用于测试多显示接口的设备及方法技术

本发明专利技术提供用于测试多显示接口的设备及方法。所述设备包括：测试底板，所述测试底板包括接口回环测试硬件电路，所述接口回环测试硬件电路被配置为电耦合至待测主板的第一组显示接口和第二组输入接口以将所述第一组显示接口与所述第二组输入接口形成测试回路，以及将经由所述第一组显示接口输出的显示信号传输至所述第二组输入接口以对所述第一组显示接口进行测试。通过将待测主板上的第一组显示接口及第二输入接口形成测试回路，待测主板上的芯片可以通过输入接口收到的显示数据与显示接口发送的显示数据进行比对判断显示接口是否正常，无需在待测主板上增加其他外设，同时测试简单可以快速筛查到异常的显示通路。时测试简单可以快速筛查到异常的显示通路。时测试简单可以快速筛查到异常的显示通路。

【技术实现步骤摘要】
用于测试多显示接口的设备及方法


[0001]本申请涉及显示接口
，具体涉及用于测试多显示接口的设备及方法。

技术介绍

[0002]现阶段电子产品生产流程，核心主板和底板分开生产时，核心主板的显示接口的功能是否正常需要由测试底板来验证，通常的测试底板做法需要按实际产品需要搭建完整的外设，比如显示模块。然而，要接上产品所有的显示屏，使得产线上测试环境的搭建非常不方便，而且显示结果的正常与否的判定要外加模块去做，还需要跟随待测产品具体功能而调整变化，比如增减显示接口数量和改变分辨率，成本高且较难维护。

技术实现思路

[0003]本申请提供了用于测试多显示接口的设备及方法，解决现有用于测试核心主板的接口是否正常的测试底板需要搭建外设存在的成本较高的问题。
[0004]在第一方面，提供了一种用于测试多显示接口的设备。该设备包括：测试底板，所述测试底板包括接口回环测试硬件电路，所述接口回环测试硬件电路被配置为电耦合至待测主板的第一组显示接口和第二组输入接口以将经由所述第一组显示接口输出的显示信号传输至所述第二组输入接口以对所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试多显示接口的设备，其特征在于，包括：测试底板，所述测试底板包括接口回环测试硬件电路，所述接口回环测试硬件电路被配置为电耦合至待测主板的第一组显示接口和第二组输入接口以将所述第一组显示接口与所述第二组输入接口形成测试回路，以及将经由所述第一组显示接口输出的显示信号传输至所述第二组输入接口以对所述第一组显示接口进行测试。2.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述接口回环测试硬件电路包括第一桥接芯片组群及第二桥接芯片组群，所述第一桥接芯片组群包括至少一个串化器，所述至少一个串化器被配置为将所述第一组显示接口中的至少一个显示接口输出的显示信号分别转换为串行信号，并将所述串行信号传输至所述第二桥接芯片组群；所述第二桥接芯片组群包括至少一个解串器，所述至少一个解串器被配置为将所述至少一个串化器分别发送的所述串行信号分别转换为预定接口信号，并将所述预定接口信号分别传输至所述第二组输入接口中的至少一个输入接口。3.根据权利要求2所述的设备，其特征在于，所述第一组显示接口包括DSI接口、eDP接口、DP接口、LVDS接口、RGB接口和BT1120接口中的至少一种显示接口，并且所述第二组输入接口包括CSI输入接口。4.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述接口回环测试硬件电路包括第一HDMI接口及第二HDMI接口，所述第一HDMI接口电连接于所述第二HDMI接口，所述第一HDMI接口被配置为接收所述第一组显示接口中的HDMI输出接口输出的显示信号，并将所述显示信号传输至所述第二HDMI接口，所述第二HDMI接口被配置为将所述第一HDMI接口发送的所述显示信号传输至所述第二组输入接口中的HDMI输入接口。5.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述测试底板包括顶针网络阵列触点，所述顶针网络阵列触点与所述待测主板的网络阵列封装触点一一对应，所述顶针网络阵列触点用于将所述测试底板上的所述接口回环测试硬件电路与所述待测主板的所述第一组显示接口及所述第二组输入接口电连接。6.根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述测试底板包括卡扣结构，所述卡扣结构用于将所述待测主板固定在所述测试底板上。7.一种用于测试多显示接口的方...

【专利技术属性】
技术研发人员：毛明康，黄国椿，
申请(专利权)人：瑞芯微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：