内存测试方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本公开提供了一种内存测试方法、装置、设备及存储介质，涉及内存测试技术领域。该方法包括获取多个无交集的内存测试单元；利用多个内核对各个内存测试单元进行测试，得到各个内核对各个内存测试单元的测试时间；根据各个内核对各个内存测试单元的测试时间，为各个内核匹配内存测试单元组，以基于内核与内存测试单元组的匹配关系对内存进行测试，其中，任意两个内核对应的内存测试单元组的测试时间的差值在预设时间范围内，且任意两个内存测试单元组无交集。本公开提供的内存测试方法、装置、设备及存储介质，在无操作系统的情况下，将内存绑定内核，提高测试效率。提高测试效率。提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
内存测试方法、装置、设备及存储介质


[0001]本公开涉及半导体
，尤其涉及一种内存测试方法、内存测试装置、测试设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]DRAM(Dynamic Random Access Memory)，即动态随机存取存储器，又称内存，最为常见的系统内存。DRAM存储器是计算机中重要的部件之一，它是与CPU进行沟通的桥梁。计算机中所有程序的运行都是在内存中进行的，因此内存条的性能对计算机的影响非常大。如何对内存条进行测试，保证内存的正常运行，非常重要。
[0003]然而，目前大部分的内存测试都是在操作系统中进行的，多核计算机运行多进程测试程序进行测试，需要进程调度器在不同进程之间调度。操作系统会占用大部分内容，相应地，会减少可测试内存，降低测试效率。
[0004]需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0005]本公开提供一种内存测试方法、装置、设备及存储介质，至少在一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内存测试方法，其特征在于，包括：获取多个无交集的内存测试单元；利用多个内核对各个内存测试单元进行测试，得到各个内核对所述各个内存测试单元的测试时间；根据所述各个内核对各个内存测试单元的测试时间，为所述各个内核匹配内存测试单元组，以基于所述内核与所述内存测试单元组的匹配关系对所述内存进行测试，其中，任意两个内核对应的内存测试单元组的测试时间的差值在预设时间范围内，且任意两个所述内存测试单元组无交集。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述内核与所述内存测试单元组的匹配关系对所述内存进行测试，包括：根据预设内核线程绑定关系，确定与所述一个内核对应的目标线程；将所述目标线程与所述一个内核绑定，将所述目标线程与所述一个内核对应的内存测试单元组绑定，直至内核与内存测试单元组绑定完毕，开启测试。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述目标线程与所述一个内核对应的内存测试单元组绑定，包括：获取所述一个内核对应的内存测试单元组的测试参数；将所述测试参数输入至所述目标线程，使所述内存测试单元组与所述目标线程绑定。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述根据预设内核线程绑定关系，确定与所述一个内核对应的目标线程之前，所述方法还包括：按照预设绑定规则，构建内核与线程之间的内核线程绑定关系。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述目标线程与所述一个内核绑定，包括：基于统一可扩展固件接口将所述目标线程与所述一个内核绑定。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取多个无交集的内存测试单元，包括：根据内存的颗粒数和CPU的内核数，确定所述内存测试单元数量；根据所述内存测试单元数量，将所述内存划分为多个无交集的内存测试单元，各个所述内存测试单元的容量相同。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用多个内核对各个内存测试单元进行测试，得到各个内核对所述各个内存测试单元的测试时间，包括：将所述各个内核对所述各个内存测试单元的测试时间存储于测试时间矩阵表。8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述各个内核对各个内存测试单元的测试时间，为所述各个内核匹配内存测试单元组，包括：基于内核数将多个内存测试单元划分为多个内存测试单元组；根据所述各个内核对各个内存测试单元的测试时间，计算所述多个内存测试单元组的测试时间；若任意两个内存测试单元的测试时间之间的差值在预设时间范围内，则将所述多个内存测试单元组与所述多个内核匹配，其中，一个内存测试单元组内的内存测试单元属于相同内存颗粒，一个内存测试单元组对应一个内核。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：连军委，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：