芯片时钟的测试方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本申请实施例公开了一种芯片时钟的测试方法、装置、存储介质及电子设备，其中，本申请实施例获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件，根据该时钟寄存器文件生成该待时钟集合的测试代码，并确定待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值，然后根据该测试代码对待测试时钟集合进行仿真测试，得到待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值，根据待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值和预期频率值生成待测试时钟集合的测试结果。通过该方案实现了芯片的时钟的自动化测试，提高了测试效率和测试覆盖度。提高了测试效率和测试覆盖度。提高了测试效率和测试覆盖度。

【技术实现步骤摘要】
芯片时钟的测试方法、装置、存储介质及电子设备


[0001]本申请涉及电子设备
，具体涉及一种芯片时钟的测试方法、装置、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]电子设备如智能手机、平板电脑等，其芯片在切换到不同的用户场景运行时，相关的时钟(clock)的频率会发生相应变化。其中，时钟寄存器是这种变化的控制开关。为了适应多种场景的使用需求，手机芯片的时钟寄存器的数量可以多达数千个，每个时钟寄存器的功能场景通常有十几种。
[0003]在芯片投片生产之前，在芯片测试(Chip Verification，CV)环节，需要确认这些时钟寄存器的功能是否符合预期。由于时钟寄存器的数量和功能场景的数量都非常大，常规的测试方案是，CV工程师根据经验选择少部分的时钟进行人工测试，不仅测试效率低，而且这种测试方式只能覆盖少部分的时钟，导致芯片的时钟不能得到充分验证，使得芯片流片埋下隐患。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种芯片时钟的测试方法、装置、存储介质及电子设备，能够提高电子设备的芯片时钟的测试效率和测试覆盖度。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片时钟的测试方法，其特征在于，包括：获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件；根据所述时钟寄存器文件生成所述待测试时钟集合对应的测试代码，并根据所述时钟寄存器文件确定所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值；根据所述测试代码对所述待测试时钟集合执行仿真测试，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值；根据所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的所述测试频率值和所述预期频率值生成所述待测试时钟集合的测试结果。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测试芯片的待测试时钟集合对应的时钟寄存器文件，包括：将待测试芯片的多个预设模块依次作为待测试模块；对于每一所述待测试模块，将所述待测试模块对应的多个时钟确定为一个待测试时钟集合；从多个预设时钟寄存器文件中获取所述待测试模块对应的时钟寄存器文件，作为所述待测试时钟集合的时钟寄存器文件。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述时钟寄存器文件包括待测试时钟集合中的每一待测试时钟的寄存器描述信息；所述根据所述时钟寄存器文件生成所述待测试时钟集合对应的测试代码，并根据所述时钟寄存器文件确定所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值，包括：按照预设的转换脚本对所述时钟寄存器文件进行转换处理，得到所述待测试时钟集合对应的测试代码；解析所述待测试时钟集合中的每一待测试时钟的寄存器描述信息，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的预期频率值。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试代码对所述待测试时钟集合执行仿真测试，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值，包括：将所述测试代码编译为仿真设备的测试执行文件；调用所述仿真设备，根据所述测试执行文件对所述待测试时钟集合执行仿真测试，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述调用所述仿真设备，根据所述测试执行文件对所述待测试时钟集合执行仿真测试，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的测试频率值，包括：调用所述仿真设备，根据所述测试执行文件对所述待测试时钟集合执行仿真测试，得到所述待测试时钟集合中每一待测试时钟的波形文件；对所述波形文件转换处理，生成值变转储文件...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐辉辉，王大宇，
申请(专利权)人：哲库科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：