利要求1所述的自动化测试系统，其特征在于，所述可编程继电器阵列包括X轴引脚和Y轴引脚，所述可编程继电器阵列的X轴引脚和Y轴引脚中的一者与所述测量设备电性连接，另一者与所述隔离器子电路板电性连接。5.一种自动化测试方法，其特征在于，应用于权利要求1至4所述的自动化测试系统，所述自动化测试方法包括：获取...

【专利技术属性】
技术研发人员：李志清，
申请(专利权)人：荣湃半导体上海有限公司，
类型：发明
国别省市：